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利揚(yáng)芯片:將積極在5G通訊、傳感器、存儲(chǔ)器、高算力、AIoT、汽車電子等領(lǐng)域的芯片測(cè)試產(chǎn)能投入

作者: 時(shí)間:2023-07-03 來(lái)源:金融界 收藏

2023年7月3日,(688135.SH)接受投資調(diào)研稱,公司根據(jù)市場(chǎng)情況,主動(dòng)為客戶的未來(lái)產(chǎn)能需要做出的合理預(yù)判,提前布局相應(yīng)的產(chǎn)能,持續(xù)擴(kuò)充測(cè)試產(chǎn)能,產(chǎn)能規(guī)模不斷上升,應(yīng)對(duì)未來(lái)市場(chǎng)需求;公司將積極在5G通訊、傳感器、存儲(chǔ)器、高算力、AIoT、汽車電子等領(lǐng)域的芯片測(cè)試產(chǎn)能投入,并將優(yōu)先選擇全球知名的測(cè)試平臺(tái)。

本文引用地址:http://2s4d.com/article/202307/448225.htm

公司早在2018年獲得與汽車電子相關(guān)的認(rèn)證,目前涉及到的汽車電子芯片有MCU、多媒體主控芯片、傳感器等領(lǐng)域;對(duì)此公司都有一定的測(cè)試技術(shù)儲(chǔ)備,滿足設(shè)計(jì)公司的測(cè)試需求。目前汽車電子對(duì)我們營(yíng)業(yè)收入貢獻(xiàn)較小。汽車電子芯片與傳統(tǒng)的測(cè)試不一樣,除常溫測(cè)試外,還要做高溫、低溫測(cè)試,如有存儲(chǔ)單元的,還要進(jìn)行老化測(cè)試。

公司積極組建高可靠性芯片三溫測(cè)試專線,可適用于各種高可靠性芯片(包括GPU/CPU/AI/FPGA/車用芯片等)的量產(chǎn)化測(cè)試需求,包括ATE測(cè)試、SLT測(cè)試、老煉測(cè)試等,從而滿足其終端應(yīng)用對(duì)于芯片性能的嚴(yán)苛要求,結(jié)合公司自研的MES系統(tǒng),滿足芯片高可靠性的質(zhì)量需求。

隨著國(guó)內(nèi)新能源汽車的普及,車用芯片迎來(lái)國(guó)產(chǎn)替代的歷史機(jī)遇,公司將積極加大高可靠性芯片的三溫(常、低、高)測(cè)試專線投入,并且在智能座艙、輔助、自動(dòng)駕駛等領(lǐng)域的芯片測(cè)試技術(shù)研發(fā)。特別在自動(dòng)駕駛涉及到單光軸多光譜圖像傳感器芯片,采用疊堆式3D封裝測(cè)試,公司將繼續(xù)加大此方面的測(cè)試研發(fā)投入和產(chǎn)能布局。

為了滿足越來(lái)越多高端客戶測(cè)試開(kāi)發(fā)的需要,公司早在2019年之初成立先進(jìn)技術(shù)研究院,主要的研究方向是針對(duì)集成電路行業(yè)先進(jìn)制程、先進(jìn)封裝、先進(jìn)應(yīng)用的芯片產(chǎn)品做前瞻性研究、測(cè)試方案評(píng)估、數(shù)據(jù)模型模擬、測(cè)試程序開(kāi)發(fā)等。Chiplet主要通過(guò)將多個(gè)裸芯(die)進(jìn)行堆疊合封的先進(jìn)封裝,通常使用此類封裝都是較為復(fù)雜的芯片,Chiplet封裝的芯片在設(shè)計(jì)過(guò)程中也需考慮芯片的可測(cè)性,比如邊界掃描(BoundaryScan)測(cè)試才能確保多個(gè)裸芯(die)互聯(lián)的可靠性。Chiplet或許是種趨勢(shì),目前技術(shù)受限制及后摩爾時(shí)代必須尋求某種意義上的技術(shù)突破,其中測(cè)試技術(shù)突破也是一個(gè)很難的問(wèn)題,公司也積極在布局chiplet時(shí)代的測(cè)試難題。如此一來(lái)將對(duì)芯片的測(cè)試提出更高要求,第三方專業(yè)獨(dú)立測(cè)試的優(yōu)勢(shì)將進(jìn)一步突顯。

公司2022年?duì)I業(yè)收入約人民幣4.5億元,同比增長(zhǎng)15.65%;2023年一季度營(yíng)業(yè)收入約人民幣1.05億元,同比下滑4.27%;為滿足國(guó)內(nèi)中高端集成電路測(cè)試市場(chǎng)需求,公司不斷在研發(fā)和產(chǎn)能投入布局,使得2022年和2023年一季度利潤(rùn)端有所影響。

本條資訊由AI生成,內(nèi)容與數(shù)據(jù)僅供參考,不構(gòu)成投資建議。



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