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矽電-泰克晶圓級(jí)探針測試測量聯(lián)合實(shí)驗(yàn)室正式成立

—— 構(gòu)筑國產(chǎn)化合物半導(dǎo)體功率器件測試驗(yàn)證的能力基石
作者: 時(shí)間:2023-06-15 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

科技(中國)有限公司和半導(dǎo)體設(shè)備(深圳)股份有限公司戰(zhàn)略合作發(fā)布會(huì)在深圳創(chuàng)投大廈總部召開,同一時(shí)間,(中國)和半導(dǎo)體宣布測試測量聯(lián)合實(shí)驗(yàn)室正式成立。

本文引用地址:http://2s4d.com/article/202306/447738.htm

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毫無疑問,由于雙碳目標(biāo)及綠色生態(tài)的政策傾向,ESG浪潮來襲,以SiC(碳化硅)和GaN(氮化鎵)為代表的第三代半導(dǎo)體已經(jīng)成為高性能器件廠商的優(yōu)先選擇,功率器件也成為中國半導(dǎo)體市場的新亮點(diǎn)。市場調(diào)研機(jī)構(gòu)Yole最新研究報(bào)告指出,全球功率半導(dǎo)體器件市場將從2020年的175億美元增長至2026年的262億美元,而其中約70%來自汽車市場。

隨之而來的是第三代半導(dǎo)體芯片和功率器件研發(fā)、生產(chǎn)中的測試測量難點(diǎn)和挑戰(zhàn),如高壓放電、大電流測試、高溫性能測試、超薄翹曲晶圓轉(zhuǎn)運(yùn)等難題。

矽電半導(dǎo)體作為國內(nèi)半導(dǎo)體產(chǎn)線批量點(diǎn)測設(shè)備的頭部生產(chǎn)廠家,經(jīng)過20年的技術(shù)累積,掌握了探針測試多項(xiàng)核心關(guān)鍵技術(shù),其產(chǎn)品涵蓋集成電路、光電芯片、分立器件、第三代半導(dǎo)體等領(lǐng)域。(中國)作為國際領(lǐng)先的測試測量解決方案供應(yīng)商,可以提供全流程半導(dǎo)體參數(shù)測試方案。泰克(中國)和矽電半導(dǎo)體的強(qiáng)強(qiáng)聯(lián)手,有助于高效解決業(yè)內(nèi)這些測試難點(diǎn),在晶圓級(jí)測試節(jié)點(diǎn)提供WAT、CP、WLR、KGD等測試,在模塊級(jí)測試節(jié)點(diǎn)提供動(dòng)靜態(tài)參數(shù)測試、封測和可靠性測試,覆蓋了整個(gè)化合物半導(dǎo)體功率器件全制程。

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泰克(中國)和矽電半導(dǎo)體自2015年開展合作以來,在LED Wafer點(diǎn)測市場,取得了突破和進(jìn)展。本次泰克和矽電戰(zhàn)略合作意向書的簽署,將“進(jìn)一步發(fā)展和深化在Wafer Acceptance Test(簡稱WAT)市場的戰(zhàn)略合作,以期進(jìn)一步開拓中國市場,為客戶在WAT測試領(lǐng)域提供整體性解決方案,并為客戶降低成本以提高競爭力”。

與此同時(shí),矽電-泰克聯(lián)合實(shí)驗(yàn)室也宣布正式成立。此聯(lián)合實(shí)驗(yàn)室旨在強(qiáng)化國產(chǎn)化合物半導(dǎo)體功率器件測試驗(yàn)證的能力,進(jìn)一步探究和優(yōu)化基于高精度和高吞吐率下的一過性解決方案。實(shí)驗(yàn)室提供了可用于12寸、8寸晶圓的全自動(dòng)探針臺(tái),具備

●   支持最高3000V/100A的高壓及大電流測試

●   探針系統(tǒng)測試漏電流<100pA@1000V

●   WLR支持實(shí)現(xiàn)TDDB, NBTI, PBTI, HCI 等測試功能

●   支持高溫測試,溫度可達(dá)200°C

●   特殊絕緣設(shè)計(jì)避免擊穿和打火,靜態(tài)測試最高電壓3000V,動(dòng)態(tài)測試最高電壓2000V

●   搬運(yùn)/探針部分與測試部分分離,可擴(kuò)展性強(qiáng)

●   支持鐵環(huán),藍(lán)膜,華夫盒,Tap Reel等進(jìn)出料方式

●   支持多臺(tái)站并行測試



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