Teledyne e2v的四通道ADC為5G NR ATE和現(xiàn)場測試系統(tǒng)的自動校準測試測量帶來重大變革

已安裝的電信設備的自動校準5G NR ATE系統(tǒng)/現(xiàn)場測試

圖8是同時測量多端口DIB/DUT輸入/輸出以完成自動校準測量和原始測試測量流程的簡化框圖。CPS被設置成4通道模式，每個獨立采樣的ADC通道最大支持1.6 Gsps的采樣率。多端口DIB/DUT也可代表已安裝的電信系統(tǒng)的測試/測量點。在4通道模式下，ADC(A, B, C, D)同時測量DIB/DUT或現(xiàn)場測試系統(tǒng)的RF吞吐端口、端口1、端口2和RF輸出端口。這種配置可同時測量每個端口，數(shù)據(jù)可被用作“校準誤差測量值”和/或“原始測試測量值”。最終的測試測量值可通過從原始測試測量值中減去端口校準誤差得出。

此外，EV12AQ605包含一個“多ADC鏈式同步功能”，可為這種多端口測試測量帶來更大的設計靈活性。4個ADC核心的鏈式同步功能（時鐘樹和數(shù)字復位）可自動調(diào)整多個ADC的采樣時序/相位并重對齊，支持實時測量修正。ADC的鏈式同步功能使這一4通道系統(tǒng)可被擴展為8, 12, 16或更多通道的系統(tǒng)。

圖8 簡化框圖：同時多端口自動校準誤差測量和原始測試測量

獨特的帶CPS的四通道ADC(EV12AQ605和EV10AQ190)為5G NR ATE系統(tǒng)和電信設備的現(xiàn)場測試加入自動校準測試和測量的功能

EV12AQ605是一款四通道12位1.6 Gsps的ADC。內(nèi)置的交叉點開關(CPS)可切換多個工作模式，從而交織4個獨立的核心實現(xiàn)更高的采樣率。在4通道工作模式下，4個核心可以1.6 Gsps的采樣率同相位采樣4個獨立的輸入。在2通道工作模式下，核心可兩兩交織，實現(xiàn)每個輸入端3.2 Gsps的采樣率。在1通道模式下，單個輸入連接到交織的4個核心，實現(xiàn)6.4 Gsps的采樣率。這種高度的靈活性使用戶可在3.2 GHz的瞬時帶寬內(nèi)實現(xiàn)RF（和IF）的數(shù)字化。EV12AQ605的擴展輸入帶寬超過6 GHz(EFPBW)，允許C波段(4-8 GHz)的信號直接采樣，無需使用下變頻器將信號轉(zhuǎn)換到基帶。這款ADC包含多個ADC鏈式同步的功能，可用于多通道系統(tǒng)的設計。它的封裝是使用HiTCE玻璃陶瓷材料的非密封型倒裝封裝，可優(yōu)化RF性能，支持較高的管腳密度。

與本文介紹的主題相關的一個重要的性能指標是通道間隔離度或串擾。大的串擾會給ADC增加額外的誤差并影響結(jié)果?？梢酝ㄟ^與其他噪聲源類似的自動校準的流程修正這種誤差。圖10表明，EV12AQ605擁有世界領先的串擾性能，其引入的額外噪聲影響不大。

圖9: EV12AQ605框圖

EV10AQ190是類似的早期的10 bit的ADC版本，也集成了交叉點開關。兩者的性能概述請參考下表：

圖10: EV12AQ605的串擾性能

結(jié)論

隨著5G NR網(wǎng)絡在世界范圍的普及，高頻器件的自動/校準高速測量是一個關鍵的問題。校準、可重復性和測量值的相互關聯(lián)是5G NR ATE和現(xiàn)場測試系統(tǒng)面臨的巨大挑戰(zhàn)。這些問題和總體測試速度以及吞吐量直接關聯(lián)，影響解決方案的效率和性能。Teledyne e2v的四通道多輸入端口ADC使用非并行的片上高頻交叉點開關輸入電路技術，在5G NR ATE和/或現(xiàn)場測試環(huán)境中為器件（單個或多端口）的測試提供自動校準和測量的解決方案。

Marc Stackler,銷售和應用工程師, APAC半導體

Yuki Chan,營銷傳播經(jīng)理, APAC