LED光譜測量的操作技術(shù)解析

引言

今年是發(fā)光二極管（LED）誕生40周年，但只有到5年前白光LED開發(fā)成功后，對LED進行光譜測量才提上日程。迄今，白光LED的法向發(fā)光強度已達10cd以上，光效已超過25lm/W。由于它具有10萬小時的壽命，微秒級的響應(yīng)時間，光效已超過白熾燈；并且體積小，結(jié)構(gòu)牢固。所以繼鹵鎢燈、熒光燈之后，它成為第三代照明光源的趨勢已成為必然。目前白光LED的制造途徑主要有三種：

（1）利用InGaN/GaN蘭光芯片，結(jié)合激發(fā)光為黃光的熒光物質(zhì)YAG復(fù)合成白光；

（2）利用紅、綠、蘭三基色通過各自比例的調(diào)整，復(fù)合成白光；

（3）在ZnSe單晶基板上形成ZnCdSe薄膜，通電后薄膜發(fā)蘭光，它與基板產(chǎn)生連鎖反應(yīng)發(fā)出黃光，復(fù)合成白光。

故各種白光LED離開等能白的色品坐標(biāo)，即WE（0.3333，0.3333）的差距各不相同，從而對應(yīng)的色溫、色純度和顯色指數(shù)等參數(shù)也各不相同，所以對它進行光譜量測量的重要性不言而喻。

準(zhǔn)確測試LED各類光電參數(shù)對改善LED的性能作用頗大，其中光譜量的測試基本上有三種方法，一是把測量光用若干塊不同波長的帶通濾光片過濾后到達光探測器，光探測器一般用光電倍增管和硅光電二極管。二是把測量光經(jīng)衍射光柵分光后到達線陣CCD電荷耦合器件。三是用單色儀分光后進行測量。前面兩種方法主要用于便攜式光譜測試儀對LED進行多參數(shù)一次性快速測量，用同一結(jié)構(gòu)配置的硬件測量多個參數(shù)必然降低測量精度，后一種方法計量部門運用較多，能得到高精度的測量值，但測量時間較長。對單色LED主要測定其峰值波長和半寬度（FWHM），對白色LED主要測定其相對功率分布，從而推導(dǎo)出其色品坐標(biāo)，主波長、色溫、色純度和顯色指數(shù)等參數(shù)，所以是光譜量測量的重點對象。

單色儀使用中的一般技術(shù)

（１）光柵的準(zhǔn)確對焦：目的是使被測光源的光達到光柵時能充滿光柵，以便減小光通過單色儀后的衰減率。光斑太小使出射光的信號減小，光斑尺寸超過光柵又會使這部分光變成雜散光而降低測量精度。所以入射光的配置必須符合所用單色儀的f/D數(shù)，使得與LED匹配的透鏡能使被測光正好臨界地充滿光柵。

（２）狹縫尺寸的設(shè)置：一般使出、入射狹縫等寬度，這時所得信號形狀為等腰三角形，否則將變成梯形甚至更復(fù)雜的形狀。狹縫的寬窄應(yīng)根據(jù)被測光的強弱同步調(diào)節(jié)。狹縫的高度也要相應(yīng)限制，這只能靠在出、入射狹縫前后放置各種寬度的平行光闌達到，因為單色儀一般并沒有調(diào)節(jié)狹縫高低的功能。狹縫尺寸過大會降低光譜量的純度，當(dāng)儀器的最小實際帶寬不大于設(shè)置帶寬的1.2倍時，將得到最小的光譜帶寬。

（３）波長鼓的使用：首先，由于氣溫變化造成波長尺的熱脹冷縮，必須在紫外，可見和紅外波段定期予以校正，校正時常用發(fā)射波長的低壓汞燈、氘燈，見表1和表2所示。

表1 可采用的低壓汞燈的發(fā)射波長 nm

之所以在表中列出紫外和紅外波長是考慮到LED在軍用夜視儀和電器遙控器中的應(yīng)用。其次，變換波長時必須由大到小或由小到大順序進行，不可來回反復(fù)，否則會造成波長示值不準(zhǔn)確。

單色儀使用中易被忽略的問題

（1）狹縫散射函數(shù)：單色儀從本質(zhì)上講，是波長連續(xù)可變的濾波器。根據(jù)濾波理論，一個濾波器的輸出信號是輸入信號和濾波器傳遞函數(shù)兩者的卷積。故濾波器輸出端的信號，一定要去除卷積，即解出卷積方程，才能得到真實信號。因為單色儀的儀器函數(shù)不是一個δ函數(shù)，單色儀出射的量不會具有100%的純度。所以用單色儀測量一個光譜量，若不經(jīng)過狹縫函數(shù)的修正，必然會使光譜形狀發(fā)生畸變，俗稱儀器加寬，具體說就是譜線加寬和分辯率降低。為了簡化狹縫散射函數(shù)的確定，一般情況下應(yīng)把單色儀的入、出射狹縫設(shè)置成等寬度，因這時得到的狹縫函數(shù)形式上最簡單。

（2）光譜分辯率：如上所說，經(jīng)過單色儀分光后的值是單色儀的帶寬和LED實際發(fā)出光譜的卷積。倘若LED的光譜帶寬大于單色儀的光譜分辯率，則被測光譜不會因帶寬引起變化。相反地，一個窄帶的單色LED在通過低光譜分辯率的單色儀時光譜會引發(fā)變化。表3顯示了一個半寬度（FWHM）約20nm的紅色LED通過設(shè)置成不同帶寬的單色儀時其光譜分辯率對測量結(jié)果的影響。

表3 不同單色儀狹縫對一支紅色LED測量的影響

由表可見，隨著狹縫的增大，其輸出波形的帶寬增加，主導(dǎo)波長和質(zhì)心波長順序減小，而輸出波形的半寬度順序增加。所以狹縫的增加會使被測光的單色性變差。由表3還可知，在測量精度范圍內(nèi)當(dāng)質(zhì)心波長幾乎不變的同時峰值波長的半寬度（FWHM）卻有顯著的增加，結(jié)果導(dǎo)致主導(dǎo)波長漂移近1nm。一個數(shù)學(xué)模型以較高的仿真度顯示了LED的光譜寬度與色品坐標(biāo)及主導(dǎo)波長間的關(guān)系。

（3）光學(xué)動態(tài)范圍：它的大小取決于單色儀光學(xué)器件和配套電子儀器的質(zhì)量好壞。大的動態(tài)范圍有助于提高測量精度以及色品三刺激值的純度，表4表示了一支紅光LED在各種動態(tài)范圍下色度測量值的變化。

表4 一支紅色LED動態(tài)范圍變化時的測試結(jié)果

動態(tài)范圍x色坐標(biāo)y色坐標(biāo)主導(dǎo)波長（nm）刺激值純度

10E20.6750.282648.187%

10E2.50.7010.286637.096%

10E3.50.7140.287634.3100%

由表可見，隨著動態(tài)范圍的減小，色品刺激值的純度也顯著減小，主導(dǎo)波長也向長波方向漂移，并且色品坐標(biāo)也減小了。所以對LED進行色度測量時，顏色飽和度是否達到100%是測量精度的一個重要判據(jù)。動態(tài)范圍的減小與引入測量噪聲的大小成正比。此外單色儀與CCD陣列器件的光譜儀相比，由于后者的動態(tài)范圍小，致使測量所得的光譜波峰削減13%之多。

（4）雜散光：在進行光譜測量時，雜散光是影響測量精度的主要原因，即使采取了許多措施，也只能減少雜散光而不能完全排除它，尤其是在可見光譜的短波段，這種影響更加顯著。因為在蘭光區(qū)白光LED的光通量只占10%。再者，由于所測信號和雜散光混在一起構(gòu)成測量信號，所以在400nm波長點，0.5%的雜散光就會引起5%的定標(biāo)誤差，對白光LED而言，由于其發(fā)光光譜與普朗克發(fā)射體的偏差較大，所以更容易產(chǎn)生大的測量誤差，因為測量的計算程序通常只能根據(jù)普朗克黑體或灰體為基礎(chǔ)編制。所以蘭色LED相對窄的波峰相對于熒光物質(zhì)寬的發(fā)射光譜應(yīng)設(shè)計一個合適的權(quán)重，以提高色度坐標(biāo)測量的正確性。表5列出了一支白光LED的測量結(jié)果。

這些值是在一個傳統(tǒng)的單色儀和兩個多通道快速測量光譜儀上做的，后者的光學(xué)動態(tài)范圍較小。由表可見，由于前者的雜散光屏蔽設(shè)置較好，所以，測量結(jié)果的準(zhǔn)確性較高，其誤差程度在0.3%至2%之間；基于色品坐標(biāo)的構(gòu)成特點，y色坐標(biāo)比x色坐標(biāo)的誤差要大1倍。由此還可看出，單就雜散光影響而言，當(dāng)今商品化的多通道快速測量儀的儀器級別比C級還要低1倍以上。

結(jié)束語

白光LED合成的空間輻射的光譜測量必須考慮到多重因素的影響，不準(zhǔn)確的分光測量不但會導(dǎo)致峰值波長及其半寬度的測量誤差，還會導(dǎo)致大的色度測量誤差。所以要求光譜測量儀器的光譜分辯率應(yīng)小于0.5nm，其對雜散光的屏蔽水平應(yīng)小于測量信號值的3個量級。