采用芯片測試的環(huán)路濾波器設(shè)計(jì)

　　由此，我們確定了環(huán)路濾波器中各個(gè)電容、電阻的取值，并設(shè)計(jì)了可用于ADF 4153芯片測試的電路原理圖，如圖4所示。VCO的輸出不僅需要連接外部頻譜儀進(jìn)行測試，還需要通過電容反饋到ADF 4153的REFINA端，同時(shí)REFINA端還需要預(yù)留SMA頭用于射頻輸入頻率范圍及靈敏度測試。一個(gè)簡單的電阻網(wǎng)絡(luò)用于完成VCO輸出信號功率的再分配。

　　圖4環(huán)路濾波器及射頻電路設(shè)計(jì)

　　3 環(huán)路濾波器的測試驗(yàn)證

　　在仿真的基礎(chǔ)上，我們設(shè)計(jì)并加工了ADF4153的測試板，并按照計(jì)算的電容、電阻值組成了環(huán)路濾波網(wǎng)絡(luò)。采用Agilent8257D射頻信號源提供250MHz作為fREFIN,通過SPI端口設(shè)定fPFD=25MHz,N=69,4/5分頻模式，ICP=5mA,FRAC=101,MOD=125.使用頻譜儀測量輸出信號，能夠正常鎖定在1.7452GHz,如圖5所示。圖6為該頻點(diǎn)的相位噪聲測試圖，實(shí)測相位噪聲為-106.34dBc/Hz.環(huán)路帶寬約為85kHz,與理論值77.3kHz存在一定的差距。這是由于在仿真時(shí)并沒有考慮測試板走線及測試插座等存在的寄生電容所導(dǎo)致的偏差，但仍在合理范圍以內(nèi)。

　　圖5輸出信號頻譜

　　圖6相位噪聲測試圖

　　針對芯片進(jìn)行不同工作模式下的相位噪聲及雜散進(jìn)行測試，測試結(jié)果如表2、3所示。

　　數(shù)據(jù)手冊規(guī)定最低的相位噪聲模式下5kHz頻偏的相位噪聲PN≤-95dBc/Hz,實(shí)測該點(diǎn)為-106.04dBc/Hz,測試結(jié)果滿足要求。

　　數(shù)據(jù)手冊規(guī)定中間雜散模式下1MHz頻偏的雜散SN≤-65dBc/Hz,實(shí)測該點(diǎn)為-84.99dBc/Hz,測試結(jié)果滿足要求。

　　綜上所述，該濾波器的設(shè)計(jì)能達(dá)到預(yù)期的設(shè)計(jì)目標(biāo)，滿足不同模式下的雜散及相噪測試的要求，可用于ADF 4153芯片的性能測試。

　　4 結(jié)束語

　　本文主要基于芯片測試目的，針對外圍電路中的環(huán)路濾波器設(shè)計(jì)來進(jìn)行討論，文中給出了一種簡單、易行的工程化計(jì)算方法和流程，并對其進(jìn)行了驗(yàn)證測試，測試結(jié)果滿足芯片測試的需要。這種方法已經(jīng)應(yīng)用于多款小數(shù)分頻頻率合成器的測試電路的設(shè)計(jì)中。