直線斜率是ESD保護的關(guān)鍵

　　隨著電子產(chǎn)品中的電子元件不斷縮小，電路變得越來越靈敏、越來越難以保護，因為這些元件在制造時采用了深亞微米硅處理工藝。瞬態(tài)過壓事件會導致軟故障、潛在故障，甚至災難性故障。靜電放電，即通常所說的ESD事件，就是常見的瞬態(tài)過壓。事實上，現(xiàn)在半導體廠商生產(chǎn)的集成電路通常配有最低水平的ESD保護，只是這種保護水平一般比較低(500V)。而且在用戶手中使用時，所采用的ESD測試模型也與業(yè)內(nèi)所見的迥然不同。

　　作為設(shè)計工程師，需要注意的是，產(chǎn)品在日常使用過程中，會出現(xiàn)較高的ESD威脅。例如，當人們從地毯上走過時，會產(chǎn)生超過15kV的ESD,如果這種程度的ESD被釋放到USB端口，那么芯片內(nèi)的保護電路會嚴重受損，進而損傷保護電路所保護的電路系統(tǒng)，USB會因此而失效，無法使用。

　　所需的敏感電路保護

　　一個典型的例子表明，全球電子制造商與其元件供應商之間合作的密切程度是找到問題解決方法的關(guān)鍵：去年，一家電子消費品、移動通信和家電市場龍頭制造商聯(lián)系力特(Littelfuse)幫助他們解決一個潛在的嚴重問題。他們查明，一個關(guān)鍵的集成電路經(jīng)常遭受通過USB端口的損壞。這個集成電路通過提供WiFi連接使液晶電視變得“智能”.這家公司已對多個不同的器件進行的測試，只能取得最大3.5kV的系統(tǒng)靜電放電抗擾度。其他公司的ESD解決方法都不能滿足其保護要求。在調(diào)查了設(shè)計及了解了目標ESD抗擾度水平后，力特確定，能夠提供一種能滿足其需要的器件。

　　圖1:通用I/O端口靜放電電流路徑。

　　力特在中國無錫設(shè)立的生產(chǎn)和測試中心為該公司確定了合適的解決方案。在進行應用級別的試驗的過程中，力特展示了系統(tǒng)級別性能的動態(tài)電阻的重要性。動態(tài)電阻是抑制器的有效電阻，同時也能抑制ESD脈沖。這是確定器件對ESD脈沖的分流情況有多好的關(guān)鍵因素，對ESD進行分流最終可確定集成電路是否能得到保護。