NFC設(shè)備生產(chǎn)測(cè)試過(guò)程中應(yīng)考慮的因素

圖5：NFC設(shè)備頻率掃描示例

基本連通性

執(zhí)行基本連通性測(cè)試時(shí)需進(jìn)行通信初始化并讓設(shè)備完成NFC協(xié)議棧的初始握手。這能起到系統(tǒng)層功能檢查的作用，它能確保待測(cè)物進(jìn)行正確的接收和發(fā)送(對(duì)其支持的所有NFC標(biāo)準(zhǔn)而言)。它實(shí)質(zhì)上是在檢查集成電路是否在裝配過(guò)程中損壞，針腳焊接是否正確，數(shù)字電路連接是否正確。

在開(kāi)發(fā)測(cè)試過(guò)程中，我們可以降低測(cè)試儀的磁場(chǎng)強(qiáng)度等級(jí)和調(diào)制深度，以確保任何與靈敏度、發(fā)送電平或損耗有關(guān)的缺陷都能被發(fā)現(xiàn)。當(dāng)然，我們也可以在生產(chǎn)測(cè)試中(上述連通性測(cè)試期間)采用同樣的方法。此外，測(cè)試期間也可以對(duì)其他發(fā)射參數(shù)進(jìn)行測(cè)量。詳見(jiàn)下文的發(fā)送參數(shù)和接收靈敏度。

發(fā)送參數(shù)

視待測(cè)物的結(jié)構(gòu)而定，發(fā)射機(jī)射頻參數(shù)的測(cè)試對(duì)發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品缺陷可以起到很好的作用。它們可以提供物理層性能參數(shù)的詳細(xì)信息，如磁場(chǎng)強(qiáng)度、頻率誤差(載波和/或子載波)、調(diào)制質(zhì)量和深度、以及幀延時(shí)。如果待測(cè)物能夠被作為發(fā)起裝置和目標(biāo)裝置來(lái)使用，那么我們需要對(duì)兩種模式進(jìn)行單獨(dú)測(cè)試。

接收靈敏度

此測(cè)試可測(cè)量待測(cè)物能探測(cè)到的最低信號(hào)電平(待測(cè)物隨后會(huì)向發(fā)射端發(fā)送一個(gè)響應(yīng)信號(hào))。隨著待測(cè)物從NFC測(cè)試裝置的距離拉遠(yuǎn)，信號(hào)電平會(huì)隨距離的變化以指數(shù)級(jí)的速度降低。因此，接收靈敏度測(cè)試是直接與待測(cè)物工作范圍相關(guān)的。與測(cè)試耦合距離時(shí)移動(dòng)待測(cè)物位置的方法相反，靈敏度的測(cè)試可通過(guò)降低測(cè)試儀生成磁場(chǎng)的強(qiáng)度或降低調(diào)制深度并同時(shí)監(jiān)測(cè)待測(cè)物的響應(yīng)和記錄測(cè)試儀設(shè)定等級(jí)(可用來(lái)確定待測(cè)物靈敏度等級(jí))的方法進(jìn)行；測(cè)試應(yīng)一直進(jìn)行到測(cè)試儀不再接收到待測(cè)物發(fā)出的響應(yīng)信號(hào)為止。

萊特波特NFC解決方案

萊特波特的NFC解決方案(IQnfc)是一種結(jié)構(gòu)緊湊、堅(jiān)固耐用的測(cè)試系統(tǒng)，并專(zhuān)門(mén)為生產(chǎn)線和實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行過(guò)優(yōu)化。它是一種設(shè)置方便、簡(jiǎn)單易用的系統(tǒng)，只需要一個(gè)按鍵操作便能快速地對(duì)生產(chǎn)線上的待測(cè)物進(jìn)行特性分析；它具有直觀的圖形化用戶界面，用于進(jìn)行詳細(xì)的波形分析；它還有靈活的應(yīng)用程序編程界面，便于用戶定制實(shí)驗(yàn)室測(cè)試流程。IQnfc支持所有主要的NFC標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)量，同時(shí)也支持發(fā)起裝置和目標(biāo)裝置兩種模式的測(cè)量；詳見(jiàn)表2。此測(cè)試儀也全面涵蓋了所有主要的NFC測(cè)量項(xiàng)目；詳見(jiàn)表3。

圖6：萊特波特IQnfc測(cè)試儀

表2：IQnfc標(biāo)準(zhǔn)適用性

表3：IQnfc涵蓋的測(cè)試項(xiàng)目

總結(jié)

萊特波特是連通技術(shù)和蜂窩技術(shù)生產(chǎn)測(cè)試的領(lǐng)導(dǎo)者。我們憑借著創(chuàng)新的、能快速應(yīng)對(duì)新型無(wú)線通信技術(shù)的解決方案保持我們的領(lǐng)導(dǎo)地位。針對(duì)剛出現(xiàn)的NFC設(shè)備，萊特波特已推出IQnfc測(cè)試解決方案，以便隨時(shí)滿足您的生產(chǎn)需求。