飛機(jī)形位誤差檢測(cè)技術(shù)研究
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求下框格位置度誤差, 位置度誤差下框格有基準(zhǔn)的測(cè)量, 如圖6所示。
步驟7：在1#坐標(biāo)系下，以1孔和2孔構(gòu)造線建立X'軸方向，定義1孔X=10、Y=20，此坐標(biāo)系為2#坐標(biāo)系。
步驟8：在2#坐標(biāo)系下，通過觀察每個(gè)極限點(diǎn)的坐標(biāo)值就可以分析出被測(cè)孔之間的偏離狀態(tài)，用每個(gè)極限點(diǎn)的實(shí)際位置與理論位置求距離，該距離的2 倍就是每個(gè)被測(cè)孔之間的位置度誤差。
當(dāng)下框格位置度超差時(shí)，在上框格位置度合格的前提下，可以任意平移或旋轉(zhuǎn)2#坐標(biāo)系，直至下框格位置度達(dá)到最佳狀態(tài)為止。
當(dāng)上框格位置度和下框格位置度檢測(cè)都合格的情況下，該復(fù)合位置度合格，否則該復(fù)合位置度不合格。
其他位置度檢測(cè)技術(shù)研究
常用的其他位置度有同軸度、對(duì)稱度、平行度、垂直度、傾斜度等，利用三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)進(jìn)行數(shù)字化檢測(cè)的原理是將這些抽象的形位誤差測(cè)量，轉(zhuǎn)換為相應(yīng)的點(diǎn)位控制評(píng)定，并根據(jù)其相應(yīng)的位置度算法，計(jì)算得出相應(yīng)的位置度評(píng)定結(jié)果。
如對(duì)對(duì)稱度的測(cè)量：
對(duì)稱度是表示零件上兩中心對(duì)稱要素保持在同平面內(nèi)的狀況。對(duì)稱度公差是被測(cè)要素相對(duì)基準(zhǔn)要素所允許的最大變動(dòng)量。零件上對(duì)稱結(jié)構(gòu)要素很多，如鍵槽的兩側(cè)面，V型槽，連桿滑塊的兩側(cè)面及回轉(zhuǎn)體表面等[5]。
下面舉例說明，在三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)上對(duì)稱度的檢測(cè)。
（1）公差帶:被測(cè)平面的對(duì)稱度公差帶為相對(duì)于基準(zhǔn)中心平面對(duì)稱配置，且距離為公差值0.1mm的兩平行平面之間的區(qū)域，如圖7所示。
步驟1：將被測(cè)零件恰當(dāng)?shù)囟ㄎ辉谌鴺?biāo)測(cè)量機(jī)的工作臺(tái)上（CMM工作面），如圖8所示。
步驟3：對(duì)面的輪廓進(jìn)行測(cè)量，得到實(shí)際點(diǎn)位。
步驟4：根據(jù)公差帶的類型，這些點(diǎn)的Z向公差可以分配為：+0.05/-0.05。
步驟5：通過觀察每個(gè)實(shí)際點(diǎn)位的Z向坐標(biāo)值可以判斷對(duì)稱度是否合格，還可以分析出被測(cè)平面相對(duì)基準(zhǔn)平面的偏離狀態(tài)。
針對(duì)復(fù)合面輪廓度的方法和復(fù)合位置度基本相同，主要是將面輪廓度轉(zhuǎn)換為矢量點(diǎn)的檢測(cè)，針對(duì)基準(zhǔn)的標(biāo)注在測(cè)量坐標(biāo)系建立中的應(yīng)用與復(fù)合位置度相同。
結(jié)論
數(shù)字化的概念在加工制造業(yè)中被廣泛的推廣應(yīng)用，簡(jiǎn)單地利用測(cè)量機(jī)軟件功能進(jìn)行產(chǎn)品檢測(cè)，雖然可以定量得出測(cè)量結(jié)果，但其測(cè)量結(jié)果不便于以后的工藝分析。研究形位公差數(shù)字化檢測(cè), 提出了利用離散點(diǎn)檢測(cè)評(píng)定形位誤差的方法，直觀地反映出實(shí)物整個(gè)形體的質(zhì)量及偏離方向, 不僅便于不合格品的返修, 而且可以促進(jìn)工藝方法的改進(jìn), 具有潛在的經(jīng)濟(jì)效益。
復(fù)雜的形位誤差在國際設(shè)計(jì)理念中已廣泛應(yīng)用，我國最新的設(shè)計(jì)中也在應(yīng)用一些復(fù)雜的形位誤差，但針對(duì)有些復(fù)雜的形位誤差的概念，還沒有很清晰的解釋，例如，復(fù)合面輪廓度，規(guī)定范圍內(nèi)評(píng)定的線輪廓度等，需要我們進(jìn)行研究學(xué)習(xí)，深入了解其概念及評(píng)定方法，從而研究出其相應(yīng)的檢測(cè)方法。
參 考 文 獻(xiàn)
[1] 張學(xué)昌.基于點(diǎn)云數(shù)據(jù)的復(fù)雜型面數(shù)字化檢測(cè)關(guān)鍵技術(shù)研究及其系統(tǒng)開發(fā)[D].上海:上海交通大學(xué)，2006．
[2] Pfeiffer A.Dasta analysis in the grid.era,nuclear symposium conference record,2003IEEE,2003:22-25．
[3] 侯宇，張競(jìng)，崔晨陽.復(fù)雜線輪廓度誤差坐標(biāo)測(cè)量的數(shù)據(jù)處理方法.計(jì)量學(xué)報(bào)，2002(1):1-3．
[4] 張進(jìn)，王仲，李超，等.離散點(diǎn)的線輪廓度評(píng)價(jià)算法.光學(xué)精密工程，2008(11):2281-2285.
[5] 徐先懂，宋述穩(wěn)．形位誤差的數(shù)據(jù)處理.中國測(cè)試技術(shù)，2004(4):1-3．(end)
評(píng)論