直流測(cè)試中，激光二極管或VCSEL模組的關(guān)鍵技術(shù)參數(shù)

在直流測(cè)試中，激光二極管或VCSEL模組的關(guān)鍵技術(shù)參數(shù)如下:
•激光二極管正向壓降
• 拐點(diǎn)測(cè)試/線性度測(cè)試(dL/dI)
• 閾值電流
•背光探測(cè)二極管反向偏置電壓
•背光探測(cè)二極管電流
•背光探測(cè)二極管暗電流
•光輸出功率

通過LIV測(cè)試掃描，可以完成多數(shù)最常見的直流特性測(cè)量。這種快速且廉價(jià)的直流測(cè)試可在測(cè)試過程的早期提早確定失效的組件，隨后昂貴的非直流域測(cè)試系統(tǒng)可以更經(jīng)濟(jì)地對(duì)剩下的高產(chǎn)率元器件進(jìn)行測(cè)試。圖1顯示了LIV測(cè)試掃描的基本儀器配置。

本文引用地址：http://2s4d.com/article/201702/338569.htm
圖1
LIV測(cè)量框圖