最新DDR 信號(hào)分析方法

現(xiàn)在示波器上的DDR 物理層信號(hào)分析方案，都是針對(duì)JEDEC 規(guī)范的一致性

測(cè)試。在這種方案中，分析軟件會(huì)按照J(rèn)EDEC 規(guī)范分析DDR 信號(hào)的各種參數(shù)，

并判斷測(cè)試結(jié)果Pass 或者Fail，最終生成一份報(bào)告。但是很多的研發(fā)工程師，并

不想僅僅獲得一個(gè)Pass 或者Fail 的結(jié)果，而是想對(duì)信號(hào)做調(diào)試分析，但是傳統(tǒng)

的串行信號(hào)分析軟件無(wú)法分析DDR 信號(hào)，為此，力科推出了新的DDR Debug

toolkit。

一，新的DDR 信號(hào)分析方法

力科DDR Debug toolkit 提供了一種簡(jiǎn)單易用的DDR 信號(hào)調(diào)試工具，它快速

的對(duì)數(shù)據(jù)做讀寫(xiě)分離，形成讀寫(xiě)眼圖，對(duì)眼圖進(jìn)行模板測(cè)試和參數(shù)測(cè)試，對(duì)抖動(dòng)

進(jìn)行分解，定位問(wèn)題的根源，對(duì)比較重要DDR 參數(shù)進(jìn)行測(cè)量，像建立時(shí)間、保

持時(shí)間、TDQSCK 等，靈活設(shè)置參數(shù)，對(duì)DDR 信號(hào)問(wèn)題進(jìn)行調(diào)試，可以支持

DDR2/DDR3/DDR4/LPDDR2/LPDDR3 等。

二，眼圖測(cè)量

可以同時(shí)產(chǎn)生和顯示10 個(gè)眼圖，對(duì)5 路DDR 信號(hào)進(jìn)行分析，查看分析眼間

的Skew 和時(shí)間信息，可以選擇DQS 或者Clock 作為時(shí)間參考，自定眼圖模板，

Teledyne Lecroy進(jìn)行眼圖模板測(cè)試。

三，測(cè)量多個(gè)眼圖參數(shù)：

? Eye Height

? Eye Width

? Eye Crossing

? Mask Hits

? Mask Out

? Eye Amplitude

? One Level

? Zero Level

四，抖動(dòng)測(cè)試

像傳統(tǒng)的串行信號(hào)分析一樣，對(duì)DDR 信號(hào)的抖動(dòng)進(jìn)行測(cè)量分析，對(duì)抖動(dòng)進(jìn)行分

解(Tj，Rj，Dj，DCD 等)，從TIE Track、TIE Histogram、Bathbub Curve 觀察分析抖

動(dòng)，更加深入的了解抖動(dòng)的分布和源頭。

五，DDR 參數(shù)測(cè)量

對(duì)比較關(guān)鍵的DDR 參數(shù)進(jìn)行測(cè)量，可以同時(shí)測(cè)量12 個(gè)參數(shù)，包括Max、Min，

Mean 等統(tǒng)計(jì)值。

? Bursts, transitions, Vref

? VH(ac), VH(dc), VL(ac), VL(dc)

? tDS, tDH, tIS, tIH

? tDQSQ, tDQSCK

? Slew Rise, Slew Fall