使JTAG邊界掃描與功能測試相結(jié)合
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ICT是一個隔離測試每個部件或者連接的方法。其使用例如用于簡單模擬部件的保護技術(shù)等技術(shù)。通過針床或者飛針對被測設備表面節(jié)點的訪問，被用來驗證與這些節(jié)點相連的已安裝的部件的正確性。
圖1.使用保護技術(shù)測量電阻
盡管這類測試驗證了每個單一部件的正確性，它卻不能夠驗證一個板卡，當通電時，是否能作為一個整體正常運行。想要做到這點就必須進行功能測試。
盡管新測試方法在繁衍，功能測試依然是認定電子系統(tǒng)和板卡正常運行的支柱。從概念上來講，這類測試非常簡單-它在于檢測一個被測單元是否真正做到它所被設計的那樣。一個針床裝置也被融合進來以提供測試訪問。這個測試方法的中心單獨來講是有些局限的，因為我們只能確認每個系統(tǒng)運行正常，而不是被隔離的單獨部件
圖2,一個典型的功能測試裝置
功能測試的一個特征是它可能需要集成許多儀器到測試平臺上。假設，例如，您需要測試一個被設計用來處理和無線通訊的板卡。為了執(zhí)行功能測試，您需要使用其它與測試裝置有關(guān)的儀器例如電源，數(shù)字和模擬I/O,RF分析儀器（頻譜和矢量分析器，收發(fā)器，等等），與快速采集設備（示波器和數(shù)字轉(zhuǎn)換器）來激發(fā)和讀取單個信號。
或許一個例子最能揭示ICT與功能測試的區(qū)別?？紤]一個串聯(lián)接口的MAX202驅(qū)動（見圖3）。ICT可能與檢查充電泵里電容的值有關(guān)，從而確認每個部件在隔離下運轉(zhuǎn)正常，而功能測試則可能會檢查發(fā)送和接收整個數(shù)據(jù)包。
圖3.MAX232驅(qū)動典型的連接圖
直到最近，ICT才允許在執(zhí)行功能測試之前，容易地驗證所有部件的正確安裝。然而，近來可達到部件密度的增長意味著PCB設計會經(jīng)常不允許布置足夠數(shù)量的測試點。尤其是BGA部件的針腳在被焊接下后，完全不能被ICT訪問。其結(jié)果是ICT性價比越來越差，越來越不可持續(xù)，并且增加產(chǎn)品交貨期。這個問題最有革新的方案是邊界掃描。
JTAG邊界掃描
JTAG邊界掃描是一個電子測試方法，被設計用來克服通常與復雜的、高密度板卡所相關(guān)的測試訪問問題。邊界掃描，按照IEEE 1149.x標準，提供了芯片中一個可以使綜合數(shù)字測試協(xié)議在板卡層面就可適用的的電子線路。
這個線路把用在ICT中的物理探點用邊界掃描單元來替代。它們存在于器件核心邏輯與外部針腳之間，可以在芯片上每個輸入與輸出處捕獲或者驅(qū)入信號。
邊界掃描單元可以在一個物理探頭不能達到的地方提供虛擬探點，例如BGA下的焊點連接。一些細間距引線器件不能用物理探頭可靠地檢測，不過邊界掃描再一次可以為這些針腳提供數(shù)字測試訪問。
在器件的正常運作下，邊界掃描單元如透明一般。它們可以捕獲通過它們的數(shù)值，使可以觀測數(shù)據(jù)流，而不改變通過它們的信號成為可能。當一序列正確的指令 被送到控制針腳(測試模式選擇，TMS)上時，邊界掃描單元還可以通過與它們相連的針腳驅(qū)動出數(shù)值，像一個物理探點或者探針一樣激發(fā)電路。這允許工程師們， 用之前ICT測試同樣的方式，來驗證所有部件適當?shù)幕ミB（軌跡間短路的缺乏與連續(xù)性的驗證），以及這些器件的正確行為。
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