胡為東系列文章之六--小電壓電源噪聲的測量
影響電源噪聲測試結(jié)果的主要因素有:在電源噪聲測試中,通常有如下幾個(gè)問題導(dǎo)致測量不準(zhǔn)確:
l是否需要增加20MHZ的濾波
l示波器的量化誤差
l使用衰減因子大的探頭測量小電壓
l探頭的GND和信號(hào)兩個(gè)探測點(diǎn)的距離過大
1、是否需要增加20MHZ的濾波
過去我們?cè)谶M(jìn)行電源紋波測試過程中,由于電源導(dǎo)致的噪聲頻率通常比較低,因此通常默認(rèn)需要加20MHZ的濾波,目的是濾除高于20MHZ以上的噪聲,來驗(yàn)證主要由于電源因素引起的噪聲大小。但是在實(shí)際情況下,往往還需要驗(yàn)證在所有頻段上電源上的噪聲情況如何,因此我們需要提前弄清楚是否需要增加20MHZ的濾波。如下圖所示為某DDR2/DDR3對(duì)電源紋波的要求:

圖1某DDR2的手冊(cè)對(duì)電源噪聲的要求

圖2某DDR3的手冊(cè)對(duì)電源噪聲的要求
2、量化誤差
示波器存在量化誤差,通常實(shí)時(shí)示波器的ADC為8位,把模擬信號(hào)轉(zhuǎn)化為2的8次方(即256個(gè))量化的級(jí)別,當(dāng)顯示的波形只占屏幕很小一部分時(shí),則增大了量化的間隔,減小了精度,準(zhǔn)確的測量需要調(diào)節(jié)示波器的垂直刻度(必要時(shí)使用可變?cè)鲆妫?,盡量讓波形占滿屏幕,充分利用ADC的垂直動(dòng)態(tài)范圍。在圖3中藍(lán)色波形信號(hào)(C3)的垂直刻度是紅色波形(C2)四分之一,對(duì)兩個(gè)波形的上升沿進(jìn)行放大(F1=ZOOM(C2), F2=ZOOM(C3)),然后對(duì)放大的波形作長余輝顯示,可以看到,右上部分的波形F1有較多的階梯(即量化級(jí)別),而右下部分波形F2的階梯較少(即量化級(jí)別更少)。如果對(duì)C2和C3兩個(gè)波形測量一些垂直或水平參數(shù),可以發(fā)現(xiàn)占滿屏幕的信號(hào)C2的測量參數(shù)統(tǒng)計(jì)值的標(biāo)準(zhǔn)偏差小于后者的。說明了前者測量結(jié)果的一致性和準(zhǔn)確性。
另外為了更加精確的測量小電壓的電源噪聲,可以選擇使用具有更高ADC位數(shù)的示波器,如力科新推出的12位HRO系列的示波器。


3、避免使用衰減因子大的探頭測量小電壓
通常測量電源噪聲,使用有源或者無源探頭,探測某芯片的電源引腳和地引腳,然后示波器設(shè)置為長余輝模式,最后用兩個(gè)水平游標(biāo)來測量電源噪聲的峰峰值。這種方法有一個(gè)問題是,常規(guī)的無源探頭或有源探頭,其衰減因子為10,和示波器連接后,垂直刻度的最小檔位為20mV,在不使用DSP濾波算法時(shí),探頭的本底噪聲峰峰值約為30mV。以DDR2的1.8V供電電壓為例,如果按5%來算,其允許的電源噪聲為90mV,探頭的噪聲已經(jīng)接近待測試信號(hào)的1/3,所以,用10倍衰減的探頭是無法準(zhǔn)確測試1.8V/1.5V等小電壓。在實(shí)際測試1.8V噪聲時(shí),垂直刻度通常為5-10mV/div之間。

如圖4為力科的PP066傳輸線探頭,該探頭的地與信號(hào)的間距可調(diào)節(jié),探頭的地針可彈性收縮,操作起來非常方便。通過同軸電纜加隔直模塊后連接到示波器通道上。
在電源噪聲測試中,還存在示波器通道輸入阻抗選擇的爭議。示波器的通道有DC50/DC1M/AC1M三個(gè)選項(xiàng)可選(對(duì)于高端示波器,可能只有DC50一個(gè)選項(xiàng))。一些工程師認(rèn)為應(yīng)該使用1M歐的輸入阻抗,另一些認(rèn)為50歐的輸入阻抗更合適。

在測試中我們發(fā)現(xiàn):如果使用1倍衰減的探頭測試,當(dāng)示波器通道輸入為1M歐時(shí),通常其測量出的電源噪聲大于50歐輸入阻抗的。原因是:高頻電源噪聲從同軸電纜傳輸?shù)绞静ㄆ魍ǖ篮?,?dāng)示波器輸入阻抗是50歐時(shí),同軸電纜的特性阻抗50歐與通道的完全匹配,沒有反射;而通道輸入阻抗為1M歐時(shí),相當(dāng)于是高阻,根據(jù)傳輸線理論,電源噪聲發(fā)生反射,這樣,導(dǎo)致1M歐輸入阻抗是測試的電源噪聲高于50歐的。所以,測量小電源噪聲推薦使用50歐的輸入阻抗。
評(píng)論