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基于PXI架構(gòu)打造低成本半導(dǎo)體測試系統(tǒng)

作者: 時(shí)間:2017-01-09 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
  在摩爾定律的發(fā)展極限之下,產(chǎn)生更多裝置連結(jié)與資料分析的需求。也由于物聯(lián)網(wǎng)與智慧手機(jī)的發(fā)展,使得類比與RF訊號更顯得重要。未來的訊號,將不再以純類比訊號為主,而是更為復(fù)雜的類比與RF混合訊號,這使得傳統(tǒng)ATE(半導(dǎo)體自動化測試設(shè)備)系統(tǒng)出現(xiàn)了瓶頸。由于混合訊號的測試需求不斷提升,ATE系統(tǒng)面對類比與RF訊號卻顯得力不從心。這使得相關(guān)業(yè)者也必須開始全盤考量新一代的半導(dǎo)體測試設(shè)備。

  不同于傳統(tǒng)ATE的封閉式架構(gòu),STS具有開放式的模組化架構(gòu),可協(xié)助工程師運(yùn)用PXI儀器。

本文引用地址:http://2s4d.com/article/201701/337456.htm

  對此,美商國家儀器提供了更低成本半導(dǎo)體測試系統(tǒng)(Semiconductor Test System;STS),協(xié)助工程師和科學(xué)家克服半導(dǎo)體測試的工程挑戰(zhàn)。這是基于PXI架構(gòu)的自動化測試系統(tǒng),內(nèi)建有半導(dǎo)體生產(chǎn)測試環(huán)境的PXI模組,有助于降低RF和混合式訊號裝置的測試成本。

  相較于傳統(tǒng)的ATE系統(tǒng),STS先期使用者都證實(shí)了STS有助于降低生產(chǎn)成本、提高產(chǎn)能,而且還可以透過相同的硬體和軟體工具,同時(shí)執(zhí)行特性測試與生產(chǎn)作業(yè)。這樣一來即可更快建立資料關(guān)聯(lián)并縮短上市時(shí)間。

  不同于傳統(tǒng)ATE的封閉式架構(gòu),STS具有開放式的模組化架構(gòu),可協(xié)助工程師運(yùn)用PXI儀器。這對RF和混合式訊號測試而言尤其重要,因?yàn)閭鹘y(tǒng)ATE的測試范圍通常無法滿足最新半導(dǎo)體技術(shù)的需求。STS搭載TestStand測試管理軟體、和LabVIEW系統(tǒng)設(shè)計(jì)軟體,針對半導(dǎo)體生產(chǎn)環(huán)境提供了豐富的功能組合,包含可客制化的操作介面、分類機(jī)/針測機(jī)整合、裝置為主的程式設(shè)計(jì)和針腳-通道配置、標(biāo)準(zhǔn)測試資料格式報(bào)表制作、整合式多地點(diǎn)支援等。

  這些功能讓工程師可迅速開發(fā)測試程式、加以除錯并完成布署,縮短整體的上市時(shí)間。此外,STS還配備了全封閉式的“零占用空間”測試頭、標(biāo)準(zhǔn)銜接與連結(jié)機(jī)構(gòu),可立即整合至半導(dǎo)體生產(chǎn)測試單元。

  STS系列提供三種不同的機(jī)型:T1、T2、T4,分別容納了1、2、4個PXI機(jī)箱。這些尺寸選項(xiàng),再加上所有STS機(jī)型通用的軟體、儀控和互連機(jī)構(gòu),可協(xié)助工程師充分滿足不同的針腳和地點(diǎn)數(shù)量需求。此外,便于擴(kuò)充的STS還可以布署至特性測試甚至是生產(chǎn)環(huán)境,藉此優(yōu)化成本效益、大幅簡化建立資料關(guān)聯(lián)的程序,進(jìn)而縮短上市時(shí)間。



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