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關(guān)于高亮度LED測(cè)試基礎(chǔ)知識(shí)加油站 II

作者: 時(shí)間:2016-12-26 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
漏電流測(cè)試
當(dāng)施加一個(gè)低于擊穿電壓的反向電壓時(shí),對(duì)HBLED兩端的漏電流[1](IL)的測(cè)量一般使用中等的電壓值。在生產(chǎn)測(cè)試中,常見(jiàn)的做法是僅確保漏電流不不至于超過(guò)一個(gè)特定的閾值。

提升HBLED的生產(chǎn)測(cè)試的吞吐率
過(guò)去,HBLED的生產(chǎn)測(cè)試的所有環(huán)節(jié)都由單臺(tái)PC來(lái)控制。換而言之,在測(cè)試程序的每個(gè)要素中,必須針對(duì)每次測(cè)試配置信號(hào)源和測(cè)量裝置,并在執(zhí)行預(yù)期的行動(dòng)后,將書(shū)記返回給PC??刂芇C根據(jù)通過(guò)/不通過(guò)的標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行評(píng)估,并決定DUT應(yīng)歸入哪一類(lèi)。PC發(fā)送指令和結(jié)果返回PC的過(guò)程將耗費(fèi)大量的時(shí)間。

最新一代的智能儀器,包括吉時(shí)利公司最新的大功率2651A[2]系統(tǒng)信號(hào)源/測(cè)量?jī)x(SourceMeter),由于可以最大限度減少通信的流量,從而可以大幅度提升測(cè)試吞吐率。測(cè)試程序的主體嵌入到儀器中的一個(gè)Test Script處理器[3](TSP®)中,該處理器是一個(gè)用于控制測(cè)試步驟的測(cè)試程序引擎,內(nèi)置通過(guò)/不通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)、計(jì)算和數(shù)字I/O的控制。一個(gè)TSP可以將用戶(hù)定義的測(cè)試程序存放到存儲(chǔ)器中,并根據(jù)用戶(hù)需要來(lái)執(zhí)行該程序,從而減少了測(cè)試程序中每個(gè)步驟的建立和配置時(shí)間。






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