新聞中心

EEPW首頁 > 測試測量 > 設(shè)計(jì)應(yīng)用 > 脈沖Vds-id 的測試參數(shù)

脈沖Vds-id 的測試參數(shù)

作者: 時(shí)間:2016-12-26 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
漏極電壓Vd,從0至4V進(jìn)行掃描,在每個(gè)Vd掃描之后,門極電壓Vg步進(jìn)到下一個(gè)數(shù)值。傳統(tǒng)的只有直流的Vds-id和通過4200-RBT,偏置T型接頭的直流IV測試之間的主要區(qū)別是SMU的數(shù)量。通過偏置T型接頭進(jìn)行的直流IV測試,使用2個(gè)SMU[2],其源和本體連接到地(SMA的同軸電纜屏蔽層)。
Vds–id-pulse測試如圖7所示。由于脈沖測試是UTMS(用戶測試模塊),所以參數(shù)是通過圖7所示的表格界面來改變的。對于脈沖Vds-id[3],門極電壓不是階梯的,所以將下一個(gè)Vds-id曲線附加到圖上之前,必須輸入每一個(gè)門極電壓。
圖7.脈沖Vds-id UTM definition選項(xiàng)頁

請注意,直流和脈沖測試的參數(shù)都可以很容易的進(jìn)行修改,允許對晶體管行為特性進(jìn)行交互式觀察。下面章節(jié)運(yùn)行Pulse IV測試部分會(huì)涵蓋運(yùn)行Vds-id測試的程序。


關(guān)鍵詞: 脈沖Vds-id測試參

評論


技術(shù)專區(qū)

關(guān)閉