CDMA2000射頻測(cè)試簡(jiǎn)介（一）

下面簡(jiǎn)單介紹一下Conducted spurious emissions when transmitting（處于發(fā)射狀態(tài)的傳導(dǎo)雜散）的測(cè)試。

測(cè)試意圖：在EUT工作的狀態(tài)下，通過(guò)EUT上的天線連接器使用傳導(dǎo)方式連接到測(cè)試系統(tǒng)上，檢測(cè)EUT處于發(fā)射時(shí)的雜散信號(hào)。

測(cè)試搭建簡(jiǎn)圖：

測(cè)試方法：
1）用射頻線按上圖進(jìn)行功分器（POWER SPLITTER）的連接，并使用信號(hào)源和頻譜儀（Spectrum Analyzer）測(cè)量5515C到EUT和EUT到頻譜儀這兩條路徑的損耗，然后記錄損耗值。
2）測(cè)量完損耗后按照簡(jiǎn)圖將EUT與E5515C、頻譜儀連接到功分器，把功分器衰減較大的一端接到頻譜儀上。
3）在E5515C上調(diào)整信道號(hào)和路徑損耗的補(bǔ)償，然后按照下列表格中的參數(shù)設(shè)置E5515C。

4）EUT與E5515C之間建立呼叫連接，然后將E5515C參數(shù)調(diào)到all up bits的功率控制模式，使EUT以最大功率輸出。
5）在頻譜儀上設(shè)置好路徑損耗的補(bǔ)償，然后按照以下表格根據(jù)頻率分段測(cè)試傳導(dǎo)雜散，所測(cè)得的每段頻譜的峰值功率必須低于以下表格標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的限值，并記錄測(cè)得的數(shù)據(jù)。

6）然后按照以下表格重新設(shè)置E5515C的參數(shù)。

7）EUT與E5515C重新建立呼叫連接，把E5515C參數(shù)設(shè)置為0和1交替的功率控制模式。
8）按照以下表格重新設(shè)置頻譜儀，根據(jù)頻率分段測(cè)試傳導(dǎo)雜散，所測(cè)得的每段頻譜的峰值功率必須低于以下表格標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的限值，并記錄測(cè)得的數(shù)據(jù)。

以上是對(duì)CDMA終端傳導(dǎo)雜散測(cè)試的簡(jiǎn)單介紹, 此后我們將分批分期的對(duì)其它涉及CDMA部分的射頻測(cè)試進(jìn)行一一闡述, 敬請(qǐng)關(guān)注。