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開(kāi)放式FPGA增加測(cè)試靈活性

作者：時(shí)間：2016-12-07 來(lái)源：網(wǎng)絡(luò)

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隨著開(kāi)放式FPGA在整個(gè)測(cè)試測(cè)量行業(yè)的日益普及，具有固定功能的儀器將會(huì)逐步被淘汰。相反，儀器的功能將越來(lái)越多地由軟件來(lái)定義，這類似于“應(yīng)用程序”為移動(dòng)設(shè)備行業(yè)帶來(lái)的變革。測(cè)試應(yīng)用程序?qū)⒉辉偈芟抻跍y(cè)試廠商可以開(kāi)發(fā)何種軟件功能，而是受限于硬件和使用該儀器的工程師的想象力。

本文引用地址：http://2s4d.com/article/201612/327588.htm

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