JTAG接口技術及ETM

— DDEN在ARM9TDMI內部測試模式下，是可獲取、可測試的。在ARM9TDMI外部測試模式下低電平表示將獲取數據總線上輸入的數據，高電平表示將要輸出掃描鏈上存儲的數據。

— 在ARM9TDMI進入調試狀態(tài)時，SYSSPEED將輸出。低電平表示微內核現(xiàn)在進入斷點調試，高電平表示微內核進入觀察點調試狀態(tài)。

ETM嵌入式跟蹤宏

基于ARM的具有Embedded ICE和JTAG TAP的系統(tǒng)芯片通過JTAG端口和協(xié)議轉換器與主機相連。這種裝置支持正常的斷點、觀察點以及處理器和系統(tǒng)訪問狀態(tài)。但如果要進行代碼的實時跟蹤就要引入嵌入式跟蹤宏ETM。它提供了ARM處理器系列的指令和數據跟蹤。跟蹤協(xié)議被設計成可嵌入大規(guī)模專用集成電路（ASIC）中的ARM處理器內核提供實時跟蹤能力。由于ASIC通常包含片上cache和其他電路，因此，不可能通過觀察ASIC引腳來決定處理器核的操作，可見跟蹤口是了解處理器操作所必需的。

ETM能捕獲指令和數據序列，訪問并把它們的記錄發(fā)送給芯片上或芯片外的緩沖器，ARM的ETM既可設置成允許觸發(fā)器工作也可設置成允許跟蹤結果被濾出。使用ETM的過濾功能，可以只捕獲特別中斷的或特殊文件的代碼執(zhí)行，即相當于提供了對代碼的壓縮功能。

ETM由如下兩部分組成：

— 跟蹤端口，用于實時執(zhí)行的跟蹤。代碼執(zhí)行時，CPU發(fā)送串行、經過編碼、壓縮的分支目標地址、管線狀態(tài)、讀寫數據給ETM。

— 觸發(fā)裝置，規(guī)范已被開發(fā)。該規(guī)范允許指定特定應用所需的觸發(fā)源的準確集合。資源包括地址和數據比較器、計數器和定序器。

軟件調試器提供與ETM的接口。調試器允許所有的ETM裝置通過JTAG接口來配置。若跟蹤口已實現(xiàn)，那么調試器就可以用容易理解的格式顯示捕獲的跟蹤信息。

ETM壓縮跟蹤信息并通過跟蹤口輸出。外部跟蹤口分析器TPA（trace port analyzer）用于捕獲跟蹤信息。

當跟蹤信息已被捕獲時，調試器從TPA提取壓縮信息，并將其解壓縮以提供執(zhí)行代碼的完整反匯編。調試器還可以將其與原高級代碼連接以提供代碼如何在目標系統(tǒng)執(zhí)行的信息。

在實際的調試系統(tǒng)中ETM用于實時指令追蹤以控制寄存器、總線和存儲器。觸發(fā)點和過濾功能由調試軟件配置并通過標準JTAG接口傳輸到ETM上。利用已有可編程的跟蹤器，追蹤端口可配置為4位、8位或16位數據總線寬度。同時在仿真時外設和中斷程序依然能夠繼續(xù)運行。

ETM7和ETM9的結構和工作原理基本相同。如它們的跟蹤保護（trace protocol）和TPA是相同的。