基于單片機(jī)的天線測試參數(shù)數(shù)據(jù)采集與處理系統(tǒng)研究

對于通信、雷達(dá)、導(dǎo)航、廣播等無線電發(fā)射和接收系統(tǒng)而言，天線是不可或缺的重要裝置，而天線測試的任務(wù)就是用實驗的方法獲得表征天線性能的實際參數(shù)指標(biāo)。本文采用了旋轉(zhuǎn)測試天線方向圖的規(guī)則，在此基礎(chǔ)上引入了電子技術(shù)、微控制技術(shù)，硬件上采用單片機(jī)作為整個系統(tǒng)的控制核心;設(shè)計了信號采集與數(shù)字化處理電路用來記錄天線幅度信號;經(jīng)驅(qū)動電路控制天線轉(zhuǎn)臺并配合定時器以產(chǎn)生可變的、精確的轉(zhuǎn)動角度;經(jīng)過串口準(zhǔn)確無誤的將測量數(shù)據(jù)傳送給上位機(jī)。最后，通過調(diào)整采樣頻率，分析在不同精度的情況下天線方向圖的變化。

1 天線參數(shù)測試?yán)碚撆c方法

1.1 天線參數(shù)測試原理

根據(jù)天線互易定理，即發(fā)信天線可以用作收信天線，收信天線也可以用作發(fā)信天線，并且用作發(fā)信天線時的參數(shù)與用作收信天線時的參數(shù)保持不變。把固定的輻射天線作為發(fā)射天線，被測天線作為接收天線，由固定的發(fā)射天線輻射電磁波，轉(zhuǎn)臺帶動接收天線進(jìn)行接收，測出不同角度的信號強弱，便可得到被測天線的方向圖。

1.2 天線參數(shù)測試方法

早期人們通過手工的方式進(jìn)行天線的測試，需要依靠人工讀取天線幅度信號與角度并進(jìn)行手工的繪制，測試平臺難以構(gòu)建、測試過程極為繁瑣、工作量大，并且測量得到的數(shù)據(jù)精度較低、誤差大。隨著微電子技術(shù)和計算機(jī)技術(shù)的快速發(fā)展，通信設(shè)備也正朝著小型化方向發(fā)展。目前實驗室在用的天線中，小型天線占領(lǐng)很大的比例，因此最大程度地利用實驗室現(xiàn)有設(shè)備，構(gòu)建小型化的天線方向圖自動測試系統(tǒng)，該系統(tǒng)為小型天線的實驗室測試提供了有效的手段，具有較高的實用價值。該系統(tǒng)實驗室配置原理框圖如圖1所示。

2 天線參數(shù)自動測試硬件實現(xiàn)

基于圖1所示天線參數(shù)自動測試系統(tǒng)原理框圖，針對小型天線工程實驗室測試的實際需求和實驗室現(xiàn)有設(shè)備，對系統(tǒng)各模塊進(jìn)行合適的選型，整個系統(tǒng)的工作流程如下：

1)匹配信號源產(chǎn)生連續(xù)微波射頻信號，并經(jīng)固定不動的輔助發(fā)射天線向空間輻射電磁波。

2)控制電路控制負(fù)載被測天線的轉(zhuǎn)臺連續(xù)轉(zhuǎn)動，并接收信號源通過發(fā)射天線發(fā)射的電磁波。

3)接收信號送天線幅度采集電路，經(jīng)變換放大及A/D轉(zhuǎn)換后送給數(shù)據(jù)處理電路。

4)得到測試范圍內(nèi)每一位置的幅度信號電平，根據(jù)這組數(shù)據(jù)，經(jīng)處理單元處理，由輸出裝置發(fā)送給PC做進(jìn)一步的數(shù)據(jù)處理。

2.1 單片機(jī)控制的自動測試電路

本設(shè)計采用美國德州儀器公司(TI)推出的MSP4301F149微處理器，其集成了16位RISC結(jié)構(gòu)CPU，外設(shè)和靈活的時鐘系統(tǒng)，通過將許多外設(shè)集成至MSP430內(nèi)部并與高性能的CPU通力合作，MSP430可為混合信號處理應(yīng)用提供完善的解決方案。與其他單片機(jī)相比MSP430F149大大縮小了產(chǎn)品的體積與成本，并且采用多種低功耗節(jié)能工作模式。系統(tǒng)硬件結(jié)構(gòu)如圖2所示。

在本系統(tǒng)中單片機(jī)的主要作用是：

1)單片機(jī)P1口控制轉(zhuǎn)臺按要求轉(zhuǎn)動(正轉(zhuǎn)，反轉(zhuǎn)，停止);

2)單片機(jī)P2口作為轉(zhuǎn)臺中斷信號的輸入;

3)單片機(jī)P3口用作和PC機(jī)進(jìn)行通訊;

4)單片機(jī)P6口對天線信號進(jìn)行采集。

2.2 信號定時采集及數(shù)字化處理電路

信號采集電路主要由檢波器、電流/電壓轉(zhuǎn)換器、直流放大器組成。考慮到測試信號的幅度較小，采用二極管進(jìn)行小信號檢波，從檢波器輸出的反映輔助天線輻射功率密度直流信號，通常在微安數(shù)量級，很難直接采集，必須經(jīng)電流/電壓轉(zhuǎn)換后再經(jīng)過直流放大器進(jìn)行放大，以滿足A/D轉(zhuǎn)換的需要。本測試系統(tǒng)選用了具有低失調(diào)電壓、低失調(diào)電流和低溫漂的運放0P—07構(gòu)成兩級直流放大器，以滿足A/D轉(zhuǎn)換量程的需要。在天線測試過程中，同軸電纜線作為信號輸入通道，其受到擠壓或教育轉(zhuǎn)換器之間的接口的松動都會影響到測試結(jié)果的準(zhǔn)確性，因此系統(tǒng)中要盡量選擇性能好的電纜線。信號采集電路如圖3所示。

MSP430F149內(nèi)置有高速的12位模數(shù)轉(zhuǎn)換模塊ADC12，因此不必再外接AD轉(zhuǎn)換芯片即可實現(xiàn)對模擬量的數(shù)字化處理。由于AD模塊和微控制器都集中在一塊芯片上，所以大大減輕了設(shè)計負(fù)擔(dān)，降低了產(chǎn)品成本，靈活方便，使結(jié)構(gòu)更加緊湊，系統(tǒng)更加穩(wěn)定，提高儀器的可靠性。

3 天線測試軟件實現(xiàn)

結(jié)合硬件電路設(shè)計的各個模塊，通過相應(yīng)的軟件設(shè)計對各外圍模塊進(jìn)行有效的管理以降低其及CPU的功耗，并利用軟件代替測試設(shè)備中的某些硬件功能，以提高其精度，完成整個測試功能。系統(tǒng)軟件測試流程圖如圖4所示。

3.1 定時系統(tǒng)設(shè)計

測試天線參數(shù)之前，必須首先測量天線的實際轉(zhuǎn)速，即使用公式：V=S/T，計算轉(zhuǎn)臺的實際轉(zhuǎn)速，其中S為天線轉(zhuǎn)臺轉(zhuǎn)動的角度，T為轉(zhuǎn)動角度所用的時間。因為本次試驗采用的裝置在天線轉(zhuǎn)臺上加載了限位開關(guān)，經(jīng)過實際測量，水平面內(nèi)轉(zhuǎn)臺限位之間轉(zhuǎn)動的角度為355度。

測試過程通過裝載不同的負(fù)載，利用MSP430單片機(jī)內(nèi)置的定時器模塊設(shè)置一定的時間，以零點位置為轉(zhuǎn)動的起始點，并在轉(zhuǎn)動過程中由軟件進(jìn)行計數(shù)，以計數(shù)值和定時時間得到轉(zhuǎn)動的時間。具體測試如表1所示。

經(jīng)測試可知，在額定的負(fù)載范圍內(nèi)，轉(zhuǎn)速不因負(fù)載不同，或者相同負(fù)載而受力均勻有所影響，具體速度計算如下：

V=S/T=355°/(60±1)≈5.9°/s (1)

當(dāng)定時時間為1 s時，定時器設(shè)置如下：

TACTL=TASSEL0+TACLR; //ACLK輔助時鐘

CCR0=32768; //采樣60個點，定時時間為1 s

CCTL0=CCIE; //允許定時器中斷

TACTL=MC0; //增計數(shù)

3.2 串行通信設(shè)計

串行通訊是計算機(jī)與其他裝置進(jìn)行數(shù)據(jù)通訊是最常使用的方法，它具有實現(xiàn)簡單，使用方便，數(shù)據(jù)傳輸穩(wěn)定可靠的優(yōu)點，因而在數(shù)據(jù)采集，遠(yuǎn)程遙控，實時監(jiān)測等方面有廣泛的應(yīng)用。在本系統(tǒng)中，采集的天線測試參數(shù)與上位機(jī)的通訊也是通過串口來實現(xiàn)的。MSP430F149單片機(jī)內(nèi)置了USART模塊，與傳統(tǒng)的串行通信相比，它可以用低時鐘頻率實現(xiàn)高速通信。內(nèi)部含有兩個串行通信模塊：串口0(USART0)和串口1(USART1)，模塊在發(fā)送和接收每一個字節(jié)的同時都可以觸發(fā)中斷，從而是單片機(jī)退出低功耗模式，發(fā)送和接收是由兩個獨立的中斷寄存器來控制的。

該串口的比特率設(shè)置頁非常方便，可以通過比特率寄存器UBR0和UBR1粗略地調(diào)整波特率，再通過波特率調(diào)整寄存器UMCTL0進(jìn)一步地細(xì)調(diào)波特率。通過串口控制寄存器UCTL0設(shè)置串行通信模式，通過串口發(fā)送控制寄存器UTCTLD設(shè)置產(chǎn)生波特率所需的時鐘。串口通訊初始化程序如下：

ME1 |=URXE0+UTXE0： //使能USART0的發(fā)送和接收

UCTL0 |=CHAR; //8位數(shù)據(jù)位

UTCTL0 |=SSEL1; //UCLK=SMCLK

UBR00=0x41; //32k/9600—3.41

UBR10=0x03;

UMCTL0=0x00;

4 實驗測試及結(jié)果分析

為了保證測試的準(zhǔn)確性，需選擇合適的測試環(huán)境和最小測試距離。選用實驗室設(shè)備小型喇叭天線，選取水平面作為測試對象。對于小型喇叭天線而言，可以選擇室內(nèi)封閉場作為測試的場地，排除相關(guān)反射體，盡量營造一個純凈的電磁環(huán)境。根據(jù)天線的結(jié)構(gòu)形式確定收、發(fā)天線之間的最小間距以及其具有相同的極化方式。調(diào)整轉(zhuǎn)臺，使得收、發(fā)天線處于同一水平位置并對準(zhǔn)其最大輻射方向。另使轉(zhuǎn)臺限位背對輔助天線口面，即自動測試時以限位位置為測試起點和終點，使得方向圖主瓣位于方向圖的中點位置，圖形顯示更為直觀。

采樣完畢后，單片機(jī)把數(shù)據(jù)發(fā)送給PC機(jī)，將數(shù)據(jù)作歸一化處理，轉(zhuǎn)化成天線的功率方向圖，用Matlab繪圖后得到圖5。系統(tǒng)測試過程中，需要對采樣個數(shù)進(jìn)行濾波處理，圖5中的四幅圖都是采用32位濾波平均，不同的是采樣點數(shù)分別為60、120、240、360個。從四幅圖的比較可以看出，采樣點數(shù)越多，方向圖越不平滑，這是因為當(dāng)采樣點個數(shù)達(dá)到36 0時且作32位平均時，單片機(jī)每秒鐘需要采集1 920個數(shù)據(jù)，這時會造成相當(dāng)大的干擾。本系統(tǒng)中天線的口徑為65 mm，理論半功率角為65°，綜合平滑性和半功率角理論分析得知，圖5(b)是最接近理想的天線方向圖。此外，方向圖曲線高度的重復(fù)性也反映了天線轉(zhuǎn)臺的精度較高，系統(tǒng)的綜合性完全能達(dá)到預(yù)期的目標(biāo)。

5 結(jié)論

根據(jù)天線參數(shù)測試的相關(guān)理論研究方法，本文構(gòu)建了以MSP430F149單片機(jī)為核心的天線測試參數(shù)的數(shù)據(jù)采集與處理系統(tǒng)，該系統(tǒng)通過驅(qū)動負(fù)載待測天線的轉(zhuǎn)臺轉(zhuǎn)動，實現(xiàn)不同角度的參數(shù)信號的采集、轉(zhuǎn)換和錄取，將采集的數(shù)據(jù)發(fā)送給上位機(jī)進(jìn)行保存或者進(jìn)一步的處理，通過大量的實驗數(shù)據(jù)分析出最接近理論值的天線方向圖，整個系統(tǒng)不僅達(dá)到了預(yù)期的測試目標(biāo)，同時兼顧了體積、成本與功耗，符合實驗室測試的要求。