LTE終端測(cè)試簡(jiǎn)述

由于LTE是CDMA2000網(wǎng)絡(luò)運(yùn)營(yíng)商(如Verizon Wireless)的下一代技術(shù)選擇，所以與3GPP2 CDMA2000高費(fèi)率分組數(shù)據(jù)業(yè)務(wù)的互通是一個(gè)明確要求。在LTE無(wú)線網(wǎng)絡(luò)接口處合并3GPP和3GPP2網(wǎng)絡(luò)拓?fù)涫且粋€(gè)有意義的進(jìn)展，這需要進(jìn)行周密的測(cè)試，以確保其運(yùn)行達(dá)到預(yù)期目標(biāo)。

　　對(duì)網(wǎng)絡(luò)運(yùn)營(yíng)商來(lái)說(shuō)，維持同時(shí)使用IP網(wǎng)絡(luò)和傳統(tǒng)電路交換網(wǎng)絡(luò)的語(yǔ)音業(yè)務(wù)將會(huì)是一大挑戰(zhàn)。主流網(wǎng)絡(luò)運(yùn)營(yíng)商在2010年移動(dòng)通信世界大會(huì)(Mobile World Congress 2010)上宣布的有關(guān)VoLTE(語(yǔ)音LTE)標(biāo)準(zhǔn)化的協(xié)議，將在很大程度上解決這個(gè)問(wèn)題。但是，使用3GPP的IMS(IP多媒體子系統(tǒng))技術(shù)仍然需要進(jìn)行大規(guī)模部署。

　　測(cè)試挑戰(zhàn)和需求

　　滿足LTE終端設(shè)備的嚴(yán)格要求的關(guān)鍵在于將設(shè)計(jì)分成子系統(tǒng)，并制定一個(gè)允許在測(cè)試完整終端之前對(duì)每個(gè)設(shè)計(jì)部分進(jìn)行徹底檢驗(yàn)的測(cè)試計(jì)劃。如果不采用這種模塊化方案，則問(wèn)題的診斷可能拖到項(xiàng)目的最后階段，以致難以管理最終發(fā)布階段，包括現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)及一致性測(cè)試。

　　無(wú)論終端設(shè)計(jì)是從頭開始、基于較早前的設(shè)計(jì)還是使用第三方集成組件，都需進(jìn)行多項(xiàng)關(guān)鍵性能測(cè)量。其中一些測(cè)量(如最大輸出功率、功率控制和接收機(jī)靈敏度)是早前技術(shù)已經(jīng)熟悉的，但由于所用的傳輸方式(下行鏈路中為OFDMA，上行鏈路中為SC-FDMA)不同，所以需要新的測(cè)量設(shè)備來(lái)支持這些測(cè)試。

　　其它一些測(cè)量是LTE特有的。例如，對(duì)于OFDMA傳輸方式，子載波誤差向量幅度(EVM)變成調(diào)制器性能的一項(xiàng)重要測(cè)試。隨著700MHz模擬TV頻譜的可供使用，LTE將以低于GSM或WCDMA的頻率來(lái)部署，從而得到大很多的帶寬：20MHz/700MHz=2.8%。相比之下，對(duì)于典型的WCDMA終端為：5MHz/2100MHz=0.24%。這會(huì)對(duì)一些調(diào)制器架構(gòu)帶來(lái)挑戰(zhàn)，因?yàn)樗鼤?huì)導(dǎo)致小區(qū)邊緣處的EVM值較高，所以在設(shè)計(jì)階段要特別注意這一點(diǎn)。

　　由于一些測(cè)試(如功率控制)的動(dòng)態(tài)性質(zhì)，所以需要使用信令協(xié)議來(lái)建立測(cè)量條件。這就要求測(cè)試設(shè)備必須包括協(xié)議棧和模擬演進(jìn)型節(jié)點(diǎn)B(eNB)基站。由于這些測(cè)量通常是由RF工程師而不是協(xié)議專家來(lái)執(zhí)行的，所以所用的測(cè)試設(shè)備必須易于配置，使工程師能夠?qū)⒕杏跍y(cè)量本身。

　　協(xié)議測(cè)試

　　協(xié)議棧開發(fā)者面臨的主要挑戰(zhàn)之一是確保狀態(tài)變化響應(yīng)要求得到滿足。雖然LTE規(guī)范已經(jīng)將終端設(shè)備的可能狀態(tài)數(shù)量減少到RRC_IDLE和RRC_CONNECTED，但是在需要發(fā)送數(shù)據(jù)時(shí)，從一種狀態(tài)變?yōu)榱硪环N狀態(tài)所需的時(shí)間將構(gòu)成時(shí)延預(yù)算的一大部分。

　　在RRC_IDLE模式下，終端設(shè)備盡可能將自身處于低功耗狀態(tài)，以確保出色的電池壽命，接收機(jī)被周期性地激活以檢查尋呼消息。當(dāng)數(shù)據(jù)傳輸時(shí)間預(yù)定后，終端必須處于喚醒狀態(tài)并快速同步其上行鏈路。

　　在協(xié)議測(cè)試過(guò)程中，用于生成測(cè)試用例的工作量常常與創(chuàng)建協(xié)議棧的工作量一樣多，所以擁有全面而高效的測(cè)試設(shè)施很重要。為能夠細(xì)分測(cè)試，重要的是能夠測(cè)量用戶平面和控制平面中的每個(gè)子層。協(xié)議測(cè)試診斷功能在查找故障時(shí)很重要。通常，這包括帶時(shí)間戳的消息日志記錄和解碼。但重要的是這也可以用于每個(gè)子層，以提供跟蹤信令消息流程細(xì)節(jié)的功能(從MAC PDU直到RRC消息)，從而確保定時(shí)要求得到滿足。

　　要想能夠?yàn)槊總€(gè)層創(chuàng)建測(cè)試情景，就必須擁有對(duì)測(cè)試設(shè)備的詳細(xì)控制，但這需要盡可能地易于使用，以避免痛苦的學(xué)習(xí)過(guò)程。圖形化測(cè)試描述(例如由場(chǎng)景向?qū)峁┑?提供了定義新測(cè)試的最清晰方法(圖1)。

　　圖1：圖形化測(cè)試描述(例如由場(chǎng)景向?qū)峁┑?提供了定義新測(cè)試的最清晰方法。

　　性能測(cè)試

　　一旦RF、基帶、協(xié)議棧和應(yīng)用層實(shí)現(xiàn)集成，接下來(lái)就需要對(duì)整體終端性能進(jìn)行全面測(cè)試。在此階段期間，必須查出和消除數(shù)據(jù)傳輸瓶頸，以最大化數(shù)據(jù)吞吐量——包括在正常和極端溫度及電源電壓條件下。另外還需要在滿負(fù)荷條件下測(cè)量功耗、熱特性、電磁兼容性(EMC)、發(fā)射及磁化率。一般情況下，這需要使用2x2下行鏈路多輸入多輸出(MIMO)技術(shù)。

　　測(cè)試設(shè)備要能夠在小區(qū)之間無(wú)縫交接數(shù)據(jù)，同時(shí)盡量減小對(duì)數(shù)據(jù)吞吐率的影響，就像要能在不同無(wú)線接入技術(shù)之間進(jìn)行交接數(shù)據(jù)，同時(shí)保持?jǐn)?shù)據(jù)連接一樣。已有多家供應(yīng)商推出了設(shè)計(jì)緊湊、靈活和模塊化的測(cè)試儀器。例如，Aeroflex的LTE測(cè)試產(chǎn)品就支持用于測(cè)試LTE終端性能的所有功能(圖2)。

　　圖2：Aeroflex的LTE測(cè)試產(chǎn)品支持用于測(cè)試LTE終端性能的所有功能。