LTE設備和系統(tǒng)射頻特性的測量

在現(xiàn)實世界中，不同路徑間存在某種相關性，因為在發(fā)射機到接收機間，不同路徑具有某些相似的共享路徑。針對每種這樣的場景，相關性矩陣可對不同射頻路徑是如何關聯(lián)的進行數(shù)學描述。這樣，就必須對算法進行測試、驗證和優(yōu)化，以便在可能經(jīng)歷的各種不同類型的射頻環(huán)境中獲得盡可能好的數(shù)據(jù)速率吞吐量。

層1(L1)包含與報告和測量有關的算法與程式，這些算法與程式主要用于驅(qū)動功率控制、自適應調(diào)制、編碼以及MIMO處理能力。從測試角度看，測量在接收器側(cè)進行，并傳回到使用測量結(jié)果的相應單元。這個過程也用來驗證發(fā)射器是否對測量報告做出了正確響應并相應調(diào)整了參數(shù)。

下面(圖2)顯示了兩個典型的L1測試(功率與資源模塊的關系)。第一張圖顯示了每個資源模塊在單一時間周期(子幀)內(nèi)的獨立發(fā)射功率。該圖可用來評估功率在所有可用的資源模塊間是如何分配的；基于報告和L1功率控制算法，可用資源是否為接收機設置了正確的功率水平。第二張圖顯示了每個資源塊的時間變化。每個資源塊的測量時間是一個時間周期(子幀)，而功率水平用資源塊的顏色表示。

圖2：典型的L1測試。

層2和層3(L2和L3)測試集中在對系統(tǒng)內(nèi)不同網(wǎng)絡單元間(如UE和基站)所接收到的信令與消息流的測試。測試這些層的目的是確保正確的系統(tǒng)信令和更高層數(shù)據(jù)得到了正確發(fā)送。

通常使用系統(tǒng)仿真器產(chǎn)生發(fā)送到被測實體的消息及接收來自被測實體的消息來完成這種測試。另外，仿真器通常帶有L1實現(xiàn)以經(jīng)由合適的物理層與目標實體通信。另一種選擇是去掉L1，采用“虛擬L1”將仿真器的L2和L3單元鏈接到協(xié)議棧。

取決于被測對象，系統(tǒng)仿真器通常是下面兩種之一：

1.網(wǎng)絡仿真器，用于UE測試

2.UE仿真器，用于eNodeB測試

這些仿真器具有相似的架構(gòu)，使用L1硬件進行物理層連接，然后為L2、L3以及記錄/分析提供一個控制環(huán)境(通常是PC主機)。

UE環(huán)回測試模式

此類測試經(jīng)常要求配置專門的環(huán)回測試模式。在這種模式下，設備接收到的數(shù)據(jù)將被設備自動發(fā)回仿真器。這樣可以完成對數(shù)據(jù)速率、數(shù)據(jù)完整性和連接性的驗證。

大量MAC和RLC以及幾乎所有的數(shù)據(jù)無線承載(ORB)LTE測試都要求UE處于環(huán)回測試模式。如果沒有這種模式，ORB測試只有有限的測試覆蓋范圍，而L2測試的測試覆蓋范圍將不足于完成完整的設備測試。因為這不是設備的正常工作模式，測試環(huán)回模式只在特定測試時被激活。

結(jié)論

在LTE環(huán)境中，交接、衰減和移動性都會導致顯著的延時和數(shù)據(jù)速率變化，并造成許多數(shù)據(jù)收發(fā)問題。網(wǎng)絡仿真器和業(yè)務損傷仿真器可以用來創(chuàng)建一個受控且可重復的測試環(huán)境，幫助設計人員測量被測特性以隔離這些效應，并評估這些效應對用戶體驗的影響。最終得以向市場及時推出更高品質(zhì)的產(chǎn)品。