PN結二極管散粒噪聲測試方法研究
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通過具體測試對系統(tǒng)進行了驗證。對比室溫和77 K時樣品噪聲，可以看出噪聲幅值降了一個數(shù)量級。為了降低低頻1／f噪聲的干擾，提取電流噪聲功率譜299～300 kHz高頻段的平均值。如圖2所示，從圖中可以看出高頻段是白噪聲。在室溫下，被測器件噪聲幅值在1．2×10-15V2／Hz左右；而77 K時，在相同偏置條件下測試了樣品的噪聲，電流噪聲幅值為1．5×10-16V2／Hz，可知熱噪聲被減少了90％左右，可見77 K時熱噪聲被明顯抑制。同時測量了低溫下系統(tǒng)的背景噪聲，它的噪聲幅值在4×10-17V2／Hz左右，而低溫下樣品的噪聲幅值為1．5×10-16V2／Hz，因此低溫下系統(tǒng)背景噪聲相對較小，可以忽略。該測試系統(tǒng)能滿足低溫下散粒噪聲測試的要求。
3 測試結果及討論
實驗樣品選用Ln5391整流二極管。具體步驟為，分別設置V=0．5 V和V=1．0 V，測試器件在開啟電壓下的器件散粒噪聲。在功率譜提取時，取270～300 kHz頻率段電流噪聲功率譜的平均值，這樣既可以去除低頻1／f噪聲對測試結果的影響，也可以通過平均值算法使分析的測試數(shù)據(jù)更加準確。表1為被測二極管典型頻率點噪聲功率譜測試值。圖3為器件工作在0．5 V和1．0 V條件下，電流噪聲功率譜的變化情況。從圖中可以看出，隨著開啟電壓的升高，器件的散粒噪聲是變大的。本文引用地址：http://2s4d.com/article/194132.htm
4 結語
針對散粒噪聲難以測量的特點，本文提出了一種低溫散粒噪聲測試方法。在屏蔽環(huán)境下，將被測器件置于低溫裝置內，有效抑制了外界電磁波和熱噪聲的干擾，采用背景噪聲充分低的放大器以及偏置器、適配器等，建立低溫散粒噪聲測試系統(tǒng)。應用該系統(tǒng)對PN結二極管進行噪聲測試，得到了很好的測試結果，并分析該器件散粒噪聲的特性。
本文的工作為器件散粒噪聲測試提供了一種新方法，并對PN結二極管散粒噪聲特性進行了測試、分析。
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