I2C總線應(yīng)用下的EEPROM測(cè)試

假設(shè)我們這里每個(gè)字節(jié)寫入相同的數(shù)據(jù)(如00或FF等)，那么在這種情況下，要是Word address counter無法正常工作，那么我們寫入或讀取的可能是部分地址所指向的EEpromArray中的bit位，而且無法保證xdec和ydec能正常****行地址和列地址，譬如說我們對(duì)“10101010”word address所指向的字節(jié)寫入00，如果讀取“101010”這個(gè)地址數(shù)據(jù)時(shí)，Word address counter、xdec、ydec任意單元發(fā)生了錯(cuò)誤，那么最終我們讀取到的數(shù)據(jù)就不是“10101010”這個(gè)地址所指向的字節(jié)數(shù)據(jù)，也就是說因?yàn)槊總€(gè)字節(jié)數(shù)據(jù)是一樣的，所以即使寫入和讀取的地址發(fā)生了錯(cuò)位，我們也會(huì)認(rèn)為測(cè)試是通過的。

由此可見，要保證Word address counter、xdec、ydec等單元正常工作，我們寫入的數(shù)據(jù)必須滿足下列三個(gè)條件：

①寫入EEPROM Array的每一行數(shù)據(jù)不一樣(驗(yàn)證xdec單元)；

②寫入EEPROM Array的每一列數(shù)據(jù)不一樣(驗(yàn)證ydec單元)；

③寫入EEPROM Array的每一個(gè)字節(jié)數(shù)據(jù)不一樣(驗(yàn)證Word address counter單元)；

這就是我們選擇寫入00～FF的理由(當(dāng)然也可以選擇寫入其他數(shù)據(jù)，只要符合上述最后一個(gè)條件即可)。

(2)每個(gè)字節(jié)寫入數(shù)據(jù)00，讀取看是否與寫入的一致

通過上述第一項(xiàng)測(cè)試，其實(shí)已經(jīng)可以基本保證芯片各單元能正常工作，接下來只需測(cè)試驗(yàn)證EEPROM Array(2Kbit)中的每個(gè)bit位是否良好，這里寫入數(shù)據(jù)00，可排除EEPROM Array(2Kbit)中恒為“1”的bit位。

(3)每個(gè)字節(jié)寫入數(shù)據(jù)FF，讀取看是否與寫入的一致

可排除EEPROM Array(2Kbit)中恒為“0”的b“位。

(4)從00H地址開始寫入4個(gè)字節(jié)55，接著寫入4個(gè)字節(jié)AA，如此重復(fù)，直至寫滿256個(gè)字節(jié)，讀取看是否與寫入的一致。

EEPROM Array中相鄰bit位(包括行相鄰、列相鄰、對(duì)角線相鄰)會(huì)互相影響。

而24LC02的EEPROM Array分為4列×64行×8bit，所以我們寫入上述的數(shù)據(jù)使得每個(gè)相鄰bit位的數(shù)據(jù)都不一樣，經(jīng)過該項(xiàng)測(cè)試可排除相鄰bit位的數(shù)據(jù)竄擾。最好是再測(cè)試一下寫入4個(gè)字節(jié)AA，寫入4個(gè)字節(jié)55……，看讀取與寫入的是否一致。

到此我們完成了全部的功能測(cè)試。24LC02讀寫時(shí)有page write、byte write、random read、Sequentialread等各種工作模式以及writeprotect功能，這些測(cè)試都比較簡(jiǎn)單，這里就不再一一贅述了。

由此，我們概括出EEPROM的一般測(cè)試方法：

(1)每個(gè)字節(jié)寫入random code，讀取驗(yàn)證是否與寫入時(shí)一致，從而測(cè)試Word address counter、xdec、ydec等單元是否能正常工作；Random code需要滿足下面這個(gè)條件：寫入EEPROMArray的每一個(gè)字節(jié)數(shù)據(jù)不一樣。

(2)每個(gè)字節(jié)寫入數(shù)據(jù)00或FF，讀取驗(yàn)證是否與寫入時(shí)一致，排除EEPROM Array中恒“0”或恒“1”的bit位。

(3)對(duì)EEPROM Array寫入相鄰bit位(包括行相鄰、列相鄰、對(duì)角線相鄰)都不一樣的數(shù)據(jù)，讀取驗(yàn)證是否與寫入時(shí)一致，排除相鄰bit位的數(shù)據(jù)竄擾。