一種基于FPGA的誤碼性能測試方案
在數(shù)字通信系統(tǒng)的性能測試中,通常使用誤碼分析儀對其誤碼性能進(jìn)行測量。它雖然具有簡單易用、測試內(nèi)容豐富、誤碼測試結(jié)果直觀、準(zhǔn)確等優(yōu)點,但是,價格昂貴、不易與某些系統(tǒng)接口適配,通常需要另加外部輔助長線驅(qū)動電路;此外,誤碼分析儀對于突發(fā)通信系統(tǒng)的誤碼性能測試存在先天不足。例如,在對TDMA系統(tǒng)上行鏈路誤碼性能測試時,只有通過外加接口,對連續(xù)數(shù)據(jù)進(jìn)行數(shù)據(jù)壓擴,才能為被測設(shè)備模擬出突發(fā)形式的數(shù)據(jù),從而完成測試。這給測試工作帶來極大的不便。
本文引用地址:http://2s4d.com/article/191962.htm另一方面,現(xiàn)今的通信系統(tǒng)大量采用FPGA作為系統(tǒng)的核心控制器件。將物理層上的各協(xié)議層的功能集中在FPGA內(nèi)部實現(xiàn),不僅提高了通信系統(tǒng)的集成,同時也減少了硬件和軟件設(shè)計的復(fù)雜度。
基于上述兩方面的考慮,筆者在FPGA內(nèi)部實現(xiàn)了一個簡易的多功能誤碼分析儀。該誤碼儀主要有三方面優(yōu)點:一是可以根據(jù)用戶需要,以連續(xù)或突發(fā)的方式產(chǎn)生若干種不同的隨機序列或固定序列,并據(jù)此測試數(shù)字通信系統(tǒng)的誤碼性能;二是測試結(jié)果可以誤碼率或者誤碼數(shù)兩種形式,通過外圍器件直觀地顯示出來;三是作為被測系統(tǒng)的一個嵌入式模塊,便于功能擴展及系統(tǒng)調(diào)試。
1 偽隨機序列(m序列)
許多數(shù)字通信理論的結(jié)論都基于這樣一個假設(shè):原始的信源信號為0、1等概并相互獨立的隨機數(shù)字序列。同樣,實際數(shù)字通信系統(tǒng)的設(shè)計,也是基于相同假設(shè)。因此,為使測試結(jié)果盡可能真實地反映系統(tǒng)的性能,采用偽隨機序列(m序列)作為測試中傳輸?shù)男盘枴?/p>
M序列是一種線反饋移位寄存器序列,其原理方框圖如圖1所示。每級移位寄存器的輸出被反饋系數(shù)Ci加權(quán)(Ci可以取1或0),經(jīng)模2和運算再反饋到第一級。令第一級的輸入為ak,就有:
根據(jù)反饋系數(shù)的取值不同,電路可以產(chǎn)生出各種具有不同特性的數(shù)字序列。對于一定的移位寄存器級數(shù)r,存在一些特殊的Ci取值,使得輸出序列的周期達(dá)到最長,即為2r-1。這樣的序列被稱為最長線性反饋移位寄存器序列,即m序列。
2 誤碼儀測試原理
該誤碼儀由發(fā)端模塊和收端模塊兩部分組成。發(fā)端模塊產(chǎn)生連續(xù)或者突發(fā)的比特流,作為通信系統(tǒng)的信源數(shù)據(jù);收端模塊接收通信系統(tǒng)輸出的比特流,并將其與本地產(chǎn)生的、與發(fā)端形式相同的比特流進(jìn)行比較,從而完成誤碼測試。從邏輯上看,誤碼儀的工作過程大致可以分成以下幾個步驟:
(1)發(fā)端模塊產(chǎn)生原始數(shù)據(jù),并使其通過被測通信系統(tǒng)構(gòu)成的信道;
(2)收端模塊產(chǎn)生與發(fā)端相同碼型、相同相位的數(shù)據(jù)流;
(3)將收到的數(shù)據(jù)流與收端產(chǎn)生的本地數(shù)據(jù)流逐比特地比較,并進(jìn)行誤碼統(tǒng)計;
(4)根據(jù)誤碼統(tǒng)計結(jié)果,計算出相應(yīng)的誤碼率,并輸出誤碼指示。
誤碼儀收端模塊所面臨的最主要問題是如何準(zhǔn)確地實現(xiàn)本地產(chǎn)生的m序列與收到的數(shù)據(jù)流同步,即比特對齊,這是整個誤碼儀正常工作的前提。為了適應(yīng)各種不同類型的通信系統(tǒng),根據(jù)m序列的性質(zhì),采用隨動同步的方法解決這個問題。
評論