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在受控生產(chǎn)環(huán)境下使用LabVIEW、NI TestStand和PXI

作者: 時(shí)間:2012-01-09 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

NI的解決方案為此應(yīng)用帶來了許多益處。 首先,NI VSA/VSG解決方案速度遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于同類的臺式儀器 - 如果使用傳統(tǒng)的臺式儀器,測試時(shí)間將會(huì)更長。

本文引用地址:http://2s4d.com/article/190845.htm

– Matthew Kelton, Advanced Instrument Technologies


The Challenge:
在緊迫的開發(fā)期限內(nèi),開發(fā)一套包括RF通信測試的生產(chǎn)測試儀,用于測試FDA II類醫(yī)療血糖儀和胰島素輸送系統(tǒng)的子組件。

The Solution:
使用NI 軟件、NI頻譜測量工具包、NI 和NI RF硬件,開發(fā)快速、可重復(fù)的測試方案。

Author(s):
Matthew Kelton - Find this author in the NI Developer Community
Venkat Raghavan - Find this author in the NI Developer Community

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Advanced Instrument Technologies, Inc.(AIT)是一家工程技術(shù)服務(wù)公司,為客戶應(yīng)對測試工程挑戰(zhàn)提供定制和交鑰匙解決方案。 AIT提供的服務(wù)小至工程支持,大至完整的解決方案。 它為眾多行業(yè)的客戶提供服務(wù),內(nèi)容涉及研發(fā)、制造以及質(zhì)量保證測試。 自2003年以來,AIT一直是National Instruments Alliance Partner的一員。憑借其先前與合同制造商積極的合作以及和多年使用NI軟硬件的經(jīng)驗(yàn),AIT被選定接手此項(xiàng)應(yīng)用工作,為此項(xiàng)目開發(fā)了軟件并協(xié)助硬件設(shè)計(jì)。


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