新聞中心

EEPW首頁 > 電源與新能源 > 設(shè)計(jì)應(yīng)用 > 一種簡(jiǎn)單可靠離散量信號(hào)電路的設(shè)計(jì)和實(shí)現(xiàn)

一種簡(jiǎn)單可靠離散量信號(hào)電路的設(shè)計(jì)和實(shí)現(xiàn)

作者: 時(shí)間:2013-05-18 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

3.1.2 28 V/開離散量輸出信號(hào)
28 V/開離散量輸出信號(hào)原理實(shí)現(xiàn)如圖7所示,在原有典型電路的基礎(chǔ)上增加了。R3為采樣電阻,利用實(shí)現(xiàn)過流保護(hù)功能,該電路使用運(yùn)算放大器N1實(shí)現(xiàn)差分運(yùn)算,當(dāng)負(fù)載過大,N1的輸出值達(dá)到門限值時(shí),通過V3將前級(jí)輸出電路自動(dòng)關(guān)斷,實(shí)現(xiàn)了過流保護(hù)功能。采樣電阻的選擇原則:在不影響后級(jí)電路負(fù)載特性,進(jìn)行降額設(shè)計(jì),即使用降額因子后實(shí)際應(yīng)力不應(yīng)超過推薦的最大應(yīng)力。

本文引用地址:http://2s4d.com/article/175798.htm

i.JPG


3.2 電路仿真分析
3.2.1 地/開仿真分析
V3為NMOS場(chǎng)效應(yīng)管,滿足導(dǎo)通條件時(shí),該電路輸出為“地”,反之,輸出為“開”狀態(tài)。
電路仿真時(shí),將外部負(fù)載上拉為+28VDC,當(dāng)外部負(fù)載電流大于70 mA或短路時(shí),仿真圖8中利用R4電阻模擬外部負(fù)載,來保證測(cè)試驗(yàn)證的極限條件。當(dāng)R4為0時(shí),負(fù)載為短路狀態(tài),此時(shí)關(guān)斷NMOS管(開狀態(tài)),通過示波器監(jiān)測(cè)電壓輸出范圍為:26 V≤V開≤28 V;當(dāng)外部負(fù)載正常工作時(shí),輸出地電壓10 mV≤V地≤500 mV。電路仿真結(jié)果與預(yù)期設(shè)計(jì)結(jié)果一致,保證了電路的安全性。

j.JPG


在芯片選型上,當(dāng)負(fù)載對(duì)地短路時(shí),V3瞬間承受的功率較大,因此應(yīng)充分進(jìn)行降額設(shè)計(jì),以滿足電路在實(shí)際使用中的無故障保護(hù)功能特性。
3.2.2 28 V/開仿真分析
圖7中的傳遞函數(shù):Uo=UI2-UI1,按最大過流保護(hù)電流(70 mA)計(jì)算UI2-UI1=10x0.07=0.7 V,實(shí)際仿真電路見圖9。仿真結(jié)果表明,實(shí)際仿真中圖7中V3作為開關(guān)管的飽和導(dǎo)通電壓為:UI2-UI1≥0.7 V,滿足理論設(shè)計(jì)要求。

k.JPG



4 結(jié)論
針對(duì)目前機(jī)載電子復(fù)雜性的增加,為降低產(chǎn)品的故障模式,提高整機(jī)的可靠性、測(cè)試性指標(biāo),本文主要介紹了一種簡(jiǎn)單、高可靠性的離散量信號(hào)電路的原理實(shí)現(xiàn)方法,并通過對(duì)典型電路的比較分析,分別對(duì)新型離散量輸入/輸出電路進(jìn)行仿真分析及計(jì)算,該新型電路不僅保證了典型電路的輸出特性,而且也進(jìn)行了巧妙的優(yōu)化設(shè)計(jì),并增加了過流保護(hù)功能,使電路的可靠性、容差能力更高,同時(shí)使該電路的應(yīng)用領(lǐng)域更加廣泛。目前該新型電路已成功地應(yīng)用在實(shí)際工程項(xiàng)目中,并已經(jīng)過各種試驗(yàn)驗(yàn)證,高低溫性能穩(wěn)定,可靠性高。


上一頁 1 2 3 下一頁

評(píng)論


相關(guān)推薦

技術(shù)專區(qū)

關(guān)閉