TD-LTE微蜂窩基站測試相關(guān)介紹
加入技術(shù)交流群
TD-LTE的接收機和性能測試，矢量信號源產(chǎn)生相應(yīng)的上行信號（SC-FDMA），通過單端接收機測試的方式來驗證基站的接收情況。所謂單端即基站已知信號源所發(fā)的信號序列，在其接收解調(diào)后，自己做對比并計算出測試結(jié)果BER/BLER。對應(yīng)的測試規(guī)范中定義了以下測試項：
（1）參考靈敏度。
（2）動態(tài)范圍。
（3）帶內(nèi)選擇性。
（4）鄰信道選擇性和窄帶阻塞。
（5）阻塞。
（6）接收機雜散。
（7）接收互調(diào)等。
（8）HARQ重傳和多徑衰落情況下性能測試。
（9）HARQ重傳情況下上行定時調(diào)整性能測試。
接收機雜散可以用頻譜儀來測試，以上其它測試可以使用雙通道矢量信號源SMU200A來實現(xiàn)，SMU200A可配置為雙通道，一個通道產(chǎn)生上行TDD LTE信號，另一通道產(chǎn)生規(guī)范要求的干擾信號，這些干擾信號可以是單音，也可以是不同標(biāo)準(zhǔn)的矢量調(diào)制信號，可以對每個通道獨立地加衰落和AWGN噪聲。在性能測試中，SMU200A可以根據(jù)基站的反饋信號來實時進行上行信號重傳，這是任意波形發(fā)生器所不能實現(xiàn)的。
另外，MIMO（多入多出）技術(shù)是LTE不可缺少的組成部分，LTE的高速率實現(xiàn)缺少不了MIMO技術(shù)的支持，因此需要使用相應(yīng)的MIMO信號來測試基站接收機性能。這時，同樣可以利用雙通道SMU200A內(nèi)置的4個衰落模塊，來測試2×2的MIMO，具體參見圖2。
圖2 SMU產(chǎn)生2×2 MIMO測試信號
4 結(jié)束語
目前，有關(guān)LTE的技術(shù)規(guī)范雖然已經(jīng)大部分凍結(jié)，但是還有一些指標(biāo)在不斷地變化、發(fā)展中，對測試人員來說，則就需要使用能夠緊跟規(guī)范的設(shè)備來測試其LTE產(chǎn)品，保持產(chǎn)品的領(lǐng)先性。羅德與施瓦茨公司與3GPP的關(guān)系非常密切，并是其成員之一，始終緊跟LTE的發(fā)展，推出相應(yīng)的測試功能，全力支持了我國TD-SCDMA向TD-TLE的演進。
本文引用地址：http://2s4d.com/article/155370.htm
評論