圖4是芯片校準前實際功耗測試結(jié)果。其中，圓圈表示從標簽測試儀掃描圖像中對個別頻點采樣得到芯片靈敏度數(shù)值；實線為利用藍色圓圈表示的數(shù)值通過多項式擬合所得曲線。圖4所示曲線與圖3所示的曲線基本一致。
利用矢量網(wǎng)絡分析儀測試芯片的反射系數(shù)Γ，使用式(1)對測得的芯片靈敏度數(shù)據(jù)進行校準，得到圖5所示的芯片能量靈敏度曲線。其中，圓點為利用圖4中圓圈數(shù)值進行校準之后的靈敏度值，曲線為利用圓點表示的樣本值進行3次多項式擬合所得曲線，即校準之后的靈敏度曲線。
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