嵌入式系統(tǒng)的SD控制器設(shè)計實現(xiàn)

　　系統(tǒng)初始化時，SD_nCD檢測引腳被設(shè)置為上升沿和下降沿觸發(fā)，因此引腳電平發(fā)生變化時，都會有中斷產(chǎn)生。當(dāng)硬件產(chǎn)生中斷時，系統(tǒng)進(jìn)入核心ISR，對SD_nCD進(jìn)行檢測，返回相應(yīng)的中斷標(biāo)識碼，對于是SD插入還是拔出，則由驅(qū)動程序的IST來處理。

　　由于SD卡插槽采用的是機(jī)械式開關(guān)，在插拔卡的時候，機(jī)械開關(guān)斷開、閉合時會有抖動，導(dǎo)致SD卡檢測引腳的電平不穩(wěn)定，從而有可能引起對卡的狀態(tài)的誤判。這樣會導(dǎo)致加載上層驅(qū)動，初始化失敗造成系統(tǒng)宕機(jī)。為了使每次插拔只響應(yīng)一次，必須要采用相應(yīng)的方法來防止抖動，避開按鍵按下的抖動時間。

　　在驅(qū)動程序IST里采用延時采樣的方法來避免抖動，同時也嘗試了多次采樣的檢測方法來避開用戶按鍵的抖動時間。

　　延時采樣是IST在收到SD卡檢測事件以后，并不是立刻進(jìn)行引腳信號判斷，而是延時一段時間采樣，延遲時間要根據(jù)系統(tǒng)電路特性而定，然后檢測引腳信號，判斷插槽的狀態(tài)是卡插入還是拔出。多次采樣方法是IST在收到SD卡檢測事件以后，要對引腳進(jìn)行多次等間隔采樣，根據(jù)采樣出的多數(shù)電平信號的值來決定插槽卡的狀態(tài)。多次采樣的方法可以有更短的響應(yīng)時間，當(dāng)采樣出的電平信號多數(shù)值不能決定卡的狀態(tài)時，需要進(jìn)行重新采樣判斷。

　　對于延時采樣的防抖動方法，必須考慮到實現(xiàn)的效率。

　　ISR運行于系統(tǒng)核心態(tài)，它的延時會影響整個系統(tǒng)，導(dǎo)致用戶的輸入響應(yīng)時間過長，造成整體性能的下降。而WindowsCE的驅(qū)動程序是用戶態(tài)的DLL，作為用戶進(jìn)程來調(diào)度，因此在SDHost的驅(qū)動程序里實現(xiàn)防抖動，可保證系統(tǒng)整體性能不下降。

　　對于上述兩種防抖動方法，我們進(jìn)行了連續(xù)插拔的測試，結(jié)果如圖3所示。測試結(jié)果表明，這兩種方法都取得了較好的效果，基本上解決了SD卡檢測的抖動問題。

　　圖3 SD卡插拔宕機(jī)次數(shù)測試

　　4 結(jié)語

　　本文介紹的SDHost控制器已經(jīng)應(yīng)用在工程實踐中，結(jié)果表明設(shè)計是靈活有效的，防抖動設(shè)計對于類似的設(shè)計也具有一定的借鑒意義。