EFT/ESD問題的測量和定位
大部分電子產(chǎn)品需要通過電快速瞬變脈沖群(EFT)(根據(jù)IEC61000-4-4)和靜電放電(ESD)(根據(jù)IEC61000-4-2)等項目的標(biāo)準(zhǔn)測試。EFT和ESD是兩種典型的突發(fā)干擾,EFT信號單脈沖的峰值電壓可高達(dá)4kV,上升沿5ns。接觸放電測試時的ESD信號的峰值電壓可高達(dá)8kV,上升時間小于1ns。這兩種突發(fā)干擾,都具有突發(fā)、高壓、寬頻等特征。
在進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)的EFT/ESD測試時,把干擾脈沖從設(shè)備外部耦合到內(nèi)部,同時監(jiān)視設(shè)備的工作狀態(tài)。如果設(shè)備沒有通過這些標(biāo)準(zhǔn)的測試,測試本身幾乎不能提供任何如何解決問題的信息。
要想定位被測物(EUT)對突發(fā)干擾敏感的原因和位置,必須進(jìn)行信號測量。但是如果采用示波器進(jìn)行測量的話,EUT內(nèi)部的干擾會產(chǎn)生變化。例如圖1中,使用金屬導(dǎo)線的探頭連接到示波器,會形成一個額外的干擾電流路徑,從而影響測試結(jié)果,很難定位產(chǎn)生ESD/EFT問題的原因。
圖1 用示波器測量EFT/ESD
EFT/ESD干擾電路正常工作的機理
在進(jìn)行EFT/ESD等抗擾度測試時,需要把相應(yīng)的突發(fā)干擾施加到EUT的電源線,信號線或者機箱等位置。干擾電流會通過電纜或者機箱,流入EUT的內(nèi)部電路,可能會引起EUT技術(shù)指標(biāo)的下降,例如干擾音頻或視頻信號,或者引起通信誤碼等;也可能引起系統(tǒng)復(fù)位,停止工作,甚至損壞器件等。
電子產(chǎn)品的抗干擾特性,取決于其PCB設(shè)計和集成電路的敏感度。電路對EFT/ESD信號敏感的位置,一般能被精確定位。形成這些"敏感點"的原因,很大程度上取決于GND/VCC的形狀以及集成電路的類型和制造商。
實踐發(fā)現(xiàn),產(chǎn)生EFT/ESD問題的最主要的原因是,干擾電流的主要部分會流入低阻抗的電源系統(tǒng)。干擾電流能通過直接的連接進(jìn)入GND系統(tǒng),再由線路連接,從另外一個地方耦合出來;干擾電流也能通過直接連接進(jìn)入GND系統(tǒng),然后通過和金屬塊(例如機箱)等物體的容性耦合方式,以電場的方式(場束)耦合出來。
干擾脈沖電流I通過電纜或者電容滲透到PCB內(nèi)。由干擾電流產(chǎn)生電場干擾(電場強度E)或者磁場干擾(磁場強度B)。磁脈沖場B或電脈沖場E是影響PCB最主要的基本元素,一般來說,敏感點要么僅對磁場敏感,要么僅對電場敏感。
干擾電流I通過電源線注入到設(shè)備內(nèi)部。由于旁路電容C的存在,一部分電流IA離開了被測物,內(nèi)部的干擾電流Ii被減少了。圖中所示的由干擾電流Ii產(chǎn)生的磁場B會影響它周圍幾厘米范圍內(nèi)的電路模塊,一般電路模塊內(nèi)只會有很少的信號線會對磁場B敏感。
需要注意,磁場不僅僅由電源線電纜上干擾電流I以及排狀電纜上的電流產(chǎn)生,旁路電容C的電流路徑以及內(nèi)部GND和VCC上的電流,會擴大干擾范圍。
在電源系統(tǒng)(主要是GND)上流動的干擾電流,產(chǎn)生的很強的寬頻譜電磁場,能干擾其周圍幾厘米范圍內(nèi)的集成電路或者信號線,如果敏感的信號線或者器件,例如復(fù)位信號、片選信號、晶體等,正好放置在干擾電流路徑周圍,系統(tǒng)就可能由此引起各種不穩(wěn)定的現(xiàn)象。
一般情況下,一塊PCB上只會存在少量的敏感點,而且每個敏感點也會被限制在很少的區(qū)域。在把這些敏感點找出來,并采取適當(dāng)?shù)氖侄魏?,就能提高產(chǎn)品的抗干擾性能。
由此可見,為了定位EUT不能通過EFT/ESD測試的原因,我們就必須首先找出這些突發(fā)干擾在系統(tǒng)內(nèi)部的電流路徑,再找出該路徑周圍存在哪些敏感的信號線和器件(敏感點),之后可以采取改善接地系統(tǒng)以改變電流路徑,或者移動敏感信號線和器件的位置等方法,從根本上以最低的成本解決EFT/ESD問題。
E1抗干擾開發(fā)系統(tǒng)
由于EFT/ESD信號具有高壓和寬頻譜等特征,傳統(tǒng)的示波器和頻譜分析儀很難測量干擾電流的路徑。本文介紹的E1抗干擾開發(fā)系統(tǒng),專門用于測量和排除EFT/ESD問題。E1系統(tǒng)由四大部分組成:
1.產(chǎn)生突發(fā)干擾的突發(fā)干擾信號源SGZ21
SGZ21產(chǎn)生連續(xù)的類似于EFT或者ESD的干擾脈沖,脈沖的上升沿時間為2ns,下降沿時間為約10ns。這些脈沖包含的能量比標(biāo)準(zhǔn)的EFT脈沖或ESD脈沖小,因此能在不損壞被測設(shè)備的情況下,把干擾直接耦合到EUT的內(nèi)部PCB上。
SGZ21輸出的脈沖信號,其脈沖幅度是連續(xù)變化的,峰值在0-1500V之間,按統(tǒng)計平均分布。利用這種方法,配合傳感器,加上SGZ21內(nèi)置的光纖輸入計數(shù)器,能對PCB進(jìn)行特別快速的抗干擾性能評估。
SGZ21采用電氣隔離(無大地參考)的對稱輸出。干擾脈沖能被容性耦合,極性可變。這樣,就能采用各種耦合方式,例如:
a. 把發(fā)生器的輸出直接連接到被測物的GND系統(tǒng)上,把干擾電流直接注入到GND系統(tǒng)。
b. 把干擾電流注入到GND,然后從VCC返回。
c. 干擾電流可以注入到變壓器、分配器或者光耦的初級,從次級返回。
2.接收突發(fā)干擾的瞬態(tài)磁場探頭MS02
流過EUT的干擾電流會產(chǎn)生磁場。通過磁場的強度和方向等信息能提供干擾電流的分布情況。MS02瞬態(tài)磁場探頭是一個無源探頭,通過光纖連接到SGZ21計數(shù)器的輸入,利用計數(shù)器的讀數(shù),可以測量突發(fā)電磁場的相對強度。
如果MS02檢測到磁場脈沖,它就會發(fā)出一個光脈沖。光脈沖的數(shù)量,可以在SGZ21計數(shù)器上讀到,這個值和測量到的平均磁場強度成一定的比例。只有穿過探頭環(huán)的磁力線才會被檢測到,因此通過旋轉(zhuǎn)探頭的方向,找到最大計數(shù)值,可以檢測到磁力線的方向,從而準(zhǔn)確探測干擾電流的方向。
3.將信號源的電輸出變?yōu)橥话l(fā)電磁場的電場和磁場場源探頭組
場源探頭組,包括各種尺寸和形狀的磁場場源探頭和電場場源探頭,最小分辨率可小于1mm??梢赃B接到SGZ21信號源的輸出,向被測電路中的接地系統(tǒng)、電源系統(tǒng)、集成電路、引腳、分立元件、關(guān)鍵布線、電纜、接插件等地方注入干擾,用于精確定位電路敏感點位置。
在利用SGZ21信號源和瞬態(tài)磁場探頭找出干擾電流的路徑之后,使用場源探頭,可以檢查該路徑周圍是否存在敏感的信號線或者器件,如果是器件,還應(yīng)該檢查是器件的哪個引腳。
不同的電路結(jié)構(gòu),可能會對磁場敏感,也可能會對電場敏感。E1中的場源,有的是產(chǎn)生磁場的,有的是產(chǎn)生電場的,這樣可以確認(rèn)EUT對哪種類型的干擾場敏感。
4.檢測集成電路敏感度的IC傳感器等
為了評估電路修改的有效性,特殊設(shè)計的IC傳感器S31能和EUT內(nèi)部器件一樣,感應(yīng)突發(fā)干擾對數(shù)字邏輯的影響,并把干擾情況通過光纖傳遞到計數(shù)器。
E1抗干擾開發(fā)系統(tǒng),配置有多種EMC傳感器,可以監(jiān)測PCB上的關(guān)鍵信號線、電源、地、電纜、接插件等被干擾的情況。
利用E1抗干擾開發(fā)系統(tǒng)定位EFT/ESD問題的方法
E1抗干擾開發(fā)系統(tǒng),在設(shè)備內(nèi)部仿真干擾的過程。能采用不同的方式,向電子模塊直接注入干擾電流、電場和磁場,以定位電路板上的電磁薄弱點,理解耦合機理,并完成最優(yōu)化的設(shè)計修改。
E1抗干擾開發(fā)系統(tǒng)不能按照某個標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行兼容性測試。所以建議先對被測物進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)的抗干擾測試,然后對可能的故障原因進(jìn)行分析,再利用E1來找出更多的故障原因,并利用E1在產(chǎn)品開發(fā)場地進(jìn)行設(shè)計修改的評估。
測量的目的是再現(xiàn)在標(biāo)準(zhǔn)抗干擾測試時的功能故障,從而確認(rèn)和評估干擾被耦合入和耦合出的路徑。
使用E1抗干擾開發(fā)系統(tǒng),測量和定位EFT/ESD問題的一般步驟為:
1.故障粗略定位
檢查EUT的各個電路模塊,例如整塊PCB、PCB間的互聯(lián)電纜、PCB內(nèi)的電路功能模塊等。
取EUT的一塊PCB或者一部分電路,對該模塊的GND直接注入干擾:
* 兩極連接方式注入干擾:
把SGZ21信號源的兩個輸出,分別連接到電路模塊的GND上,判斷是否是磁場敏感。如果在這種方式下,EUT出現(xiàn)期望的功能故障,說明在這兩個GND節(jié)點之間存在的干擾電流路徑周圍,存在對磁場敏感的敏感點。
* 單極連接方式注入干擾:
把SGZ21信號源的其中一個輸出接到電路模塊的GND上,另一個輸出端接到EUT的機箱(可以用電場場源模擬機箱),判斷是否是電場敏感。如果單極連接期間出現(xiàn)功能故障,可能是:
電場:直接由EUT和場源探頭間引起的故障;
磁場:流入電場的電流產(chǎn)生磁場,磁場被耦合到信號環(huán)路上,導(dǎo)致出現(xiàn)故障。
區(qū)分辦法:
在EUT的GND和附近的金屬物體之間建立一個很短的低阻抗的連接,從而消除電場的影響,如果不再出現(xiàn)那個已知的功能故障,就說明,那個已知的功能故障是由電場引起的。否則,這個故障可能是磁場引起的。
2.測量干擾電流路徑
通過"故障粗略定位",把敏感點位置進(jìn)行了粗略的定位,同時確定了電路敏感的性質(zhì)(磁場敏感或者電場敏感)。使用瞬態(tài)電磁場探頭,能測量EUT內(nèi)部突發(fā)磁場的相對強度,并可以測量出干擾電流的流向。利用瞬態(tài)磁場探頭測量時,能幫助你發(fā)現(xiàn):
a. EUT內(nèi)哪里存在突發(fā)磁場?
b. EUT內(nèi)部的干擾電流是怎么流的?
c. 干擾電流有沒有流入集成電路的輸入和輸出?
d. 旁路電容有什么影響,應(yīng)該采用多大容值的電容?
e. 屏蔽連接的長度是如何影響旁路電流的?
3.精確定位敏感點
在把故障定位到模塊并測量出電流路徑之后,使用場源,能對敏感點進(jìn)行精確定位:
首先是根據(jù)前面的測量結(jié)果來選擇場源,決定使用磁場場源或者電場場源。
再依據(jù)測量到的"電流路徑",沿著干擾電流方向的路徑,使用相應(yīng)的場源對EUT注入干擾。E1抗干擾開發(fā)系統(tǒng)配備了不同分辨率的9種場源,選擇場源時,從大面積到小面積,選擇強度時,探頭由遠(yuǎn)到近慢慢靠近EUT,從而最終確定敏感點的位置。
4.評估電路修改有效性
找出電路內(nèi)部存在的敏感點之后,開發(fā)人員會進(jìn)行電路修改以改善EUT的抗干擾性能。為此,E1抗干擾開發(fā)系統(tǒng),使用了一套"脈沖率測量法"的技術(shù),讓我們能對電路修改的有效性進(jìn)行快速的評估。脈沖率測量法需要使用SGZ21發(fā)生器和傳感器。
SGZ21產(chǎn)生如圖6所示的,輸出脈沖無序的,峰值電平呈平均分布的脈沖信號,這樣就不需要發(fā)生器和計數(shù)器之間的同步。
例如,用放在EUT內(nèi)部的傳感器來監(jiān)視敏感的信號線,一旦檢測到這根信號線上有干擾,就會發(fā)出一個光脈沖。SGZ21上的計數(shù)器對這些光脈沖進(jìn)行計數(shù)。在一個周期信號(1秒鐘)序列期間檢測到的計數(shù)值,代表著干擾門限所處的位置,即EUT的敏感度。
圖6中,如果在一個周期脈沖序列里檢測到11個脈沖,則干擾門限是u1,意味著注入電壓為u1的突發(fā)干擾,本區(qū)域就會遭受干擾;
如果檢測到的是3個脈沖,則干擾門限是u3。
檢測到的脈沖數(shù)越少,表明模塊設(shè)計得越好。
測量濾波器的濾波波形是一個非常典型的應(yīng)用:把SGZ21產(chǎn)生的干擾電流注入到EUT,S31傳感器測量EUT上受干擾的線上的信號,在SGZ21計數(shù)器上可以讀到計數(shù)值,修改濾波器后,再次測量。兩次測量結(jié)果的對比,就可以很清楚地告訴你,你的設(shè)計修改是否有效。
圖6 SGZ21的脈沖序列
5.實時監(jiān)視EUT工作狀態(tài)
在抗干擾測試時,盡可能快地明確地發(fā)現(xiàn)EUT內(nèi)的功能故障,是非常重要和關(guān)鍵的。然而,從外界來觀察的話,EUT故障經(jīng)常是不可見的,或者過一段時間才能發(fā)現(xiàn)。例如,EUT里的處理器,已經(jīng)死機了,但是顯示的還是正常的狀態(tài),甚至顯示器上顯示的也是正常的信息。
為了進(jìn)行有效的故障定位,有必要使用S31傳感器來提供與EUT功能有關(guān)的信息,例如用S31去監(jiān)視看門狗電路的后置觸發(fā)信號、片選信號等,以監(jiān)視EUT的工作狀態(tài)。SGZ21上的脈沖計數(shù)器可以監(jiān)視,并判斷設(shè)備是否在正常工作。你也可以把S31的光纖輸出連接到光纖接收器,光纖接收器把S31送來的光信號變?yōu)殡娦盘?,再連接到示波器上進(jìn)行觀察和分析。
總線系統(tǒng)或者接口上的數(shù)據(jù)流,往往能反映系統(tǒng)的操作狀態(tài)。但是通過示波器或者邏輯分析儀來監(jiān)視是很浪費時間的,而且成本很高。采用SGZ21的計數(shù)器來監(jiān)視數(shù)據(jù)流,是一個快速的方法。由于數(shù)據(jù)的內(nèi)容會改變,而且計數(shù)器和數(shù)據(jù)包是不同步的,所以計數(shù)器上的值是會變化的。盡管如此,計數(shù)器上的值,還是能體現(xiàn)出EUT處于不同的工作狀態(tài)。這樣工程師就可以通過計數(shù)器顯示的結(jié)果來判斷設(shè)備的工作狀態(tài)。例如在EUT復(fù)位后重新啟動時記錄的值,就是代表了EUT當(dāng)前的工作狀態(tài)。這樣,工程師就能在抗干擾測量中發(fā)現(xiàn)EUT是否復(fù)位了,還是在傳輸數(shù)據(jù)時經(jīng)常要重新發(fā)送,或者類似的由干擾引起的其他問題。
如果干擾脈沖正好出現(xiàn)在EUT的程序中要求嚴(yán)格的階段(例如正在通過接口進(jìn)行數(shù)據(jù)傳輸),就可能出現(xiàn)功能故障。出現(xiàn)功能故障的頻繁程度,取決于EUT的結(jié)構(gòu)。因此我們必須在適當(dāng)?shù)碾妷弘娖缴蠝y量足夠長的時間,確保EUT不會產(chǎn)生功能故障。這種方法,是利用EUT出現(xiàn)故障作為敏感度的參考依據(jù),在實際調(diào)試中需要花費大量精力和時間。
如果在EUT內(nèi)部某個位置安裝一個傳感器,傳感器的干擾門限是和時間無關(guān)的,我們可以利用傳感器的計數(shù)值,作為敏感度的參考依據(jù)。這樣的話,就不需要進(jìn)行長時間的測量。這種方法特別適合于評估濾波器、屏蔽以及旁路的效果。
在實際工作中,電路內(nèi)部的IC和傳感器對快速干擾的敏感程度是不同的。所以可能會出現(xiàn)在干擾電壓增加時,EUT先被干擾了,而傳感器還沒有被干擾到,或者相反的情況。這時,需要建立一個EUT干擾門限和傳感器干擾門限的關(guān)系,如果在EUT上僅僅修改屏蔽或者濾波,則這種相對的關(guān)系會保持不變。傳感器干擾門限的改進(jìn),也意味著提高了EUT的抗干擾能力。
本文小結(jié)
對于EFT/ESD等突發(fā)的、高壓的、寬帶的干擾,傳統(tǒng)上難以測量,如果電子產(chǎn)品出現(xiàn)EFT/ESD問題,工程師只能憑經(jīng)驗去解決問題。E1抗干擾開發(fā)系統(tǒng),給工程師一個全新的測量概念,能快速定位電路存在的敏感點,并通過設(shè)計修改,能以最低的成本讓被測物通過相關(guān)的電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)測試。
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