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射頻嵌入式設(shè)計(jì)與高級(jí)頻域時(shí)域聯(lián)合分析

作者: 時(shí)間:2012-08-28 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

  當(dāng)今設(shè)計(jì)的一個(gè)發(fā)展趨勢(shì)是越來越多地涉及到射頻電路和射頻信號(hào)的分析與驗(yàn)證,隨著電路工作頻率的升高和高速總線接口的使用,突發(fā)性的EMI問題也日趨嚴(yán)重。設(shè)計(jì)人員常常面對(duì)必須將時(shí)域信號(hào)與射頻信號(hào)綜合分析的難題。如某一射頻參數(shù)的偏差往往是由于基帶控制總線數(shù)據(jù)的錯(cuò)誤造成的,射頻干擾有可能導(dǎo)致數(shù)字信號(hào)的異常和錯(cuò)誤。應(yīng)對(duì)上述問題,傳統(tǒng)的和頻譜分析儀不能很好解決。來自與施瓦茨公司最新的技術(shù),集成了數(shù)字下變頻技術(shù)、重疊FFT算法,配合高精度的ADC和低底噪的模擬前端,可以實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)頻譜分析功能。結(jié)合模擬通道和數(shù)字通道的時(shí)域聯(lián)合觸發(fā),可以成為時(shí)域和頻域聯(lián)合分析的有力工具。

本文引用地址:http://2s4d.com/article/136168.htm
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