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基于FPGA的外差信號處理方法

作者:邱小倩 時間:2012-02-14 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

  外差信號處理原理

本文引用地址:http://2s4d.com/article/128989.htm

  在雙頻激光外差中,光學(xué)系統(tǒng)的改善很成熟,要想提高精度,對外差信號的處理成為了關(guān)鍵。從本質(zhì)上講,外差信號的處理方法分為頻率解調(diào)和相位解調(diào),頻率解調(diào)法是將鏡運動產(chǎn)生的多普勒頻移轉(zhuǎn)化為對應(yīng)于運動位移的加減系列脈沖,由可逆計數(shù)器計數(shù)得到結(jié)果,典型的是鎖相倍頻計數(shù),以電子倍頻、混頻及計數(shù)電路為基礎(chǔ),對外差信號的多普勒頻差進(jìn)行“放大”計數(shù)。在倍頻電路中,應(yīng)根據(jù)鎖相環(huán)的鎖定范圍合理設(shè)計倍頻系數(shù),若超出將造成失鎖。同時由于倍頻后信號的頻率很高,對電子技術(shù)、電子器件的要求較高,后期電路設(shè)計難度增大。

  相位解調(diào)法,當(dāng)外差的測量鏡移動時,測量光束空間光程發(fā)生變化從而引起外差干涉信號的相位變化,利用相位檢測測出相位變化,即可獲得被測量的大小,本質(zhì)就是對測量信號與參考信號比相。狹義的相位法也可稱小數(shù)測量法,模擬信號采用AD采樣等方法,數(shù)字信號中較基礎(chǔ)且典型的是填脈沖法,以參考信號為基準(zhǔn),基于過零檢測原理,對測量信號進(jìn)行填脈沖,對所填脈沖個數(shù)進(jìn)行計數(shù),獲得測量結(jié)果,測量范圍局限于一個周期。廣義的相位法即小數(shù)測量結(jié)合整周期計數(shù),整周期計數(shù)可采用計數(shù)器進(jìn)行計數(shù),計數(shù)模式有兩種大數(shù)對減和先對減后計數(shù),外差信號的計數(shù)方法有兩種,一種是先計數(shù)后對減,即先對參考信號和測量信號分別計數(shù),然后將計數(shù)結(jié)果對減得到測量結(jié)果,即大數(shù)對減;另一種先對減后計數(shù),即先分別將參考信號和測量信號對頂后形成加減計數(shù)脈沖,然后由可逆計數(shù)器計數(shù)得到測量結(jié)果。在本設(shè)計中,采用先計數(shù)后對減,在原來基礎(chǔ)上做了一定的改善。

  在設(shè)計中,測量信號與參考信號均為數(shù)字信號,小數(shù)測量基于過零檢測原理,采用填脈沖。具體原理如圖1所示。

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