Multitest交付首款I(lǐng)nPhone系統(tǒng)

　　德國(guó)羅森海姆，2011年9月----面向世界各地的集成元件制造商(IDM)和最終測(cè)試分包商，設(shè)計(jì)和制造最終測(cè)試分選機(jī)、測(cè)試座和負(fù)載板的領(lǐng)先廠商Multitest公司，已向一家知名IDM的歐洲基地交付首款InPhone系統(tǒng)。配合Multitest InStrip 分選機(jī)，InPhone系統(tǒng)專用于MEMS麥克風(fēng)的高并行度MEMS測(cè)試與校準(zhǔn)。InStrip 配置適于InCarrier測(cè)試。因此，單粒MEMS封裝可通過(guò)InStrip分選機(jī)進(jìn)行高并行性測(cè)試。

　　對(duì)于先進(jìn)的移動(dòng)通信應(yīng)用而言，麥克風(fēng)MEMS器件變得愈發(fā)重要。這些應(yīng)用需要擴(kuò)展線性頻率范圍，通常亦要求小型封裝，但同時(shí)要求嚴(yán)格控制成本。

　　Mulltitest的InPhone解決方案基于壓力腔體的激勵(lì)，該壓力腔體可確保所有并行測(cè)試器件內(nèi)的同質(zhì)聽(tīng)覺(jué)激勵(lì)。InCarrier®概念甚至能夠支持適于小型器件的穩(wěn)定高并行度測(cè)試。因此，該裝置擁有獨(dú)特的性能和測(cè)試成本優(yōu)勢(shì)。