TD LTE產(chǎn)業(yè)鏈呼喚低成本測(cè)試儀表

　　盡管TD-LTE整體產(chǎn)業(yè)鏈相對(duì)FDDLTE發(fā)展較慢，但是用于TD-LTE測(cè)試的儀表比以往有了很大的改善，已經(jīng)能夠與設(shè)備研發(fā)的步調(diào)相匹配。

　　在網(wǎng)絡(luò)協(xié)議測(cè)試方面，由于TD-LTE測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)仍未最后定稿，所以各廠商仍積極跟蹤TD-LTE標(biāo)準(zhǔn)，不斷更新其產(chǎn)品，以R&S為代表，其協(xié)議測(cè)試儀CMW500，可以提供的頻率高達(dá)6GHz，帶寬為40MHz，可以用于一致性測(cè)試，性能測(cè)試和互操作測(cè)試。

　　網(wǎng)絡(luò)測(cè)試無(wú)論對(duì)TDD還是FDD都是一個(gè)挑戰(zhàn)，在原GSM和UMTS等現(xiàn)有技術(shù)中，涉及網(wǎng)絡(luò)接入，包括擁塞、干擾和覆蓋問(wèn)題等一大部分可觀的信息都在有線網(wǎng)絡(luò)接口上提供，通過(guò)使用傳統(tǒng)工具，就能夠得出測(cè)試結(jié)果，而在LTE中，情況發(fā)生了變化，因?yàn)榫W(wǎng)絡(luò)接入節(jié)點(diǎn)設(shè)計(jì)得更加智能，接入網(wǎng)絡(luò)控制功能直接轉(zhuǎn)移到了eNodeB的網(wǎng)絡(luò)邊緣上。網(wǎng)絡(luò)接入部分和核心部分間的有線接口不再提供關(guān)鍵的無(wú)線性能信息，無(wú)法確定存在哪些問(wèn)題。這意味著廠商和運(yùn)營(yíng)商被迫要直接查看空中接口，以獲得與網(wǎng)絡(luò)接入性能和服務(wù)質(zhì)量有關(guān)的信息，另外還必須能夠把這種分析簡(jiǎn)便地與其他網(wǎng)絡(luò)接口的數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián)起來(lái)。

　　信號(hào)源、信號(hào)分析儀表很多時(shí)候被劃分為基礎(chǔ)通用儀表，之前的測(cè)試廠商的水平已經(jīng)研發(fā)出具有競(jìng)爭(zhēng)力的產(chǎn)品，不存在難點(diǎn)。

　　下一步，一方面測(cè)試廠商需要緊跟TD-LTE標(biāo)準(zhǔn)的確立，盡快推出TD-LTE協(xié)議測(cè)試儀表，另一方面需要從終端測(cè)試產(chǎn)品入手，盡快推出成本低的產(chǎn)業(yè)化儀表。

　　隨著TDD受到的關(guān)注加大可以預(yù)見(jiàn)將會(huì)有更多的測(cè)試廠商參與到TD-LTE測(cè)試儀表的研發(fā)，前景好于預(yù)期。