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如何獲得大功率射頻信號的真實PA輸入阻抗

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作者: 時間:2010-01-13 來源: 收藏

  非理想PA(power amplifier,)的輸入阻抗是在負載拉移系統(tǒng)中采用源拉移方法測量的,這種方法不存在由測量設備阻抗引起的不準確性。但是,對源和負載調(diào)諧器采用多點測量和雙端口S參數(shù)值的測試方法能夠在探針/器件基準面上提取射頻信號功率級真正的PA輸入阻抗。

本文引用地址:http://2s4d.com/article/104901.htm

  隨著人們越來越多的關(guān)注集成式射頻功率應用,對片上元件進行準確的特征分析對于成功實現(xiàn)集成電路設計變得至關(guān)重要。尤其對于PA而言,這一問題更加復雜。發(fā)送通路最后一級的高功率量級決定了PA的多種特殊屬性。其中之一就是它的輸入阻抗較低,該阻抗是隨著功率量級的變化而變化的。一般地,我們采用負載拉移系統(tǒng)測量片上元件的阻抗,或者其他一些不是50Ω理想阻抗的器件。

  在負載拉移系統(tǒng)中,具有最小回波損耗的源阻抗通常被看成是DUT(device undertest,待測器件)的共軛阻抗。如果回波損耗確實在DUT的基準面上,那么使用這種阻抗值是準確的。但是,由于回波功率是在源調(diào)諧器基準面上測量的,因此人們采用不同的方法從在調(diào)諧器基準面上測得的回波功率中提取或“去嵌入”DUT基準面上的回波頻率。與輸入和輸出功率的功率去嵌入方法不同的是,回波功率去嵌入對相位非常敏感。這使得去嵌入回波損耗只能得到一個近似的結(jié)果,只是在調(diào)諧器損耗可以忽略時這一結(jié)果才是準確的。

  分析與方法

  為簡化起見,假設在調(diào)諧器基準面上有一個理想的(即純電阻的)50Ω源阻抗。圖1給出了源調(diào)諧器基準面、DUT輸入基準面、DUT輸出基準面、Γo、Γtuner、Γs和ΓDUT的基本定義。為敘述方便,我們稱源調(diào)諧器基準面為“調(diào)諧器基準面”,稱DUT輸入基準面為“DUT基準面”,這里只分析輸入通路。

  

 

  圖1中反射系數(shù)(Γ)、S端口參數(shù)(S)、阻抗(z)和回波損耗(RL)之間的數(shù)學關(guān)系表達式如下所示:

  

 

  我們的目標是找到RLtuner和RLDUT之間的關(guān)系:

  由于

  

 

  它滿足

  

 

  其中Sij是源調(diào)諧器模塊的雙端口S參數(shù),它連接調(diào)諧器基準面和DUT基準面。

  經(jīng)過化簡,可得

  

 

  顯然,這是Γtuner幅值和相位的函數(shù)。這種相位關(guān)系確實有一個消失點,它出現(xiàn)在下列情況下

  

 

  進一步的分析表明,這一條件等效于理想的匹配網(wǎng)絡(即第二端口上的共軛匹配在第一端口上產(chǎn)生50Ω的阻抗)。這一條件在史密斯圓圖邊緣的高損耗區(qū)域不成立,因為帶有靠近傳動桿中心的內(nèi)部抽頭的調(diào)諧器具有較高的損耗。

  在測量過程中采用的另一個近似處理是假設回波功率可以忽略。在這種情況下,相位差不存在問題。但是,從負載拉移系統(tǒng)測得的回波損耗的大小通常都較大,足以推翻這一假設。而且,回避損耗會隨著功率的變化而變化,因為DUT的阻抗是隨著功率的變化而變化的。因此,在整個射頻功率量級的掃描范圍內(nèi),回波損耗不可能保持較低的水平。



關(guān)鍵詞: 功率放大器

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