NI發(fā)布10款最新DC、數(shù)字、射頻和開關(guān)設(shè)備

　　美國國家儀器有限公司(National Instruments，簡稱NI)近日發(fā)布10款最新PXI產(chǎn)品，有效擴展PXI進(jìn)行混和信號半導(dǎo)體測試的功能。全新以軟件定義的產(chǎn)品套件專為NI LabVIEW圖形化開發(fā)系統(tǒng)而設(shè)計，包含四個高速數(shù)字I/O(HSDIO)儀器、兩個數(shù)字開關(guān)、兩個增強射頻儀器、一個高精度源測量單元(SMU)和專用數(shù)字?jǐn)?shù)字矢量文件導(dǎo)入軟件。全新的NI PXI半導(dǎo)體套件包含多種新特性，包括200 MHz單端數(shù)字I/O、10 pA電流分辨率、快速多頻帶射頻測量、直流/數(shù)字開關(guān)和波形發(fā)生語言(WGL)以及IEEE 1450標(biāo)準(zhǔn)測試接口語言(STIL)文件導(dǎo)入功能。

　　PXI半導(dǎo)體套件進(jìn)一步提升了PXI系統(tǒng)測試通用半導(dǎo)體設(shè)備的性能，例如測試ADC、DAC、電源管理IC、無線IC和微電機系統(tǒng)(MEMS)設(shè)備。由于其配備的高級功能，相比常用于半導(dǎo)體設(shè)備的特征采集、驗證和生產(chǎn)測試的傳統(tǒng)箱式儀器和自動化測試設(shè)備(ATD)解決方案，這個套件提供了更高的吞吐量、更強的靈活性和更快的開發(fā)時間。

　　“來自NI的全新混和信號PXI儀器套件能夠?qū)隬GL和STIL設(shè)計向量，驗證我們IC設(shè)計的數(shù)字協(xié)議和關(guān)鍵時間參數(shù)。PXI和LabVIEW為我們提供了靈活的混和信號特征提取平臺，可以用來快速配置定制的測試，降低產(chǎn)品總開發(fā)時間和評估成本。”

　　David Whitley

　　ADI公司工程師

　　HSDIO儀器的NI PXIe-654x系列儀器包括四個全新模塊，提供了高達(dá)200 MHz的單端時鐘速率和高達(dá)400 Mbps的數(shù)據(jù)速率，讓工程師能夠測試高速芯片設(shè)計，并使用更快的自定制通信協(xié)議。這個系列中的高級數(shù)字模塊包括多種附加特性，例如雙向通信、實時比特位比較、雙數(shù)據(jù)傳輸速率、不同I/O線路的多種定時延遲以及從1.2 V至3.3 V范圍中選擇22個不同電平的功能，提高了數(shù)字I/O測試的靈活性。這些新型的I/O設(shè)備擴展了NI PXI-654x、PXI-655x和PXI-656x系列高速數(shù)字設(shè)備，提供了總共10種高達(dá)200 MHz帶有單端和LVDS電平功能的PXI儀器。

　　新的NI PXI-4132高精度源測量單元(SMU)提供了低至10 pA的電流靈敏度，用于高分辨率電流測量。它帶有遠(yuǎn)程(四線制)傳感和單一輸出的外部保護，在一個PXI插槽中提供了高達(dá)±100 V的電壓承受能力。SMU還提供了多個其他改進(jìn)，包括板載 硬件序列引擎，可用于硬件定時、高速曲線跟蹤和在PXI背板觸發(fā)和同步多個PXI-4132 SMU的能力。PXI-4132作為現(xiàn)有的已提供四象限40 W功率輸出(±20V、±2A)的NI PXI-4130 SMU的補足，為PXI提供了高精度和高功率源測量選項。

　　新型的NI PXI-2515和NI PXIe-2515數(shù)字開關(guān)通過幫助工程師將精確直流儀器直接復(fù)用到連接在被測芯片的HSDIO線路上，進(jìn)一步增強了PXI產(chǎn)品套件。全新開關(guān)還提供了改進(jìn)的信號連接特性，用于參數(shù)測量，同時還保持了在高速數(shù)字邊沿上的信號完整性。

　　全新NI PXIe-5663E和NI PXIe-5673E 6.6 GHz射頻PXI Express矢量信號分析儀和矢量信號發(fā)生器使用稱為射頻列表模式的新特性，通過射頻配置中的快速和確定性的變化，提供了增強的測量速度。全新功能使工程師通過下載預(yù)配置的儀器參數(shù)，在不同的射頻配置之間快速循環(huán)成為可能。這在測試功率放大器和其他需要驗證多個頻率性能的RFIC中尤其有用。這個增加的功能幫助射頻工程師進(jìn)行比傳統(tǒng)儀器更快的多頻帶射頻測量。

　　PXI半導(dǎo)體套件還提供了一種有效導(dǎo)入WGL和STIL數(shù)字矢量格式的解決方案，從而簡化了使用NI PXI高速數(shù)字產(chǎn)品的設(shè)計到測試整合。全新的用于NI軟件的TSSI TD掃描是NI與Test Systems Strategies, Inc.(TSSI)合作的產(chǎn)物，它使得半導(dǎo)體測試工程師將WGL和STIL仿真向量導(dǎo)入PXI系統(tǒng)稱為可能，過去這需要定制軟件開發(fā)。可以在www.ni.com得到WGL/STIL軟件工具的評估版，它支持所有的NI PXI-654x、PXI-655x以及PXI-656x HSDIO系列產(chǎn)品。完整版本可以直接從TSSI購買。