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雷達(dá)物位計(jì)的10大檢測(cè)方法

發(fā)布人:定華電子 時(shí)間:2022-05-12 來(lái)源:工程師 發(fā)布文章

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  雷達(dá)物位計(jì)廣泛應(yīng)用于冶金、建材、能源、石化、水利、糧食等行業(yè).是采用微波技術(shù)來(lái)檢測(cè)料位的高科技產(chǎn)品,該料位儀利用微波具有穿透性好,對(duì)惡劣環(huán)境及被測(cè)物料適應(yīng)性強(qiáng)等特點(diǎn),采用世界上先進(jìn)的大規(guī)模集成電路,利用雷達(dá)原理、數(shù)字信號(hào)處理技術(shù)和快速傅里葉變換(FFT)技術(shù).采用連續(xù)式乍動(dòng)測(cè)量,能測(cè)量液體、固體(塊狀、粉狀)料位,具有測(cè)距遠(yuǎn)、精度高等特點(diǎn).


  1.調(diào)查法

  運(yùn)用視覺(jué)、嗅覺(jué)、觸覺(jué).某些時(shí)候,損壞了的元件會(huì)變色、起泡或呈現(xiàn)燒焦的斑駁;燒壞的器材會(huì)發(fā)出一些特別的氣味;短路的芯片會(huì)發(fā)燙;用肉眼也能調(diào)查到虛焊或脫焊處.


  2.敲擊法

  當(dāng)發(fā)現(xiàn)雷達(dá)物位計(jì)運(yùn)行時(shí)好時(shí)壞的情況,這種情況絕大多數(shù)是因?yàn)橛|摸不良或虛焊形成的.關(guān)于這種狀況能夠選用敲擊與手壓法.所謂的"敲擊"即是對(duì)或許發(fā)作問(wèn)題的部位,經(jīng)過(guò)小橡皮鎯頭或別的敲擊物輕輕擊打插件板或部件,看看是不是會(huì)引起犯錯(cuò)或停機(jī)問(wèn)題.


  所謂"手壓"即是在問(wèn)題呈現(xiàn)時(shí),關(guān)上電源后對(duì)插座的部件和插頭用手壓牢,再開(kāi)機(jī)試試是不是會(huì)消除問(wèn)題.假如發(fā)現(xiàn)擊打一下機(jī)殼正常,再擊打又不正常時(shí),最佳先將一切接頭重插牢再試.


  3.更換法

  請(qǐng)求有兩臺(tái)同類型的儀器或有足夠的備件.將一個(gè)好的備品與問(wèn)題機(jī)上的同一元器材進(jìn)行更換,看問(wèn)題是不是消除.


  4.排除法

  所謂的排除法是經(jīng)過(guò)拔插機(jī)內(nèi)一些插件板、器材來(lái)判斷問(wèn)題因素的辦法.當(dāng)拔除某一插件板或器材后外表康復(fù)正常,就闡明問(wèn)題發(fā)作在那里.


  5.升降溫法

  有時(shí)外表作業(yè)較長(zhǎng)時(shí)刻,或在夏日作業(yè)環(huán)境溫度較高時(shí)就會(huì)呈現(xiàn)問(wèn)題,關(guān)機(jī)查看正常,停一段時(shí)刻再開(kāi)機(jī)又正常,過(guò)一瞬間又呈現(xiàn)問(wèn)題.這種景象是因?yàn)閱蝹€(gè)IC或元器材功能差,高溫特性參數(shù)達(dá)不到目標(biāo)請(qǐng)求所造成的.為了找出問(wèn)題因素金屬加工網(wǎng),可選用升降溫法.


  所謂降溫,即是在問(wèn)題呈現(xiàn)時(shí),用棉纖將無(wú)水酒精在可能出問(wèn)題的部位抹擦,使其降溫,調(diào)查問(wèn)題是不是消除.所謂升溫即是人為地將環(huán)境溫度升高,比方用電烙鐵放近有疑點(diǎn)的部位(留意切不可將溫度升得太高致使損壞正常器材)試看問(wèn)題是不是呈現(xiàn).


  6.比照法

  請(qǐng)求有兩臺(tái)同類型的智能雷達(dá)液位計(jì)外表,并有一臺(tái)是正常運(yùn)行的.運(yùn)用這種辦法還要具有必要的設(shè)備,例如,萬(wàn)用表、示波器等.按對(duì)比的性質(zhì)分有,電壓對(duì)比、波形對(duì)比、靜態(tài)阻抗對(duì)比、輸出結(jié)果對(duì)比、電流對(duì)比等.


  具體辦法是:讓有問(wèn)題的外表和正常外表在一樣狀況下運(yùn)行,然后檢查一些點(diǎn)的信號(hào)再對(duì)比所測(cè)的兩組信號(hào),若有不一樣,則能夠判定問(wèn)題出在這里.這種辦法請(qǐng)求修理人員具有適當(dāng)?shù)某WR(shí)和技術(shù).


  7、騎肩法

  騎肩法也稱并聯(lián)法.把一塊好的IC芯片安在要查看的芯片之上,或者把好的元器材(電阻電容、二極管、三極管等)與要查看的元器材并聯(lián),檢查觸摸,假如問(wèn)題出自于器材內(nèi)部開(kāi)路或觸摸不良等因素,則選用這種辦法能夠排除.


  8、隔離法

  問(wèn)題隔離法不需要一樣類型的設(shè)備或備件作對(duì)比,并且安全可靠.根據(jù)問(wèn)題檢查流程圖,切割圍住逐漸縮小問(wèn)題搜索范圍件交換等辦,再合作信號(hào)比照、部法,通常會(huì)很快查到問(wèn)題之處.


  9、電容旁路法

  當(dāng)某一電路發(fā)作對(duì)比古怪的情況,例如顯示器紊亂時(shí),能夠用電容旁路法斷定大約出問(wèn)題的電路.


  10、狀況調(diào)整法

  通常來(lái)說(shuō),在問(wèn)題未斷定前,不要隨意牽動(dòng)電路中的元器材特別是可調(diào)整式器材更是如此,例如電位器等.但是假如事前采納復(fù)參閱辦法(例如,在未牽動(dòng)前先做好位置記號(hào)或測(cè)出電壓值或電阻值等),必要時(shí)仍是允許牽動(dòng)的.或許改動(dòng)以后有時(shí)問(wèn)題會(huì)消除.


  IC的電源和地端,對(duì)晶體管電路跨接在基極輸入端或集電極輸出端,調(diào)查對(duì)問(wèn)題景象的影響.假如電容旁路輸入端無(wú)效而旁路它的輸出端時(shí)問(wèn)題景象消失,則斷定問(wèn)題就呈如今這一級(jí)電路中.


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