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高阻器件低頻噪聲測(cè)試技術(shù)與應(yīng)用研究--高阻樣品噪聲測(cè)試解決方案

  • 3.2 高阻樣品噪聲測(cè)試解決方案為解決國(guó)內(nèi)外現(xiàn)有高阻器件低頻噪聲測(cè)試技術(shù)中存在的問(wèn)題，本文設(shè)計(jì)了兩種噪聲測(cè)試技術(shù)作為解決方案，分別是一種電壓噪聲測(cè)試技術(shù)和一種電流噪聲測(cè)試技術(shù)。這兩種技術(shù)分別解決了前文中描
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高阻器件低頻噪聲測(cè)試技術(shù)與應(yīng)用研究--測(cè)試技術(shù)介紹

  • 電壓噪聲測(cè)試系統(tǒng)的實(shí)現(xiàn)是一套同時(shí)基于軟件和硬件平臺(tái)的測(cè)試系統(tǒng)。其中硬件平臺(tái)由前端適配器、若干同軸電纜、放大電路、數(shù)據(jù)采集卡、計(jì)算機(jī)組成。軟件平臺(tái)由數(shù)據(jù)采集軟件模塊、數(shù)據(jù)分析模塊、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)模塊組成。硬件
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高阻器件低頻噪聲測(cè)試技術(shù)與應(yīng)用研究文獻(xiàn)匯總,包括技術(shù)理論及解決方案

  • 電子器件或材料按其等效電阻大小可劃分為：高阻器件、中阻器件、低阻器件。根據(jù)傳統(tǒng)噪聲測(cè)試原理，改進(jìn)已有噪聲測(cè)試技術(shù)和測(cè)試方法還可以繼續(xù)測(cè)量一些等效阻值在該范圍之外的器件的噪聲，這些器件被定義為低阻器件或
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高阻器件介紹

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