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逐次逼近
逐次逼近 文章 進(jìn)入逐次逼近技術(shù)社區(qū)
基于40 nm CMOS工藝的高速SAR ADC的設(shè)計(jì)
- 基于40 nm CMOS工藝,設(shè)計(jì)了一種高速逐次逼近型模數(shù)轉(zhuǎn)換器。本設(shè)計(jì)采用了非二進(jìn)制冗余DAC技術(shù)來(lái)緩解ADC對(duì)建立時(shí)間和建立精度的要求,來(lái)提高ADC量化的準(zhǔn)確性;采用帶有預(yù)放大級(jí)的高速比較器來(lái)提高比較器的精度,同時(shí)減小后級(jí)Latch的回踢噪聲,采用了兩級(jí)Latch來(lái)進(jìn)一步提高比較器的速度;采用基于鎖存器的鎖存單元來(lái)提高SAR邏輯控制電路的速度,并且采用了異步時(shí)序控制,不需要外部時(shí)鐘,有利于提高SAR ADC的速度,并降低了設(shè)計(jì)的復(fù)雜度。設(shè)計(jì)的SAR ADC在160 MHz的采樣頻率下,在不同輸入信號(hào)頻
- 關(guān)鍵字: 高速通信 模數(shù)轉(zhuǎn)換器 逐次逼近 非二進(jìn)制 201803
10位逐次逼近型A/D轉(zhuǎn)換器的芯片設(shè)計(jì)
- 1 引言A/D轉(zhuǎn)換器是模擬系統(tǒng)與數(shù)字系統(tǒng)接口的關(guān)鍵部件,可以將需要測(cè)量的模擬信號(hào)精確地轉(zhuǎn)換成數(shù)字量信號(hào)。一旦以數(shù)字形式出現(xiàn),就能簡(jiǎn)單而準(zhǔn)確地對(duì)其進(jìn)行處理,從而提取出有用的信息?,F(xiàn)代電子系統(tǒng)中,模數(shù)轉(zhuǎn)換器(A
- 關(guān)鍵字: 逐次逼近 芯片設(shè)計(jì) 轉(zhuǎn)換器
一種中速高精度模擬電壓比較器的設(shè)計(jì)
- 關(guān)鍵字: 比較器 鎖存囂 失調(diào)校準(zhǔn) 弱正反饋 逐次逼近
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逐次逼近介紹
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