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通過左移DRC設(shè)計規(guī)則檢查方法降低IC設(shè)計復(fù)雜性

• 最成功的半導(dǎo)體公司都知道，集成電路 （IC） 設(shè)計日益復(fù)雜，這讓我們的傳統(tǒng)設(shè)計規(guī)則檢查 （DRC） 方法不堪重負。迭代的“通過校正構(gòu)建”方法適用于更簡單的自定義布局，但現(xiàn)在卻造成了大量的運行時和資源瓶頸，阻礙了設(shè)計團隊有效驗證其高級設(shè)計和滿足緊迫的上市時間目標(biāo)的能力。為了克服這種設(shè)計復(fù)雜性，主要半導(dǎo)體公司不斷從其生態(tài)系統(tǒng)合作伙伴那里尋找有效的工具。西門子 EDA 是一家大型電子設(shè)計自動化 （EDA） 公司，它提供了一種新的、強大的左移驗證策略，他們對其進行了評估并宣布它改變了他們早期設(shè)計階段的游
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