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基于PXI和LabVIEW的FCT(Functional Circuit Test)
- 挑戰(zhàn):通過PXI 控制板卡和LabVIEW軟件,構(gòu)建一套比較完整齊全的PCB板的功能測試(FCT)系統(tǒng),利用該系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)對(duì)音頻視頻以及各種靜態(tài)參數(shù)(電壓、電流、頻率)的綜合性全自動(dòng)測試,對(duì)于新開發(fā)生產(chǎn)的PCB板,工廠無需頻
- 關(guān)鍵字: Functional LabVIEW Circuit Test
科利登獲《測試與測量世界》Best in Test Award
- 科利登系統(tǒng)有限公司(Credence Systems Corporation, 納斯達(dá)克代碼:CMOS)日前宣布其Sapphire D-10系統(tǒng)榮獲2006年度《測試與測量世界》雜志授予的”Best in Test award”(譯:最佳測試獎(jiǎng))獎(jiǎng)項(xiàng)。 Sapphire D-10是下一代成本敏感型消費(fèi)類芯片測試系統(tǒng)。Sapphire D-10是一款極緊湊的測試系統(tǒng),它采用先進(jìn)科技,集成了更多更好的特性功能。Sapph
- 關(guān)鍵字: Award Best in Test 測試與測量世界 科利登 測試測量
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