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CMOS圖像傳感器中時問延遲積分的實現(xiàn)與優(yōu)化
- 1 引 言 利用高速線掃描攝像機進行監(jiān)控,具有在線監(jiān)控、高精度和高速度的特點[1,2],一般常見的線掃描攝像機,感光器上的每個像素在進行動態(tài)掃描時,每次僅對移動中的物體做一次曝光,而時間延遲積分(TDI)電路具備較多且有效的積分時間,從而增強信號的輸出強度。目前,TDI技術的研究多局限于CCD工藝。CCD器件是實現(xiàn)TDI的理想器件,它能夠實現(xiàn)無噪聲的電荷累加[3~5],但傳統(tǒng)CCD圖像傳感器技術存在驅動電路和信號處理電路難與CCD成像陣列單片集成,需要較高的工作電壓,不能與深亞微米超大規(guī)模集成電
- 關鍵字: 模擬技術 電源技術 TDI CMOS 圖像傳感器 傳感器 執(zhí)行器
一種帶有軟啟動的精密CMOS帶隙基準設計
- 引 言 帶隙基準是所有基準電壓中最受歡迎的一種,由于其具有與電源電壓、工藝、溫度變化幾乎無關的突出優(yōu)點,所以被廣泛地應用于高精度的比較器、A/D或D/A轉換器、LDO穩(wěn)壓器以及其他許多模擬集成電路中。帶隙基準的主要作用是在集成電路中提供穩(wěn)定的參考電壓或參考電流,這就要求基準對電源電壓的變化和溫度的變化不敏感。 本文結合工程實際的要求設計了一款具有低噪聲、高精度且可快速啟動的CMOS帶隙基準源。采用UMC公司的0.6μm 2P2M標準CMOS工藝模型庫進行仿真,HSPICE的仿真結果表明該基
- 關鍵字: 嵌入式系統(tǒng) 單片機 CMOS 帶隙基準 比較器 測量工具
Si整流器與SiC二極管:誰與爭鋒
- 在當今的電氣設備中,功率半導體和電抗式元件(電容和電感)隨處可見。它們在正常工作過程中會在為其供電的交流電線上產生兩種不希望出現(xiàn)的副作用。 首先,這些器件會引起較小的功率因數(shù)。其次,它們會使線電流失真,引起電噪聲或者產生與線電壓之間的相位偏移。 功率因數(shù)是指實際使用的功率與交流線上產生的視在功率二者的比值。電氣設備中如果存在大電容或者電感就會導致視在功率大于實際使用的功率,出現(xiàn)較小的功率因數(shù)。 功率因數(shù)越小,在為設備供電的交流導線上損耗的電能就越多。如果設備中的功率半導體開關操作非常
- 關鍵字: 模擬技術 電源技術 Si 整流器 二極管 元器件用材料
奧地利微電子為代工用戶擴展CMOS、高壓、高壓FLASH和RF多項目晶圓服務
- 奧地利微電子的全方位服務晶圓代工廠業(yè)務部推出一份更加全面的 2008 年度時間表,擴展了其具有成本效益的、快速的專用集成電路(ASIC)原型服務,即所謂以多項目晶圓 (MPW) 或往復運行(shuttle run)。該服務將來自不同用戶的若干設計結合在一個晶圓上,有助于眾多不同的參與者分攤晶圓和掩膜成本。 RF多項目晶圓服務 奧地利微電子的 MPW 服務包括基于 TSMC(臺積電)0.35µm CMOS 工藝的全程0.35µm尺寸工藝。兼容 SiGe BiCMOS
- 關鍵字: 消費電子 奧地利微電子 CMOS FLASH MCU和嵌入式微處理器
Cypress推高速CMOS圖像傳感器LUPA-1300-2
- 賽普拉斯半導體(Cypress)近日發(fā)布了一款高靈敏度、高速SXGA(超級擴展型圖形陣列)分辨率CMOS圖像傳感器的商業(yè)樣品。這款新型130萬像素LUPA-1300-2傳感器是一款提供了觸發(fā)和管線同步快門(pipelinedsynchrounousshutter)和片上數(shù)字LVDS(低壓差分信號)輸出的產品。本產品針對機器視覺和運動分析應用而開發(fā),具備500幀/秒(fps)的高幀頻以及窗口功能,能夠提供無失真圖像并執(zhí)行快速讀出。 LUPA-1300-2的特色包括了一個全同步面曝光快門,使其能夠于
- 關鍵字: 消費電子 Cypress CMOS 圖像傳感器 音視頻技術
賽普拉斯推出LVDS輸出的高速SXGC CMOS圖像傳感器
- 賽普拉斯半導體公司近日發(fā)布了一款高靈敏度、高速SXGA(超級擴展型圖形陣列)分辨率CMOS圖像傳感器的商業(yè)樣品。這款新型130萬像素LUPA-1300-2傳感器是業(yè)界第一款提供了觸發(fā)和管線同步快門(pipelined synchrounous shutter)和片上數(shù)字LVDS(低壓差分信號)輸出的產品。本產品針對機器視覺和運動分析應用而開發(fā),具備500幀/秒(fps)的高幀頻以及窗口功能,能夠提供無失真圖像并執(zhí)行快速讀出。 LUPA-1300-2的特色包括了一個全同步面曝光快門,使其能夠于在拍
- 關鍵字: 模擬技術 電源技術 賽普拉斯 圖像傳感器 CMOS 測試測量
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