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AT84AD001型ADC在2GHz高速信號(hào)采集系統(tǒng)中的應(yīng)用

  •   1 AT84AD001的主要特點(diǎn)   AT84AD001是Atmel(代理商:聚興科技)公司生產(chǎn)的基于BICMOS技術(shù)的高速ADC,該器件在一片ADC上集成了兩路(I和Q)獨(dú)立的ADC,具有8 bit轉(zhuǎn)換精度,每個(gè)通道具有l(wèi) GS/s的采樣率,在交錯(cuò)模式下雙路ADC并行采樣可以達(dá)到2 GS/s的采樣率。AT84AD001內(nèi)部集成了1:1和1:2的數(shù)據(jù)多路分離器(DMUX)和LVDS輸出緩沖器,可以降低輸出數(shù)據(jù)率,也可以方便地與多種類(lèi)型的高速FPGA直接相連,實(shí)現(xiàn)高速率的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)和處理。為補(bǔ)償由于器件
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靈活的Hopfield神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)ADC消除噪聲

  •   簡(jiǎn)單電阻比較器電路形成魯棒的Hopfield神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)ADC   Hopfield網(wǎng)絡(luò)可以將模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換成數(shù)字形式,實(shí)現(xiàn)聯(lián)想記憶、信號(hào)估計(jì)和組合最優(yōu)化,類(lèi)似于人類(lèi)視網(wǎng)膜實(shí)現(xiàn)第一極信號(hào)處理的方法。本設(shè)計(jì)方案探究了Hopfield神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)ADC的范例。   簡(jiǎn)單的轉(zhuǎn)換器由一層神經(jīng)元組成,其接收模擬輸入,并產(chǎn)生數(shù)字位輸出;這樣的神經(jīng)元構(gòu)成了一種自適應(yīng)和分布性的處理網(wǎng)絡(luò)。這些神經(jīng)元由電壓比較器組成,驅(qū)動(dòng)模擬轉(zhuǎn)換器或跟隨器,從轉(zhuǎn)換器或比較器的模擬輸出到跟隨器之間連接反饋電阻(圖1和圖2)。參考和模擬輸入電壓驅(qū)
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NS使CTSD走出實(shí)驗(yàn)室 引領(lǐng)ADC技術(shù)革新

  • ????? “15年來(lái),CTSD技術(shù)一直是高校與業(yè)內(nèi)的熱門(mén)研究課題。采用連續(xù)時(shí)間 sigma-delta (CTSD) 技術(shù)的高速模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器(ADC)ADC12EU050芯片的推出意味著美國(guó)國(guó)家半導(dǎo)體(NS)成為首家成功將CTSD技術(shù)從實(shí)驗(yàn)室轉(zhuǎn)移到實(shí)際生產(chǎn)應(yīng)用領(lǐng)域的芯片廠商。美國(guó)國(guó)家半導(dǎo)體還計(jì)劃推出更多采用CTSD技術(shù)的模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器產(chǎn)品,讓成像系統(tǒng)、通信設(shè)備以及測(cè)試和測(cè)量?jī)x表等電子產(chǎn)品能夠以極低的功率發(fā)揮卓越的動(dòng)態(tài)性能?!?/li>
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ADC時(shí)延和建立時(shí)間的區(qū)別

  • 對(duì)于大多數(shù) ADC 用戶來(lái)說(shuō),“時(shí)延”和“建立時(shí)間”這兩個(gè)術(shù)語(yǔ)有時(shí)可以互換。但對(duì)于 ADC 設(shè)計(jì)人員而言,他們非常清楚這兩個(gè)術(shù)語(yǔ)的區(qū)別,以及這些現(xiàn)象將會(huì)如何影響您的應(yīng)用電路。ADC
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應(yīng)分析好SAR ADC才能為寬廣應(yīng)用開(kāi)導(dǎo)

  • 本文詳述SAR(逐次逼近寄存器型) ADC位結(jié)構(gòu)特點(diǎn)與工作原理并與其它型ADC作比較,以此作出選擇。
  • 關(guān)鍵字: SAR ADC,寬廣應(yīng)用  

在需求多路高分辨率ADC的應(yīng)用中實(shí)現(xiàn)前所未有的成本和性能

  • 為了滿足應(yīng)用目標(biāo),覆蓋范圍極廣的復(fù)雜設(shè)計(jì),例如自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE),醫(yī)療儀器和監(jiān)控設(shè)備,數(shù)據(jù)采集系統(tǒng),實(shí)驗(yàn)室儀器以及工業(yè)自動(dòng)化方面所用的可編程邏輯控制器(PLC)等,都取決于高分辨率的ADC。其結(jié)果是,ADC為現(xiàn)實(shí)的“模擬世界”和利用數(shù)字信息的“處理世界”之間提供了一座橋梁。
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ADI新型SAR ADC內(nèi)建可編程增益放大器與比較器

  • ADI推出整合型連續(xù)近似 模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器(SAR ADC)──AD7264,具備了兩組內(nèi)建的SAR ADCs、可編程增益放大器以及比較器等特點(diǎn),在汽車(chē)控制應(yīng)用領(lǐng)域方面可以和多組傳感器連接以取代相當(dāng)于三塊資料采集板的功能。
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Linear推出12位單/雙通道500ksps SAR ADC

  • 凌力爾特公司推出引腳和軟件都兼容的單/雙通道 12 位模數(shù)轉(zhuǎn)換器 (ADC) LTC2302 和 LTC2306。這兩款 ADC 都通過(guò) SPI 兼容串行接口通信,輸出變化率高達(dá) 500ksps。
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ADI推出采用小型封裝的16 Bit SAR ADC

  • 美國(guó)模擬器件公司(Analog Devices Inc.,紐約證券交易所代碼:ADI),全球領(lǐng)先的高性能信號(hào)處理解決方案供應(yīng)商,近日在馬薩諸塞州諾伍德市(Norwood,Massachusetts)發(fā)布其采用小型封裝的最快速最精確的16 bit逐次逼近型(SAR)模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)——AD7686。
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凌力爾特公司推出16位和12位SAR ADC

  • 2008 年1 月24 日,凌力爾特公司 (Linear Technology Corporation) 推出一系列引腳和軟件都兼容的16 位和 12 位 SAR ADC,這個(gè)系列的器件保證在 -40oC 至 +125oC 的汽車(chē)溫度范圍內(nèi)工作。
  • 關(guān)鍵字: 凌力爾特  SAR ADC  

凌力爾特推出一系列引腳和軟件都兼容的 16 位和 12 位 SAR ADC

  •   凌力爾特公司 (Linear Technology Corporation) 推出一系列引腳和軟件都兼容的 16 位和 12 位 SAR ADC,這個(gè)系列的器件保證在 -40oC 至 +125oC 的汽車(chē)溫度范圍內(nèi)工作。16 位 LTC1864/LTC1865 和 12 位 LTC1860/ LTC1861 都用單 5V 電源工作,每個(gè)器件僅消耗 850uA 電流,并保證輸出率高達(dá) 250ksps。LTC1864 和 LTC1860 是引腳和軟件兼容的 ADC,在纖巧 MSOP-8 封裝測(cè)量單個(gè)差分通
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AD8555型數(shù)字可編程放大器的原理及應(yīng)用

  •   1 引言   AD8555是ADI推出的一款增益及輸出失調(diào),可數(shù)字編程的零漂移橋式傳感放大器,工作電壓為2.7 V~5.5 V,工作溫度范圍為-40℃~125℃;其數(shù)字可編程增益控制范圍為70~l 280;DC和ACCMRR高達(dá)96 dB;輸入失調(diào)電壓低(最大為10μV),輸入失調(diào)電壓漂移50 nV/℃;通過(guò)外接電容器,可以方便地實(shí)現(xiàn)低通濾波功能;輸入和輸出范圍很寬,能驅(qū)動(dòng)低電壓ADC。另外,AD8555還具有開(kāi)路和短路故障保護(hù)以及輸出擺幅限制功能。AD8555的這些特性給設(shè)計(jì)人員在對(duì)放大器進(jìn)行調(diào)整
  • 關(guān)鍵字: AD8555  ADC  放大器  放大器  

應(yīng)用模擬微控制器簡(jiǎn)化數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)設(shè)計(jì)

面向波束成形應(yīng)用的ADC陣列

  • 電子產(chǎn)品世界,為電子工程師提供全面的電子產(chǎn)品信息和行業(yè)解決方案,是電子工程師的技術(shù)中心和交流中心,是電子產(chǎn)品的市場(chǎng)中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網(wǎng)絡(luò)家園
  • 關(guān)鍵字: ADC  美國(guó)模擬器件公司  

TD-SCDMA終端測(cè)試儀中ADC/DAC和射頻模塊的設(shè)計(jì)

  • 本文介紹了TD-SCDMA終端測(cè)試儀的系統(tǒng)設(shè)計(jì)及工作原理。分析了終端測(cè)試儀對(duì)ADC/DAC和射頻模塊的要求,同時(shí)介紹了MAX19700、MAX2507、MAX2392芯片。重點(diǎn)描述了測(cè)試儀如何控制芯片收發(fā)信號(hào)。
  • 關(guān)鍵字: 模塊  設(shè)計(jì)  射頻  ADC/DAC  終端  測(cè)試儀  TD-SCDMA  
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