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NI miniSystems促進(jìn)實(shí)踐性教育的發(fā)展

  • 美國(guó)國(guó)家儀器公司(National Instruments, 簡(jiǎn)稱 NI)近日推出了NI miniSystems，它是一些真實(shí)系統(tǒng)的微型版本，例如測(cè)功機(jī)和智能電網(wǎng)，由NI與教育界的領(lǐng)先供應(yīng)商聯(lián)合開(kāi)發(fā)。當(dāng)學(xué)生開(kāi)始進(jìn)修工程學(xué)位時(shí)，NI miniSystems可以幫助學(xué)生快速具象地了解數(shù)學(xué)和科學(xué)的理論知識(shí)。
  • 關(guān)鍵字： NI  miniSystems  測(cè)功機(jī)  

NI 圖形化系統(tǒng)設(shè)計(jì)平臺(tái)助力2012 中國(guó)機(jī)器人大賽

  • 美國(guó)國(guó)家儀器公司(National Instruments, 簡(jiǎn)稱NI)攜手上海交通大學(xué)于2012年12月1日到2日共同舉行2012中國(guó)機(jī)器人大賽暨RoboCup公開(kāi)賽(上海賽區(qū))籃球機(jī)器人比賽。來(lái)自全國(guó)各地9所高校的9支隊(duì)伍、共50余名參賽隊(duì)員代表參加了此次比賽，圍繞籃球機(jī)器人1大項(xiàng)3小項(xiàng)項(xiàng)目展開(kāi)競(jìng)技。
  • 關(guān)鍵字： NI  圖形化系統(tǒng)  機(jī)器人  

NI推出6款用于NI CompactRIO及NI CompactDAQ平臺(tái)的I/O模塊

  • 美國(guó)國(guó)家儀器公司(National Instruments, 簡(jiǎn)稱 NI)近日針對(duì)NI CompactRIO嵌入式控制系統(tǒng) 和 NI CompactDAQ模塊化數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)推出了6款全新的C系列模塊。通過(guò)擴(kuò)展C系列平臺(tái), NI為工程師和科學(xué)家提供全新升級(jí)的用于廣泛嵌入式控制、監(jiān)測(cè)和數(shù)據(jù)采集的各種選項(xiàng)。
  • 關(guān)鍵字： NI  測(cè)量平臺(tái)  嵌入式  

在無(wú)人機(jī)制導(dǎo)、導(dǎo)航與控制中應(yīng)用半實(shí)物仿真

  • “使用NI PXI，我們能夠在實(shí)時(shí)狀態(tài)下以低延時(shí)完成復(fù)雜的無(wú)人機(jī)模型仿真，并完美地模擬了航空設(shè)備界面?！?/li>
  • 關(guān)鍵字： NI  HIL  LabVIEW  

使用LabVIEW、PXI、DAQ和DIAdem搭建聲納導(dǎo)流罩監(jiān)測(cè)系統(tǒng)

  • “我們使用NI LabVIEW軟件和NI PXI數(shù)據(jù)采集硬件開(kāi)發(fā)聲納導(dǎo)流罩監(jiān)測(cè)系統(tǒng)來(lái)采集、處理所有的相關(guān)板載數(shù)據(jù)，并使用NI DIAdem搭建了一個(gè)后處理系統(tǒng)?！?/li>
  • 關(guān)鍵字： NI  監(jiān)測(cè)系統(tǒng)  LabVIEW  

Qualcomm使用NI VST進(jìn)行802.11ac測(cè)試，改進(jìn)測(cè)試速度和范圍

  • 就傳統(tǒng)儀器而言，每次測(cè)試大約會(huì)取得40個(gè)重要的WLAN收發(fā)器數(shù)據(jù)點(diǎn)。 NI PXI矢量信號(hào)收發(fā)儀的測(cè)試速度非常快，因此能執(zhí)行完整的增益表掃頻，進(jìn)而采集共300,000個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)。
  • 關(guān)鍵字： NI  Qualcomm  測(cè)試  FPGA  

NI參加2012 TD-LTE測(cè)試技術(shù)研討會(huì)

  • 美國(guó)國(guó)家儀器公司(National Instruments, 簡(jiǎn)稱NI)于2012年11月23日參加了由工業(yè)和信息化部電信研究院和TD技術(shù)論壇聯(lián)合舉辦的2012 TD-LTE測(cè)試技術(shù)研討會(huì)。NI在此研討會(huì)上發(fā)表了題為"重新定義移動(dòng)通信測(cè)試——從研發(fā)驗(yàn)證到制造測(cè)試"的精彩演講，演講人NI中國(guó)無(wú)線通信行業(yè)市場(chǎng)經(jīng)理湯敏被評(píng)為"企業(yè)演講最佳演講人"。
  • 關(guān)鍵字： NI  TD-LTE  通信  

NI PXI矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀助半導(dǎo)體移動(dòng)設(shè)備制造商降低測(cè)試成本

  • 美國(guó)國(guó)家儀器公司(National Instruments, 簡(jiǎn)稱 NI)近日發(fā)布了NI NI PXIe-5632 VNA，它經(jīng)進(jìn)一步優(yōu)化，可幫助工程師滿足日益復(fù)雜的射頻測(cè)試要求，而其成本、尺寸和使用所需時(shí)間僅是傳統(tǒng)堆疊式解決方案的極小一部分。
  • 關(guān)鍵字： NI  分析儀  PXIe-5632  

NI TestStand 2012采用新的模塊化框架

  • 美國(guó)國(guó)家儀器公司(National Instruments, 簡(jiǎn)稱 NI)近日發(fā)布全新版本的自動(dòng)化測(cè)試管理軟件 —— NI TestStand 2012。憑借其全新的模塊化流程架構(gòu)，NI TestStand 2012幫助工程師提升了自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的靈活性和吞吐量。新的模塊化架構(gòu)讓測(cè)試設(shè)置變得更為容易，擴(kuò)展了測(cè)試和報(bào)告的靈活性，讓工程師可在并行測(cè)試中同時(shí)進(jìn)行這兩項(xiàng)任務(wù)。
  • 關(guān)鍵字： NI  TestStand  測(cè)試系統(tǒng)  

儀器 ? 變革進(jìn)行時(shí)

  • 由美國(guó)國(guó)家儀器有限公司(National Instruments，簡(jiǎn)稱NI)舉辦的“NIDays全球圖形化系統(tǒng)設(shè)計(jì)盛會(huì)”中國(guó)站于11月16日在北京萬(wàn)達(dá)索菲特大飯店圓滿落幕。今年的NIDays以“儀器 ? 變革進(jìn)行時(shí)”為主題，向近千位來(lái)自不同行業(yè)的工程師和二十多家行業(yè)媒體全方位展示了NI在推動(dòng)測(cè)試測(cè)量、控制和設(shè)計(jì)領(lǐng)域及創(chuàng)新技術(shù)應(yīng)用方面一直所做的努力。
  • 關(guān)鍵字： NI  測(cè)試測(cè)量  嵌入式  

NI TestStand 2012采用新的模塊化框架

  • 美國(guó)國(guó)家儀器公司(National Instruments, 簡(jiǎn)稱 NI)近日發(fā)布全新版本的自動(dòng)化測(cè)試管理軟件 —— NI TestStand 2012。憑借其全新的模塊化流程架構(gòu)，NI TestStand 2012幫助工程師提升了自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的靈活性和吞吐量。新的模塊化架構(gòu)讓測(cè)試設(shè)置變得更為容易，擴(kuò)展了測(cè)試和報(bào)告的靈活性，讓工程師可在并行測(cè)試中同時(shí)進(jìn)行這兩項(xiàng)任務(wù)。
  • 關(guān)鍵字： NI  自動(dòng)化測(cè)試  

NI TestStand 2012采用新的模塊化框架

  • NI TestStand 2012采用全新的模塊化框架，能夠簡(jiǎn)化自動(dòng)化測(cè)試的開(kāi)發(fā)和報(bào)告生成。NI TestStand 2012包含新的異步數(shù)據(jù)記錄和報(bào)告生成方法，適用于并行測(cè)試，還能夠提升測(cè)試吞吐量。
  • 關(guān)鍵字： NI  測(cè)試  

復(fù)雜的汽車電子系統(tǒng)需要高效的測(cè)試解決方案

  • 美國(guó)國(guó)家儀器公司(NI)在汽車電子領(lǐng)域已經(jīng)耕耘了多年，在半導(dǎo)體技術(shù)與汽車融合的大趨勢(shì)下，他們有哪些舉措呢?為此，我們采訪了NI公司汽車電子方面的產(chǎn)品經(jīng)理Noah Reading，聽(tīng)他來(lái)講述NI公司在汽車電子方面的解決之道。
  • 關(guān)鍵字： NI  ECU  汽車電子  

LabVIEW系統(tǒng)設(shè)計(jì)軟件對(duì)數(shù)字開(kāi)發(fā)的影響

  • 長(zhǎng)期以來(lái)的預(yù)測(cè)趨勢(shì)揭示了整個(gè)系統(tǒng)設(shè)計(jì)流程中的設(shè)計(jì)和測(cè)試趨于統(tǒng)一，這兩個(gè)先前獨(dú)立的功能將被集成在一起。集成功能的明顯優(yōu)勢(shì)在于縮短了投入市場(chǎng)的時(shí)間并獲得更好的整體質(zhì)量，而這些優(yōu)勢(shì)都?xì)w功于在創(chuàng)建設(shè)計(jì)的同時(shí)集成了測(cè)試定義和實(shí)現(xiàn)。在系統(tǒng)設(shè)計(jì)過(guò)程中，從仿真到實(shí)現(xiàn)以及最終系統(tǒng)部署，都可以對(duì)這些早期測(cè)試平臺(tái)進(jìn)行重用。
  • 關(guān)鍵字： NI  LabVIEW  FPGA  

整合高性能儀器和FPGA 實(shí)現(xiàn)最佳WLAN測(cè)量

  • 在下一代無(wú)線局域網(wǎng)白皮書(shū)中已經(jīng)討論了最新的802.11標(biāo)準(zhǔn)存在的一些問(wèn)題。眾所周知，測(cè)試工程師都想盡快找到測(cè)試該標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試設(shè)備。大多數(shù)測(cè)試工程師發(fā)現(xiàn)使用最佳性能的昂貴盒式儀器的傳統(tǒng)方法已經(jīng)無(wú)法適用于該情況。出現(xiàn)該問(wèn)題的原因十分簡(jiǎn)單：測(cè)試工程師急需各種資源，主要包括時(shí)間、預(yù)算和空間。
  • 關(guān)鍵字： NI  FPGA  WLAN  
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