首頁(yè)　 資訊　 商機(jī) 　 下載　 拆解 　 高校　 招聘 　 雜志　 會(huì)展　 EETV　 百科 　 問答　 電路圖　 工程師手冊(cè) 　 Datasheet　 100例 　 活動(dòng)中心　 E周刊閱讀 　 樣片申請(qǐng)
EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> ni labview+

虛擬儀器軟件

基于PXI模塊化儀器和LabVIEW軟件

  • 相比于早期手動(dòng)連接的臺(tái)式設(shè)備，通過使用NI PXI模塊化儀器和LabVIEW開發(fā)的二次監(jiān)視雷達(dá)(SSR)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，用戶可以節(jié)省90%的雷達(dá)測(cè)試時(shí)間。相比于其它基于傳統(tǒng)盒式儀器的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備，在有效節(jié)省時(shí)間的同時(shí)，此種
  • 關(guān)鍵字： LabVIEW  PXI  模塊化儀器  軟件    

NI將軟件設(shè)計(jì)的儀器用于電子測(cè)試

  • 美國(guó)國(guó)家儀器有限公司(National Instruments, 簡(jiǎn)稱NI)- NIWeek -　近日發(fā)布了數(shù)款基于NI　LabVIEW可重配置I/O(RIO)架構(gòu)的新產(chǎn)品，為用戶提供靈活性，幫助他們應(yīng)對(duì)現(xiàn)代自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的挑戰(zhàn)并降低總測(cè)試成本。
  • 關(guān)鍵字： NI  LabVIEW  FPGA  

NI week 2013：從GSD到Big Analog Data

  • 歷時(shí)四天的NI week 2013拉下了帷幕，筆者受邀與來自全球的3500多名工程師一起現(xiàn)場(chǎng)全程參與了此次盛會(huì)。近幾年，在國(guó)內(nèi)NI的重要活動(dòng)筆者幾乎無一遺漏的參與全程，而這次NI week則讓筆者重塑了對(duì)國(guó)家儀器這家公司的看法。
  • 關(guān)鍵字： NI  測(cè)試儀器  LabVIEW  201309  

LabVIEW新手5大錯(cuò)誤

  • 雖然NI LabVIEW軟件長(zhǎng)期以來一直幫助工程師和科學(xué)家們快速開發(fā)功能測(cè)量和控制應(yīng)用，但不是所有的新用戶都會(huì)遵循LabVIEW編程的最佳方法。 LabVIEW圖形化編程比較獨(dú)特，因?yàn)橹恍杩匆谎塾脩舻膽?yīng)用程序，就馬上可以發(fā)現(xiàn)用戶是否遵循編碼的最佳方法。
  • 關(guān)鍵字： NI  LabVIEW  數(shù)據(jù)流  子VI  程序框圖  

適用于每個(gè)LabVIEW開發(fā)者的巧妙調(diào)試技巧

  • 如果您經(jīng)常使用NI LabVIEW軟件，當(dāng)軟件不能按照預(yù)期的情況運(yùn)行時(shí)，您可能會(huì)有一個(gè)自己的調(diào)試技巧和技術(shù)工具箱。 這些技巧和技術(shù)有些是常用的，而剩下的可能是您自己摸索出來的。
  • 關(guān)鍵字： NI  LabVIEW  工具包  調(diào)試  

基于NI平臺(tái)的BMS電池管理系統(tǒng)HIL測(cè)試

  • “我們選擇NI軟硬件開發(fā)系統(tǒng)來縮短系統(tǒng)開發(fā)時(shí)間、保證系統(tǒng)可靠性、簡(jiǎn)化自動(dòng)化測(cè)試方案的實(shí)施以及維護(hù)和維修?！?/li>
  • 關(guān)鍵字： NI  BMS  HIL  LabVIEW  PXI  

NI 由內(nèi)而外重新設(shè)計(jì) CompactRIO

  • 美國(guó)國(guó)家儀器有限公司(National Instruments, 簡(jiǎn)稱NI)- NIWeek - 于近日發(fā)布全新的cRIO-9068軟件定制的控制器( software-designed controller )，它經(jīng)過完全的重新設(shè)計(jì)，但仍舊保持NI LabVIEW及I/O 與CompactRIO的完整兼容性。
  • 關(guān)鍵字： NI  CompactRIO  LabVIEW  嵌入式  

構(gòu)建以軟件為中心的下一代自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)

  • 測(cè)試管理人員和工程師們?yōu)榱吮ＷC交付到客戶手中的產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性，在各種應(yīng)用領(lǐng)域 (從設(shè)計(jì)驗(yàn)證，經(jīng)終端產(chǎn)品測(cè)試，到設(shè)備維修診斷) 都采用自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)。他們使用自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)執(zhí)行簡(jiǎn)單的“通過”或“失敗”測(cè)試，或者通過它執(zhí)行一整套的產(chǎn)品特性測(cè)試。
  • 關(guān)鍵字： NI  PXI  LabVIEW  測(cè)試系統(tǒng)  自動(dòng)化測(cè)試  

偉世通使用NI LabVIEW控制設(shè)計(jì)和仿真模塊簡(jiǎn)化汽車動(dòng)力總成控制

  • “在當(dāng)今應(yīng)用于汽車工業(yè)的軟件中，LabVIEW主要具有兩個(gè)主要優(yōu)勢(shì)：一個(gè)是其前面板，可以作為強(qiáng)大的用戶界面;另一個(gè)是其生動(dòng)的開發(fā)環(huán)境，可以避免底層語(yǔ)言編程?！?/li>
  • 關(guān)鍵字： NI  LabVIEW  發(fā)動(dòng)機(jī)  仿真模塊  TIVCT  

偉世通使用NI LabVIEW簡(jiǎn)化汽車動(dòng)力總成控制

  • “在當(dāng)今應(yīng)用于汽車工業(yè)的軟件中，LabVIEW主要具有兩個(gè)主要優(yōu)勢(shì)：一個(gè)是其前面板，可以作為強(qiáng)大的用戶界面;另一個(gè)是其生動(dòng)的開發(fā)環(huán)境，可以避免底層語(yǔ)言編程。”挑戰(zhàn)：對(duì)多個(gè)變量進(jìn)行仿真，驗(yàn)證復(fù)雜的汽車
  • 關(guān)鍵字： LabVIEW  汽車  動(dòng)力總成    

了解LabVIEW FPGA和軟件設(shè)計(jì)射頻儀器的優(yōu)勢(shì)所在

  • 無線設(shè)備的數(shù)量、通信標(biāo)準(zhǔn)的多樣性，以及調(diào)制方案的復(fù)雜度，每一年都在不斷增加。而隨著每一代新技術(shù)的誕生，由于使用傳統(tǒng)技術(shù)測(cè)試無線設(shè)備，需要大量更復(fù)雜的測(cè)試設(shè)備，其成本也在不斷提高。
  • 關(guān)鍵字： NI  LabVIEW  FPGA  射頻儀器  CPU  

PXI 和 LabVIEW 助您應(yīng)對(duì)下一代負(fù)載牽引測(cè)量速度挑戰(zhàn)

  • 在今年的國(guó)際微波研討會(huì)上，美國(guó)國(guó)家儀器有限公司(National Instruments, 簡(jiǎn)稱 NI)宣布與 Anteverta Microwave、Focus Microwaves、Maury Microwave 和 Mesuro 聯(lián)合開發(fā)負(fù)載牽引解決方案。
  • 關(guān)鍵字： NI  PXI  LabVIEW  

LabVIEW還是C語(yǔ)言？

  • “為什么LabVIEW優(yōu)于C語(yǔ)言?” 作為L(zhǎng)abVIEW產(chǎn)品經(jīng)理，我被很多次問到這個(gè)問題。
  • 關(guān)鍵字： NI  LabVIEW  C語(yǔ)言  編程  CPU  

當(dāng)移動(dòng)技術(shù)遇到LabVIEW

  • 2011年，Steve Jobs宣布“后PC時(shí)代”的到來。同年，智能手機(jī)和平板電腦的全球銷量超越了傳統(tǒng)的筆記本電腦和臺(tái)式電腦。盡管個(gè)人電腦不會(huì)因此被淘汰，但很明顯的是，移動(dòng)技術(shù)正在從根本上改變著我們獲取和使用信息的方式。
  • 關(guān)鍵字： NI  LabVIEW  數(shù)據(jù)儀表盤  智能手機(jī)  平板電腦  
共998條 14/67 |‹ « 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 » ›|

ni labview+介紹

您好，目前還沒有人創(chuàng)建詞條ni labview+!
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對(duì)ni labview+的理解，并與今后在此搜索ni labview+的朋友們分享。    創(chuàng)建詞條

熱門主題

樹莓派    linux   
關(guān)于我們 - 廣告服務(wù) - 企業(yè)會(huì)員服務(wù) - 網(wǎng)站地圖 - 聯(lián)系我們 - 征稿 - 友情鏈接 - 手機(jī)EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國(guó)際技術(shù)信息咨詢有限公司
備案 京ICP備12027778號(hào)-2 北京市公安局備案：1101082052    京公網(wǎng)安備11010802012473