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NAND flash和NOR flash的區(qū)別詳解
- 我們使用的智能手機(jī)除了有一個(gè)可用的空間(如蘋(píng)果8G、16G等),還有一個(gè)RAM容量,很多人都不是很清楚,為什么需要二個(gè)這樣的芯片做存儲(chǔ)呢,這就是我
- 關(guān)鍵字: NOR flash Nand flash FlaSh
嵌入式高速固態(tài)存儲(chǔ)器的組成原理與設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)
- 信息化時(shí)代的到來(lái),使得信息和數(shù)據(jù)成為推動(dòng)社會(huì)發(fā)展的主要因素,對(duì)于數(shù)據(jù)的處理提出了更高的要求。為了適應(yīng)時(shí)代發(fā)展的需求,現(xiàn)代數(shù)據(jù)信息處理
- 關(guān)鍵字: 固態(tài)存儲(chǔ)器 嵌入式 FPGA
DSP硬件設(shè)計(jì)需要知道的注意事項(xiàng)
- 數(shù)字信號(hào)處理芯片(DSP) 具有高性能的CPU(時(shí)鐘性能超過(guò)100MHZ)和高速先進(jìn)外圍設(shè)備,通過(guò)CMOS處理技術(shù),DSP芯片的功耗越來(lái)越低。這些巨大的進(jìn)步增加了DSP
- 關(guān)鍵字: 硬件設(shè)計(jì) FlaSh DSP
一種FPGA單粒子軟錯(cuò)誤檢測(cè)電路設(shè)計(jì)
- 摘要:分析了FPGA器件發(fā)生單粒子效應(yīng)的空間分布特性,設(shè)計(jì)并實(shí)現(xiàn)了一種面向FPGA單粒子軟錯(cuò)誤的檢測(cè)電路。將該電路放置在FPCA待檢測(cè)電路的附近,利
- 關(guān)鍵字: FPGA 空間分布特性 單粒子效應(yīng) 軟錯(cuò)誤 檢測(cè)電路
一種CORDIC協(xié)處理器核的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)
- 一種CORDIC協(xié)處理器核的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn), 隨著航天技術(shù)的發(fā)展,航天任務(wù)對(duì)于導(dǎo)航計(jì)算機(jī)的性能要求越來(lái)越高。導(dǎo)航計(jì)算機(jī)除了要對(duì)傳感器數(shù)據(jù)進(jìn)行采集,與控制系統(tǒng)進(jìn)行實(shí)時(shí)通訊,還要能進(jìn)行實(shí)時(shí)的計(jì)算。盡管目前航天任務(wù)中使用的處理器芯片性能越來(lái)越強(qiáng),但大多
- 關(guān)鍵字: FPGA IP核 CORDIC 協(xié)處理器
EDA環(huán)境銜接測(cè)量軟件 電子產(chǎn)品開(kāi)發(fā)周期大幅縮短
- 消費(fèi)性電子產(chǎn)品汰換周期越來(lái)越短,且功能復(fù)雜度不斷提高,使得系統(tǒng)研發(fā)人員面臨縮短產(chǎn)品開(kāi)發(fā)時(shí)間的嚴(yán)峻挑戰(zhàn)。所幸,現(xiàn)今自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)已開(kāi)始
- 關(guān)鍵字: 測(cè)試系統(tǒng) 微處理器 FPGA
嵌入式技術(shù)在特種工業(yè)縫紉機(jī)上的應(yīng)用
- 嵌入式技術(shù)在特種工業(yè)縫紉機(jī)上的應(yīng)用,摘要:為解決國(guó)外工業(yè)縫紉機(jī)控制系統(tǒng)價(jià)格昂貴,國(guó)內(nèi)用戶難以接受的現(xiàn)實(shí)問(wèn)題,通過(guò)基于ARM和FPGA的嵌入式技術(shù),完成了一款特種工業(yè)縫紉機(jī)的控制部分的技術(shù)方案,提出相關(guān)硬件模塊的設(shè)計(jì)和設(shè)計(jì)過(guò)程中應(yīng)該注意的問(wèn)題、軟
- 關(guān)鍵字: 工業(yè)縫紉機(jī) ARM FPGA 嵌入式技術(shù) 硬件設(shè)計(jì)
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