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開關(guān)電源電磁干擾的解決方案
- 開關(guān)電源電磁干擾的解決方案-近年來,開關(guān)電源以其效率高、體積小、輸出穩(wěn)定性好的優(yōu)點而迅速發(fā)展起來。但是,由于開關(guān)電源工作過程中的高頻率、高di/dt和高dv/dt使得電磁干擾問題非常突出,國內(nèi)已經(jīng)以新的3C認(rèn)證取代了CCIB和CCEE認(rèn)證,使得對開關(guān)電源在電磁兼容方面的要求更加詳細(xì)和嚴(yán)格。
- 關(guān)鍵字: 開關(guān)電源 電磁干擾 EMI
EMC十問十答,帶你了解電磁兼容的“前世今生”
- EMC十問十答,帶你了解電磁兼容的“前世今生”-電磁兼容性EMC,是指設(shè)備或系統(tǒng)在其電磁環(huán)境中符合要求運行并不對其環(huán)境中的任何設(shè)備產(chǎn)生無法忍受的電磁干擾的能力。以下是常見的電磁兼容EMC十問十答,通過下面的問答,能夠幫助你更加了解關(guān)于電磁兼容EMC的知識。
- 關(guān)鍵字: EMC
USB3.1連接器改善EMI/RFI問題傳輸率達(dá)10Gbit/s
- USB3.1連接器改善EMI/RFI問題傳輸率達(dá)10Gbit/s-USB 3.1連接器傳輸品質(zhì)將大幅提升。USB 3.1連接器不僅改善電磁與射頻干擾(EMI/RFI)問題,亦與先前連接器相容,將有助原始設(shè)備制造商減少金屬隔離片使用數(shù)量,降低筆電與個人電腦主機板的物料清單成本。
- 關(guān)鍵字: EMI 連接器 USB技術(shù)
車用MCU的抗EMI設(shè)計與測試方案
- 車用MCU的抗EMI設(shè)計與測試方案-集成電路電磁兼容不僅涉及集成電路電磁干擾與抗擾度的設(shè)計和測試方法,而且有必要與集成電路的應(yīng)用相結(jié)合。針對汽車電子領(lǐng)域來講,將對整車級、零部件級的電磁兼容要求強制性標(biāo)準(zhǔn),結(jié)合到集成電路的設(shè)計中,才能使電路更易于設(shè)計出符合標(biāo)準(zhǔn)的最終產(chǎn)品。作為電子控制系統(tǒng)里面最為關(guān)鍵的單元——微控制器(MCU),其EMC性能的好壞直接影響各個模塊與系統(tǒng)的控制功能。
- 關(guān)鍵字: 汽車電子 MCU EMI
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