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ADC／DAC精度計算器教程

精度計算器（ACCU）有助于數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器應(yīng)用電路的設(shè)計和分析。它計算理想數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器的直流精度。該程序適用于HP? 50g計算器或免費的PC模擬器。精度計算器（ACCU）有助于數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器應(yīng)用電路的設(shè)計和分析。它計算理想數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器的直流精度。該程序適用于HP? 50g計算器或免費的PC模擬器。介紹Steve Edwards是一位經(jīng)驗豐富的模擬設(shè)計工程師，他編寫了幾個計算器來自動執(zhí)行重復(fù)性任務(wù)。這些工具正在共享，以幫助其他模擬設(shè)計工程師選擇、指定和表征模擬電路。我們將總結(jié)一個這樣的工具的功能，即精度計算器。精度計
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采用創(chuàng)新數(shù)字預(yù)失真技術(shù)進行ADC和音頻測試的高性能信號源

摘要要測試精密儀器儀表，需要使用超低失真、低噪聲、高性能的信號發(fā)生器。新的產(chǎn)品通常需要保證性能指標在較高的水平。有些參考設(shè)計（例如ADMX1002）利用高性能精密數(shù)模轉(zhuǎn)換器(DAC)簡化了這一任務(wù)，這些轉(zhuǎn)換器具有出色的精度和分辨率水平。1此外，加入一種創(chuàng)新數(shù)字預(yù)失真算法可以進一步增強測試信號的保真度，從而以低成本的小尺寸實現(xiàn)出色的低失真信號。簡介隨著精密模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)和高保真音頻設(shè)備（CODEC、MEMS麥克風等）不斷發(fā)展，越來越需要在自動化測試設(shè)備(ATE)中生成高性能的音頻和任意信號。要描述、驗
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如何利用傳感器和ADC的比率特性來提高精度

大多數(shù)傳感器本質(zhì)上都是模擬的，因此必須數(shù)字化后才可用于當前的電子系統(tǒng)中。這篇應(yīng)用筆記的內(nèi)容涵蓋了比率傳感器的基本原理及其與模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)的配合使用。尤其是，本文還將說明如何利用傳感器和ADC的比率特性來提高精度，同時減少元件數(shù)目，降低成本，節(jié)省電路板空間。大多數(shù)傳感器本質(zhì)上都是模擬的，因此必須數(shù)字化后才可用于當前的電子系統(tǒng)中。這篇應(yīng)用筆記的內(nèi)容涵蓋了比率傳感器的基本原理及其與模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)的配合使用。尤其是，本文還將說明如何利用傳感器和ADC的比率特性來提高精度，同時減少元件數(shù)目，降低成本，節(jié)
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FPGA與ADC數(shù)字數(shù)據(jù)輸出的接口

現(xiàn)場可編程門陣列(FPGA)與模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)輸出的接口是一項常見的工程設(shè)計挑戰(zhàn)。本文簡要介紹各種接口協(xié)議和標準，并提供有關(guān)在高速數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器實現(xiàn)方案中使用LVDS的應(yīng)用訣竅和技巧。接口方式和標準現(xiàn)場可編程門陣列(FPGA)與模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)數(shù)字數(shù)據(jù)輸出的接口是一項常見的工程設(shè)計挑戰(zhàn)。此外，ADC使用多種多樣的數(shù)字數(shù)據(jù)樣式和標準，使這項挑戰(zhàn)更加復(fù)雜。對于通常在200 MHz以下的低速數(shù)據(jù)接口，單倍數(shù)據(jù)速率(SDR) CMOS非常普遍：發(fā)送器在一個時鐘沿傳送數(shù)據(jù)，接收器在另一個時鐘沿接收數(shù)據(jù)。這種方式
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基于熱敏電阻的溫度檢測系統(tǒng)的優(yōu)化與評估

正如本系列文章《基于熱敏電阻的溫度測量系統(tǒng)的設(shè)計挑戰(zhàn)和電路配置》所討論的，設(shè)計和優(yōu)化基于熱敏電阻的應(yīng)用解決方案涉及到不同挑戰(zhàn)。這些挑戰(zhàn)包括上一篇文章中討論過的傳感器選擇和電路配置，其他挑戰(zhàn)有測量優(yōu)化——包括ADC配置和選擇外部元件，同時確保ADC在規(guī)格范圍內(nèi)運行以及系統(tǒng)優(yōu)化，從而實現(xiàn)目標性能并確定與ADC和整個系統(tǒng)相關(guān)的誤差源。熱敏電阻系統(tǒng)優(yōu)化通過熱敏電阻配置器和誤差預(yù)算計算器等易于使用的工具，客戶可以輕松配置系統(tǒng)中的熱敏電阻，包括接線和連接圖。該工具以比率式配置設(shè)計具有激勵電壓的熱敏電阻系統(tǒng)。它還允許客
關(guān)鍵字：熱敏電阻 ADC 數(shù)字濾波器嵌入式診斷

改善你的ADC SNR性能指標，試試這款濾波器！

獲得ADC的最佳SNR性能并不僅僅是給ADC輸入提供低噪聲信號的問題，提供一個低噪聲基準電壓是同等重要。雖然基準噪聲在零標度沒有影響，但是在全標度，基準上的任何噪聲在輸出代碼中都將是可見的。對于某個給定的ADC，在零標度測量的動態(tài)范圍(DR)之所以通常比在全標度或接近全標度測量的信噪比(SNR)高出幾個dB，原因即在于此。在ADC的SNR有可能超過140dB的過采樣應(yīng)用中，提供一個低噪聲基準電壓是特別重要。如欲實現(xiàn)這種水平的SNR，即使是最好的低噪聲基準也需要一些幫助以降低其噪聲電平。能夠降低基準噪聲的替
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什么是A/D轉(zhuǎn)換器（ADC）

1、概述　　D/A轉(zhuǎn)換器（Digital to Analog Converter）——能把數(shù)字量轉(zhuǎn)換為模擬量的電子器件（簡稱為DAC）?！　/D轉(zhuǎn)換器（Analog to Digital Converter）——能把模擬量轉(zhuǎn)換成相應(yīng)數(shù)字量的電子器件（簡稱為ADC）。　　A/D轉(zhuǎn)換器把模擬量轉(zhuǎn)換成數(shù)字量，以便于單片機進行數(shù)據(jù)處理。A/D轉(zhuǎn)換一般要經(jīng)過采樣、保持、量化及編碼4個過程。在實際電路中，有些過程是合并進行的，如采樣和保持，量化和編碼在轉(zhuǎn)換過程中是同時實現(xiàn)的?！　∧壳皢纹腁DC芯片較多，對設(shè)計者來
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Teledyne e2v 就 “了解ADX4 IP可在任何輸入頻率和溫度下提高ADC的射頻性能” 發(fā)布演示視頻

本視頻教程闡述了如何創(chuàng)建一個Vivado工程，以及如何基于VHDL設(shè)計案例和EV12AQ600-ADX-EVM演示板，在Kintex Ultrascale FPGA上實現(xiàn)ADX4 IP。本教程還介紹了加載FPGA比特流、使用Vivado檢索ADX4 IP處理的采樣數(shù)據(jù)以及使用Python圖形用戶界面(GUI)分析SFDR性能的所有步驟。?更多信息，請點擊下面的鏈接：視頻：https://v.qq.com/x/page/x33447iyn93.htmlADX4 IP Teledyne SP Dev
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Teledyne e2v：通過雜散抑制IP，立即將寬帶ADC的動態(tài)性能提高約10 dBFS

● 新的EV12AQ600/605-ADX4器件選項具有集成的ADX4許可證密鑰，可提高高達6.4 GS/s（單通道模式）的峰值運行時的動態(tài)性能。● ADX4 - 與Xilinx Kintex? Ultrascale? FPGA兼容的后處理算法可在寬帶應(yīng)用中提供高達10 dBFS的SFDR動態(tài)雜散抑制和接近1個有效位的額外分辨率?！?nbsp;時間交錯雖然提供了概念上易于理解的采樣率提升，但在擴展分辨率和寬帶寬下很難實現(xiàn)。為EV12AQ600/5提供即時、無需設(shè)計
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Teledyne e2v：通過雜散抑制IP，立即將寬帶ADC的動態(tài)性能提高約10 dBFS

新的EV12AQ600/605-ADX4器件選項具有集成的ADX4許可證密鑰，可提高高達6.4 GS/s（單通道模式）的峰值運行時的動態(tài)性能。ADX4 - 與Xilinx Kintex? Ultrascale? FPGA兼容的后處理算法可在寬帶應(yīng)用中提供高達10 dBFS的SFDR動態(tài)雜散抑制和接近1個有效位的額外分辨率。時間交錯雖然提供了概念上易于理解的采樣率提升，但在擴展分辨率和寬帶寬下很難實現(xiàn)。為EV12AQ600/5提供即時、無需設(shè)計的動態(tài)性能增強 Teledyne
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燦芯半導體推出高精度16位SAR ADC

一站式定制芯片及IP供應(yīng)商——燦芯半導體日前宣布推出高精度16位逐次逼近型（16bit SAR）ADC。該IP首個測試芯片基于中芯國際55nm工藝流片成功，現(xiàn)已完成EVB測試，可提供給客戶進行評估。該IP采樣率為1MHz, ENOB（有效位）可達14bit，通常情況下其DNL（微分線性誤差）介于-0.4LSB至0.47LSB之間，INL（積分線性誤差）居于-1.8LSB至2.2LSB之間，其典型功耗是4.25mA，性能指標處于國內(nèi)領(lǐng)先水平。燦芯半導體深耕高精度12/14/16 bit SAR
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ADI新型Easy Drive SAR ADC 簡化設(shè)計并提供領(lǐng)先性能

亞德諾半導體（Analog Devices，ADI）推出新一代16至24位超高精度逐次漸近緩存器（SAR）模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器（ADC）系列產(chǎn)品，可簡化在儀器儀表、工業(yè)和醫(yī)療健康應(yīng)用領(lǐng)域中復(fù)雜的ADC設(shè)計。新型高性能SAR ADC系列采用ADI專利的Easy Drive技術(shù)和通用Flexi-SPI串行周邊接口（SPI），可因應(yīng)系統(tǒng)設(shè)計挑戰(zhàn)并擴大直接兼容的配套產(chǎn)品選擇范圍。ADI的Easy Drive技術(shù)在保持組件性能的同時亦克服傳統(tǒng)系統(tǒng)級設(shè)計挑戰(zhàn)，例如嚴格的布局指南及數(shù)字接口時序要求，以及復(fù)雜的配套產(chǎn)品選擇。通
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優(yōu)化邊緣節(jié)點設(shè)計，加速人工智能應(yīng)用落地

工業(yè)物聯(lián)網(wǎng)(IoT) 正在醞釀廣泛的轉(zhuǎn)變，這種轉(zhuǎn)變不僅將使互聯(lián)機器間的相互檢測成為一種競爭優(yōu)勢，還將使其成為必不可少的基本服務(wù)。工業(yè)物聯(lián)網(wǎng)以邊緣節(jié)點為起始點，后者是檢測和測量的目標切入點。這是物理世界與計算數(shù)據(jù)分析進行交互的接口所在?；ヂ?lián)的工業(yè)機器可檢測大量的信息，進而用于制定關(guān)鍵決策。這種邊緣傳感器可能遠離存儲歷史分析的云服務(wù)器。它必須通過將邊緣數(shù)據(jù)聚合到互聯(lián)網(wǎng)的網(wǎng)關(guān)進行連接。理想情況下，邊緣傳感器節(jié)點具有很小的規(guī)格尺寸，可在空間受限的環(huán)境中輕松進行部署。解決邊緣節(jié)點的檢測、測量、解讀與連接挑戰(zhàn)數(shù)據(jù)可以
關(guān)鍵字： 202204 ADC 模擬信號鏈 OtoSense MEMS加速度計

Teledyne e2v半導體公司將EV12AQ600 ADC添加到其經(jīng)MIL-PRF-38535 Y級太空應(yīng)用認證的高性能數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器產(chǎn)品組合中

領(lǐng)先的高可靠度半導體解決方案提供商Teledyne e2v近日宣布推出經(jīng)太空認證的EV12AQ600，這是其擁有QML-Y太空認證的高性能產(chǎn)品組合中最先進、最通用的四核多通道ADC。QML Y認證由美國航空航天局領(lǐng)導的工作組定義，并在最新版本的DLA MIL-PRF-38535的中正式發(fā)布。傳統(tǒng)的QML V認證僅與傳統(tǒng)的密封裝配工藝。新一代裝配技術(shù)（如陶瓷上的倒裝芯片）兼容，后續(xù)的制造、篩選和鑒定流程沒有考慮在內(nèi)。可靠性對于進入太空的產(chǎn)品至關(guān)重要，QML Y使得宇航系統(tǒng)制造商可以從這些最新技術(shù)中受益，同時
關(guān)鍵字： Teledyne e2v EV12AQ600 ADC 數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器