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惠瑞捷推出零空間占用的低成本測(cè)試系統(tǒng)V101

  • 　　半導(dǎo)體測(cè)試公司惠瑞捷半導(dǎo)體科技有限公司日前針對(duì)晶圓測(cè)試和集成電路、微控制器的成品測(cè)試推出了一款新型測(cè)試系統(tǒng)V101。V101滿足了這些芯片的超低成本要求，以及緩解了日益增長(zhǎng)的上市時(shí)間壓力。 　　V101測(cè)試系統(tǒng)將于2009年7月14日-16日在美國(guó)加利福尼亞州舊金山市莫斯克尼會(huì)議中心舉行的SEMICON WEST展覽會(huì)上展出。 　　惠瑞捷副總裁暨ASTS事業(yè)部總經(jīng)理魏津博士表示：“V101首次讓惠瑞捷成熟的測(cè)試技術(shù)專業(yè)知識(shí)惠及這一細(xì)分市場(chǎng)。這一成本敏感型市場(chǎng)要求測(cè)試方案以最低的測(cè)試成本
  • 關(guān)鍵字： 惠瑞捷  集成電路  晶圓測(cè)試  微控制器  測(cè)試系統(tǒng)  V101  
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v101介紹

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