首頁　 資訊　 商機(jī) 　 下載　 拆解 　 高校　 招聘 　 雜志　 會展　 EETV　 百科 　 問答　 電路圖　 工程師手冊 　 Datasheet　 100例 　 活動中心　 E周刊閱讀 　 樣片申請
EEPW首頁 >> 主題列表 >> td-lte終端

【系統(tǒng)解析】LTE測試的難點

  • 【系統(tǒng)解析】LTE測試的難點-測試技術(shù)是LTE發(fā)展產(chǎn)業(yè)鏈上十分關(guān)鍵的一環(huán)，面對LTE產(chǎn)業(yè)多模多頻的終端發(fā)展方向以及移動互聯(lián)網(wǎng)時代復(fù)雜的網(wǎng)絡(luò)環(huán)境，LTE測試還有哪些測試難點待解？
  • 關(guān)鍵字： TD-LTE終端  MIMO系統(tǒng)  LTE產(chǎn)業(yè)  LTE測試  
共1條 1/1 1

td-lte終端介紹

您好，目前還沒有人創(chuàng)建詞條td-lte終端!
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對td-lte終端的理解，并與今后在此搜索td-lte終端的朋友們分享。    創(chuàng)建詞條

熱門主題

樹莓派    linux   
關(guān)于我們 - 廣告服務(wù) - 企業(yè)會員服務(wù) - 網(wǎng)站地圖 - 聯(lián)系我們 - 征稿 - 友情鏈接 - 手機(jī)EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢有限公司
備案 京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052    京公網(wǎng)安備11010802012473